En los campos de la ciencia de los materiales y la inspección industrial, el análisis de difracción de rayos X altamente eficiente y preciso siempre ha sido un soporte fundamental para los avances científicos y el control de calidad.El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700redefine los límites de rendimiento de los equipos de difracción con múltiples tecnologías innovadoras, proporcionando una solución eficiente sin precedentes para la investigación académica, la I+D corporativa y las aplicaciones de control de calidad.

La sinergia de múltiples detectores marca el comienzo de una nueva era de análisis de alta velocidad
La serie TD-3700 supera las limitaciones de los detectores tradicionales al ofrecer diversas opciones, incluyendo detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD. En comparación con los detectores de centelleo o proporcionales convencionales, multiplica por diez la intensidad de la señal de difracción, capturando patrones de difracción de alta sensibilidad y resolución en ciclos de muestreo extremadamente cortos y mejorando significativamente la eficiencia de la generación de datos. Junto con la tecnología híbrida de conteo de fotones, los detectores funcionan sin ruido, suprimen eficazmente el fondo de fluorescencia y demuestran una excelente resolución energética y relación señal-ruido, lo que los hace especialmente adecuados para analizar muestras complejas y trazas.

Los modos duales de difracción/transmisión amplían los límites de la aplicación
El instrumento no solo admite el escaneo por difracción convencional, sino que también introduce de forma innovadora un modo de transmisión. Este modo ofrece una resolución significativamente mayor que el modo de difracción, lo que lo hace especialmente adecuado para aplicaciones de alta gama como el análisis de la estructura cristalina y la investigación de nanomateriales. Por otro lado, el modo de difracción, con su altísima estabilidad de señal, es ideal para la identificación rutinaria de fases. Otra gran ventaja del modo de transmisión es su compatibilidad con el análisis de muestras traza, lo que facilita enormemente la preparación de muestras y la disponibilidad limitada de las mismas. Esto abre nuevas posibilidades para el desarrollo farmacéutico, el análisis geológico, la identificación del patrimonio cultural y otros campos.

Diseño modular e inteligente para una plataforma experimental confiable y fácil de usar

El TD-3700 adopta un diseño de hardware modular donde todos los componentes son fáciles de conectar y usar sin necesidad de calibración, lo que reduce significativamente los costos de mantenimiento y la tasa de fallos. Su sistema de adquisición con un solo clic y su software personalizado mejoran enormemente la comodidad operativa, permitiendo que incluso los usuarios no especializados puedan comenzar a usarlo rápidamente. Una interfaz táctil permite monitorear el estado del instrumento en tiempo real, mostrando el progreso experimental de un vistazo.

La seguridad también es absoluta: un dispositivo electrónico de bloqueo de puerta ofrece doble protección, mientras que un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje garantiza un rendimiento estable y fiable. En combinación con una unidad de control antiinterferencias, mantiene la fiabilidad operativa a largo plazo y garantiza la seguridad del usuario.

Nacido para la era: un referente en tecnología de difracción con visión de futuro
El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700 integra análisis rápido, operación inteligente y seguridad integral. No solo hereda la estabilidad de la serie TD-3500, sino que también logra avances en tecnología de detectores, flexibilidad de aplicación e integración de sistemas. Su desarrollo satisface ampliamente las necesidades de los laboratorios modernos de análisis de muestras de alto rendimiento, alta precisión y diversidad, lo que lo convierte en una herramienta indispensable para la caracterización de materiales, el análisis químico, la investigación farmacéutica y la investigación académica.