Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la textura de la fibra y el ancho de medio pico.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala y un instrumento de rayos X que se utiliza para estudiar la microestructura interna de los materiales. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El difractómetro monocristal de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro monocristal de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de rayos X de cristal único es un producto de alta tecnología en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales del Ministerio de Ciencia y Tecnología, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de rayos X de cristal único en China.

El difractómetro de rayos X de polvo se utiliza principalmente para el análisis cuantitativo y cualitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un difractómetro de rayos X multifuncional y de alto rendimiento fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Las principales características son detectores de alto rendimiento, diversos métodos de escaneo, operación conveniente y segura, rendimiento estable y confiable. Para obtener detalles específicos, consulte el sitio web de Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

El irradiador de rayos X puede generar rayos X de alta energía para irradiar células o animales pequeños. Se utiliza para diversas investigaciones básicas y aplicadas. A lo largo de la historia, se han utilizado irradiadores de isótopos radiactivos, que requieren transportar muestras a una instalación de irradiación central. Hoy en día, se pueden instalar equipos de irradiación de rayos X más pequeños, seguros, simples y de menor costo en los laboratorios para una irradiación de células conveniente y rápida.

El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

La difracción de rayos X (DRX) permite una cuantificación precisa de la fase TiO2, crucial para la calidad del producto. Los difractómetros de la serie TD de Dandong Tongda, con programas especializados, garantizan un análisis preciso de rutilo/anatasa (<0.2% error).

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 ofrece una potencia de 1200 W en un diseño compacto, superando los estándares internacionales de 600 W. Con una linealidad de ±0,01° y una repetibilidad de 0,0001°, permite un análisis de fase preciso para la investigación de materiales y el control de calidad industrial. Su sistema de refrigeración integrado y la compatibilidad global de accesorios lo convierten en una solución ideal y rentable para laboratorios internacionales.

El analizador de cristales por rayos X de la serie TDF ofrece un rendimiento excepcional en el análisis de microestructuras, permitiendo la orientación de monocristales, la detección de defectos y la medición de tensiones. Con un diseño de tubo vertical, operación multiventana y control PLC importado, garantiza alta precisión y cumplimiento de las normas de seguridad (radiación).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es líder en el sector, centrada en la I+D y la innovación en tecnologías clave como el análisis de difracción. Mediante colaboraciones con instituciones académicas, desarrolla productos de alta eficiencia con propiedad intelectual propia, rompiendo monopolios internacionales. La empresa fundamenta su marca en la integridad y la profesionalidad, adhiriéndose al lema «La excelencia marca la pauta, la integridad construye la marca» para potenciar su competitividad y contribuir al desarrollo de la industria de instrumentos científicos en China.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 ofrece un rendimiento analítico excepcional gracias a su innovadora tecnología de detectores y sus modos de escaneo duales. Con una rápida adquisición de datos, un funcionamiento sencillo y una seguridad mejorada, permite un análisis preciso de materiales en aplicaciones de investigación e industriales, estableciendo nuevos estándares para los instrumentos científicos chinos.