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Difracción de rayos X TDM-20, la clave del mundo microscópico

2025-08-18 08:50

El difractómetro de rayos X TDM-20La difracción de rayos X (DRX) de sobremesa se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y sustancias pastosas. Basado en el principio de difracción de rayos X, permite el análisis cualitativo y cuantitativo, así como el análisis de la estructura cristalina, de materiales policristalinos como muestras en polvo y metálicas. Se aplica ampliamente en industrias como la agricultura, la defensa nacional, la farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la educación/investigación.


Principio fundamental: difracción de rayos X, la clave del mundo microscópico
El difractómetro de rayos X TDM-20 funciona según el principio de difracción de rayos X. Cuando los rayos X iluminan una muestra, interactúan con los átomos de la misma y difractan. Las diferentes estructuras cristalinas producen patrones de difracción únicos, similares a las huellas dactilares individuales. Al analizar estos patrones, el instrumento revela con precisión información clave sobre la estructura cristalina de la muestra, la composición de las fases y más, desvelando los secretos ocultos a nivel microscópico.


Avance en el rendimiento
El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) supera el estándar internacional anterior de 600 W, tras una actualización integral a 1600 W. El instrumento se caracteriza por su fácil manejo, rendimiento estable y bajo consumo energético. Puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alta velocidad, lo que supone un avance significativo en el rendimiento general.


Características del dispositivo

  • Tamaño compacto y diseño ligero.

  • Diseño de fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje para un menor consumo general de energía

  • Admite calibración y prueba rápida de muestras

  • Control de circuito simplificado para una fácil depuración e instalación

  • La precisión lineal del ángulo de difracción de espectro completo alcanza ±0,01°

 

Accesorios ricos
El TDM-20 se puede combinar con varios accesorios, incluido un detector de matriz 1D, un detector proporcional, un cambiador de muestras automático de 6 posiciones, una platina de muestra giratoria, entre otros.

 

Conclusión
El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) Con su excelente rendimiento, facilidad de uso y amplia gama de aplicaciones, se ha convertido en una herramienta indispensable en numerosas industrias y campos de investigación. Actúa como un auténtico detective del mundo microscópico, ayudándonos a desentrañar los misterios de la estructura de los materiales e impulsando el progreso en diversos ámbitos. Si usted también busca profundizar en los secretos microscópicos de la materia, considere el TDM-20 para embarcarse en un viaje de investigación y producción precisas y eficientes.


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