El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. El principio básico del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es que cuando la energía de los rayos X resuena con la energía de una capa electrónica interna de un elemento en la muestra, se excita un aumento repentino de electrones para formar un espectro continuo, que se llama el borde de absorción. Cerca del borde de absorción, a medida que aumenta la energía de los rayos X, la tasa de absorción disminuye monótonamente a medida que aumenta la profundidad de penetración de los rayos X. Cuando el espectro se extiende más allá de un borde específico, se pueden observar estructuras finas, donde las regiones de absorción de rayos X cerca del borde (XANES) aparecen tan pronto como los picos y hombros con un ancho superior a 20 a 30 electronvoltios pasan por el punto de inicio del borde. La estructura fina ubicada en el lado de alta energía del borde donde la energía decae a varios cientos de electronvoltios se llama Estructura Fina de Absorción de Rayos X (XAFS). Las principales características del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) son: Sensibilidad al ordenamiento de corto alcance: Depende del ordenamiento de corto alcance y no del de largo alcance, lo que permite medir una amplia gama de muestras. Puede utilizarse para materiales amorfos, líquidos, fundidos, centros activos de catalizadores, proteínas metálicas, etc., así como para estudios estructurales de átomos de impurezas en cristales. Fuertes características elementales: el borde de absorción de rayos X tiene características elementales y, para los átomos de diferentes elementos en la muestra, se puede estudiar la estructura atómica vecina de diferentes elementos en el mismo compuesto ajustando la energía de rayos X incidente. Alta sensibilidad: el método de fluorescencia se puede utilizar para medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Adquisición integral de información estructural: capaz de proporcionar parámetros que determinan la estructura local, como la distancia entre los átomos absorbentes y los átomos vecinos, el número y tipo de estos átomos y el estado de oxidación de los elementos absorbentes. La preparación de la muestra es sencilla: no se requiere un solo cristal y, en las condiciones experimentales, el tiempo de recolección de datos es relativamente corto. Con una fuente de rayos X de sincrotrón, la medición de una línea espectral suele tardar solo unos minutos. Las principales ventajas del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) son: Ventaja principal: producto con el mayor flujo luminoso Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; Obtenga una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: El alto flujo luminoso, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es >1%. 4. Áreas de aplicación del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): Campo energético: como la investigación sobre baterías de litio y otros materiales de baterías secundarias, la investigación de celdas de combustible, la investigación de materiales de almacenamiento de hidrógeno, etc. XAFS se puede utilizar para obtener la concentración, el estado de valencia, el entorno de coordinación y los cambios dinámicos de los átomos centrales durante los ciclos de descarga de carga y las reacciones electroquímicas. Campo de catálisis: se utiliza para investigaciones en catálisis de nanopartículas, catálisis de un solo átomo, etc. Obtener la morfología del catalizador sobre el soporte, la forma de interacción con el soporte y sus cambios durante el proceso catalítico a través de XAFS, así como las estructuras vecinas de iones metálicos con contenido extremadamente bajo. En el campo de la ciencia de los materiales, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se utiliza para la caracterización de diversos materiales, el estudio de sistemas complejos y materiales estructurales desordenados, la investigación de isótopos radiactivos, el estudio de propiedades relacionadas con materiales de superficie e interfaz y el estudio de cambios dinámicos en materiales. En el campo de la geología, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de los elementos de los materiales minerales en la investigación geológica. Campo ambiental: XES se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de elementos Cr/As, etc. En el campo de la radioquímica, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de elementos Ce, U, etc. El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) desempeña un papel fundamental en la investigación científica moderna gracias a su singular principio de funcionamiento, sus importantes características y sus amplios campos de aplicación. Proporciona un medio eficaz para profundizar en la comprensión de la microestructura y el estado químico de la materia, impulsando el desarrollo y el progreso de múltiples disciplinas.

El propósito principal de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT es inspeccionar la calidad del procesamiento y soldadura de materiales y componentes tales como cascos de barcos, tuberías, recipientes de alta presión, calderas, aeronaves, vehículos y puentes en sectores industriales como la defensa nacional, la construcción naval, el petróleo, la química, la mecánica, la industria aeroespacial y la construcción, así como los defectos internos y la calidad inherente de varios metales ligeros, caucho, cerámica, etc. Principio y aplicación de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT: Las máquinas portátiles de ensayos de soldadura por rayos X para END utilizan las propiedades acústicas, ópticas, magnéticas y eléctricas de los materiales para detectar la presencia de defectos o irregularidades en el objeto analizado, sin dañar ni afectar su rendimiento. Proporcionan información como el tamaño, la ubicación, la naturaleza y la cantidad de los defectos. En comparación con los ensayos destructivos, presentan las siguientes características: la primera es no destructiva, ya que no compromete el rendimiento del objeto detectado durante la prueba; la segunda es exhaustiva, ya que la detección no es destructiva, lo que requiere una detección 100% completa del objeto analizado, lo cual no se puede lograr mediante la detección destructiva; la tercera es exhaustiva, y los ensayos destructivos generalmente solo se aplican a las pruebas de materias primas, como las de tracción, compresión, flexión, etc., comúnmente utilizadas en la ingeniería mecánica. Los ensayos destructivos se realizan en materias primas de fabricación, mientras que en el caso de productos terminados y artículos en uso, no se pueden realizar a menos que no se vayan a utilizar. Por otro lado, no perjudican el rendimiento del objeto analizado. Por lo tanto, no solo puede realizar pruebas de proceso completo en materias primas de fabricación, procesos intermedios e incluso productos finales, sino también probar equipos en servicio. Características de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT: El generador de rayos X tiene un volumen pequeño, con un ánodo conectado a tierra y refrigeración forzada mediante un ventilador; ◆ Ligero, fácil de transportar y sencillo de operar; Trabajar y descansar en proporción 1:1; Hermosa apariencia y estructura razonable; ◆ Exposición retardada para garantizar la seguridad del operador; Rango de inspección visual de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT 1. Inspección de defectos superficiales en las soldaduras. Verifique la calidad de la soldadura, como grietas superficiales, penetración incompleta y fugas en la costura. 2. Comprobación del estado. Compruebe si hay grietas superficiales, desprendimientos, tirones, arañazos, abolladuras, protuberancias, manchas, corrosión u otros defectos. 3. Inspección de la cavidad interna. Cuando ciertos productos (como bombas de engranajes sinfín, motores, etc.) estén en funcionamiento, realice pruebas endoscópicas según los requisitos técnicos especificados. 4. Inspección del ensamblaje. Cuando existan requisitos y necesidades, utilice el mismo videoendoscopio industrial 3D para inspeccionar la calidad del ensamblaje. Tras completar el ensamblaje o un proceso específico, verifique cada componente. Compruebe si la posición de ensamblaje de los componentes cumple con los requisitos de los planos o las especificaciones técnicas y si existe algún defecto de ensamblaje. 5. Inspección de exceso de artículos. Compruebe si hay residuos, objetos extraños u otros residuos dentro de la cavidad del producto.

El irradiador de rayos X WBK-01 genera rayos X de alta energía para irradiar células o animales pequeños. Este irradiador se utiliza en diversas investigaciones básicas y aplicadas. Históricamente, se han utilizado irradiadores de isótopos radiactivos, que requieren el transporte de muestras a una instalación central de irradiación. Hoy en día, se pueden instalar en laboratorios irradiadores de rayos X más pequeños, seguros, sencillos y económicos para una irradiación celular rápida y cómoda. Diversas muestras se pueden irradiar directamente en el laboratorio sin afectar la fertilidad ni la seguridad. El irradiador de rayos X es fácil de usar para personal sin formación profesional en rayos X, y no requiere la solicitud de licencias costosas ni costos de seguridad o mantenimiento de la fuente de radiación. Este dispositivo es fácil de operar, seguro, fiable y económico, y puede sustituir a las fuentes de isótopos radiactivos. 1. Principio del irradiador de rayos X: El tubo de rayos X del irradiador genera electrones de alta energía, que producen rayos X al colisionar con el material objetivo (generalmente tungsteno). Los electrones se aceleran mediante un campo eléctrico de alto voltaje para obtener la energía suficiente para generar la longitud de onda e intensidad de rayos X requeridas. Posteriormente, los rayos X se ajustan y optimizan mediante una serie de colimadores, filtros y otros dispositivos, y finalmente se irradian sobre la muestra. Los componentes principales de un irradiador de rayos X son: El irradiador de rayos X incluye principalmente tubos de rayos X, generadores de alto voltaje, circuitos de control, sistemas de refrigeración, dispositivos de protección y salas de muestras. Entre ellos, el tubo de rayos X es el componente principal responsable de la generación de rayos X; el generador de alto voltaje proporciona el alto voltaje y la corriente necesarios para el tubo de rayos X; el circuito de control se utiliza para controlar parámetros como la generación, la intensidad y el tiempo de irradiación de los rayos X; el sistema de refrigeración garantiza que el equipo no sufra daños por sobrecalentamiento durante el funcionamiento; y el dispositivo de protección garantiza la seguridad de los operadores y del entorno de uso. 3. Áreas de aplicación del irradiador de rayos X: El irradiador de rayos X se puede utilizar en el campo de la biología: se puede utilizar para el cultivo celular y la investigación de inhibición de la división, inducción de cambios genéticos, investigación de células madre, irradiación de animales pequeños, investigación de células de tuberculosis, investigación de células sanguíneas, irradiación de trasplantes de médula ósea, inmunidad de trasplantes, terapia inmunosupresora, investigación de sensibilidad a la radiación, investigación de daños en el ADN, etc. El irradiador de rayos X se puede utilizar en el campo médico: en el tratamiento de tumores, se puede utilizar para irradiar localmente el sitio del tumor, matar células cancerosas o inhibir su crecimiento; el irradiador de rayos X también se puede utilizar como un diagnóstico auxiliar para ciertas enfermedades, como ayudar a determinar la condición al observar los cambios de imagen de los tejidos y órganos a través de rayos X. El irradiador de rayos X se puede utilizar en la industria alimentaria: se puede utilizar para la conservación de alimentos por irradiación, matando microorganismos en los alimentos mediante la irradiación de rayos X, inhibiendo la actividad enzimática, extendiendo así la vida útil de los alimentos manteniendo su sabor y contenido nutricional originales. El irradiador de rayos X se puede utilizar en el campo industrial: se puede utilizar para probar y modificar el rendimiento del material, como el tratamiento de reticulación de materiales poliméricos para mejorar su resistencia y estabilidad; también se puede utilizar para pruebas no destructivas para detectar defectos y grietas dentro de los materiales. En resumen, el irradiador de rayos X es un dispositivo científico e industrial importante con amplias perspectivas de aplicación y valor.

El orientador de cristales por rayos X es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos cristalinos. Utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser y cristales semiconductores) y está equipado con una máquina de corte para el corte direccional de dichos cristales. El orientador de cristales por rayos X se utiliza ampliamente en las industrias de investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos. 1. Principio del orientador de cristales de rayos X: El orientador de cristales por rayos X utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser y cristales semiconductores). Equipado con una máquina de corte, el orientador de cristales por rayos X permite el corte direccional de los cristales mencionados y es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos cristalinos. El instrumento de orientación de cristales por rayos X tiene una precisión de medición de ± 30 pulgadas, con pantalla digital y una lectura de 10 pulgadas. Puede medir muestras con un diámetro de 1 a 30 kilogramos y de 2 a 8 pulgadas. Visualización de ángulo: modo digital, precisión de medición de ± 30 pulgadas. 2. Características del orientador de cristales de rayos X: Fácil de operar, no requiere conocimientos profesionales ni habilidades especializadas. El ángulo de la pantalla digital es fácil de observar y reduce los errores de lectura. El monitor se puede poner a cero en cualquier posición para visualizar fácilmente los valores de desviación del ángulo del chip. El instrumento de medición de ángulos dual puede funcionar simultáneamente, lo que mejora la eficiencia. El orientador de cristales de rayos X cuenta con un integrador especial con amplificación de picos, que mejora la precisión de detección. La integración del tubo de rayos X y el cable de alta tensión aumenta la fiabilidad de la alta tensión. El detector de alta tensión adopta un módulo de alta tensión de CC y una placa de muestreo de succión al vacío, lo que mejora la precisión y la velocidad de la medición de ángulos. Los componentes principales de un orientador de cristales de rayos X son: Tubo de radiación: normalmente se utiliza un objetivo de cobre como ánodo y se conecta a tierra, mientras que para el enfriamiento se utiliza enfriamiento por aire forzado. Fuente de alimentación de alto voltaje: proporciona alto voltaje y corriente estables para los tubos de rayos X y es uno de los componentes principales de todo el sistema. Detector: se utiliza para recibir fotones de rayos X difractados y convertirlos en señales eléctricas para su posterior procesamiento y análisis. Goniómetro: se utiliza para medir con precisión el ángulo de rotación de muestras de cristal, determinando así la información de orientación del plano de difracción. Sistema de procesamiento de datos: procesa, analiza y almacena las señales de salida del detector para obtener información sobre la estructura cristalina. 4. Áreas de aplicación del orientador de cristales de rayos X: Ciencia de los materiales: Se utiliza para estudiar las estructuras cristalinas de diversos materiales, incluidos metales, cerámicas, semiconductores, etc. Geología: Se utiliza para identificar tipos de minerales, analizar estructuras rocosas, etc. Química: se utiliza para estudiar la estructura y los cambios de los cristales moleculares. Física: se utiliza para explorar la microestructura y las propiedades físicas de la materia. En resumen, con el progreso continuo y la innovación de la ciencia y la tecnología, se cree que habrá más materiales y tecnologías nuevos aplicados en varios campos en el futuro, promoviendo el desarrollo continuo de la sociedad humana.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y barras, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. Un analizador de cristales de rayos X es un instrumento de precisión que utiliza el principio de difracción de rayos X para analizar y determinar la estructura interna y la composición de sustancias. 1. Principio de funcionamiento del analizador de cristales de rayos X: El analizador de cristales de rayos X se basa en la ley de Bragg, que establece que cuando se irradian rayos X sobre un cristal, se produce difracción en un ángulo específico, formando puntos o picos de difracción. Midiendo los ángulos y las intensidades de estas difracciones, se puede inferir la estructura interna y la composición del cristal. 2. Componentes del analizador de cristales de rayos X: (1) Fuente de rayos X del analizador de cristal de rayos X: un dispositivo que genera rayos X, generalmente un tubo de rayos X, que consta de un filamento, un material objetivo y una fuente de alimentación de alto voltaje. Tubo de rayos X del analizador de cristales de rayos X: Potencia nominal: 2,4KW; Tamaño del enfoque (mm2): Enfoque puntual (1 × 1) Enfoque lineal (1 × 10); Materiales objetivo: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, etc. Generador de alto voltaje del analizador de cristales de rayos X (controlado por PLC importado): Voltaje del tubo: 10-60KV; Corriente del tubo: 2-60 mA; Estabilidad de la tensión del tubo y de la corriente del tubo ≤ ± 0,005%; Potencia nominal de salida: 3KW. Cable de alto voltaje para analizador de cristales de rayos X: Tensión dieléctrica ≥ 100KV; Longitud: 2M. (2) El cristal espectral del analizador de cristales de rayos X: se utiliza para separar rayos X de diferentes longitudes de onda, es un componente clave para lograr la separación espectral. (3) Detector de cristal analizador de rayos X: se utiliza para detectar los rayos X dispersos por la muestra y convertirlos en señales eléctricas para su posterior procesamiento. (4) Instrumento de medición de ángulos del analizador de cristal de rayos X: un instrumento utilizado para la medición precisa del ángulo de difracción, que es uno de los componentes importantes para garantizar la precisión de la medición. (5) El sistema de control y procesamiento de datos del analizador de cristales de rayos X: se utiliza para controlar todo el proceso de análisis, procesar y analizar los datos recopilados. Los instrumentos modernos suelen estar equipados con software para simplificar el proceso de análisis de datos. 3. Características del analizador de cristales de rayos X: El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF incorpora tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que garantiza un funcionamiento fiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje y la elevación, y también controla automáticamente el tubo de rayos X, prolongando así su vida útil y la del instrumento. 4. Áreas de aplicación del analizador de cristales de rayos X Ciencia de los Materiales: Investigar la estructura cristalina, la transición de fase, los defectos, etc. de los materiales para proporcionar un apoyo importante para el desarrollo de nuevos materiales. Química: involucra la química cristalina, la química medicinal, etc., se puede utilizar para analizar estructuras compuestas, estudiar mecanismos de reacciones químicas, etc. Biología: Se utiliza para el análisis estructural de biomoléculas, diseño y selección de fármacos, etc., y es de gran importancia para comprender los procesos de la vida y los mecanismos de las enfermedades. La ciencia ambiental juega un papel importante en el desarrollo de catalizadores, la caracterización de nanomateriales y el análisis de contaminantes. Geología: La identificación de minerales, la investigación de la génesis de rocas, la geocronología y otras áreas de estudio también dependen de los analizadores de cristales de rayos X. El analizador de cristales de rayos X es un instrumento analítico potente y ampliamente utilizado que desempeña un papel fundamental en múltiples campos. Con el continuo avance tecnológico y la continua evolución del mercado, su rendimiento y ámbito de aplicación se verán mejorados y ampliados.

La instrumentación de difracción de rayos X de escritorio TDM-10 es un instrumento utilizado para analizar la estructura de fases de los materiales, que puede equiparse con detectores de matriz lineal/proporcional/de centelleo. 1. Principio de funcionamiento del instrumento de difracción de rayos X de escritorio TDM-10: Según la ley de Bragg, cuando un haz de rayos X monocromáticos incide sobre un cristal, si se cumple la condición de difracción de Bragg (n λ = 2d sen θ, donde λ es la longitud de onda de los rayos X, d es la separación interplanar y θ es el ángulo de incidencia), los átomos o moléculas del cristal se dispersarán e interferirán con los rayos X, formando un patrón de difracción específico. Midiendo la intensidad de difracción a diferentes ángulos, se puede obtener información estructural del cristal. 2. Características del instrumento de difracción de rayos X de escritorio TDM-10: La alta resolución de un instrumento de difracción de rayos X de escritorio permite una medición precisa de la estructura cristalina de las sustancias, lo cual es crucial para estudiar mezclas complejas o buscar fases traza y policristalinas de bajo contenido. Análisis no destructivo de instrumentación de difracción de rayos X de escritorio: durante el proceso de prueba, no causará daños a la muestra y la muestra puede permanecer en su estado original para futuras pruebas o usos. El funcionamiento del equipo de difracción de polvo de rayos X de escritorio es simple: los equipos de difracción de polvo de rayos X de escritorio modernos generalmente tienen funciones de automatización e inteligencia, lo que hace que la operación sea más conveniente y reduce los requisitos de conocimientos y habilidades profesionales del operador. La versatilidad del equipo de difracción de polvo de rayos X de escritorio: el equipo de difracción de polvo de rayos X puede realizar varios análisis, como análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de constante de red, análisis de tensión, etc. 3. Parámetros técnicos del equipo de difracción de polvo de rayos X de escritorio TDM-10: La máquina de difracción de rayos X de escritorio tiene un volumen pequeño; La fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje reduce el consumo general de energía de la máquina; Puede calibrar y probar muestras rápidamente; Control de circuito simple, fácil de depurar e instalar; La precisión de medición de la posición del pico de difracción es de 0,001°; Detector: centelleo, proporcional, matriz lineal; Rango de 2 θ: - 10° ~ 150° Potencia: 600W; Voltaje máximo: 40kV; Corriente máxima: 15mA; Tubos de rayos X: tubos cerámicos corrugados, tubos metalocerámicos, tubos de vidrio. 4. Áreas de aplicación del difractor de rayos X de sobremesa TDM-10: Ciencia de los materiales: se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la composición de las fases, el tamaño del grano, la cristalinidad, etc. de metales, cerámicas, semiconductores y otros materiales, lo que ayuda a los científicos de materiales a comprender las propiedades y características de los materiales. En el campo de la química, la máquina de difracción de rayos X se puede utilizar en la industria de fabricación de catalizadores, cemento, productos farmacéuticos y otros productos para identificar fases en muestras desconocidas, así como para analizar cuantitativamente fases conocidas en muestras mixtas. Geología: Realización de análisis de fases en minerales, rocas, etc. para determinar su composición y estructura mineral. Ciencia ambiental: se utiliza para analizar la composición mineral y las formas de contaminantes en muestras ambientales como suelo y sedimentos. Industria alimentaria: detección de componentes cristalinos, aditivos, etc. en alimentos. La máquina de difracción de rayos X de escritorio TDM-10 es un potente instrumento analítico con un importante valor de aplicación en múltiples campos.

El difractómetro de rayos X de alta potencia TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales pastosos similares. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y de metal. El XRD de sobremesa se utiliza ampliamente en industrias como la industrial, la agrícola, la de defensa nacional, la farmacéutica, la minera, la de seguridad alimentaria, la petrolera, la educativa y la investigación científica. 1. Características principales del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): La carga del nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha mejorado enormemente el rendimiento general del dispositivo, con un tamaño pequeño y peso ligero; Toda la máquina está integrada en el tamaño del escritorio (generalmente ≤ 1m³), ahorrando espacio y adecuada para pequeños laboratorios o entornos de enseñanza; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje puede alcanzar los 1600W; Análisis rápido, capaz de calibrar y probar muestras rápidamente; Mediante el uso de detectores de alto rendimiento (como detectores bidimensionales) y la optimización de la trayectoria óptica, el escaneo de la muestra se puede completar en unos minutos; Control de circuito simple, fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo puede alcanzar 0,0001; Bajo consumo de energía y seguridad, utilizando tubos de rayos X de baja potencia (como ≤ 50W), equipados con protección radiológica múltiple, sin necesidad de salas de blindaje especiales; Fácil de usar, equipado con software de automatización, que admite operación con un solo clic, visualización de datos en tiempo real y comparación de bases de datos estándar (como ICDD PDF). 2. Escenarios de aplicación típicos del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): Identificación rápida de la estructura cristalina y la composición de fases (como metales, cerámicas, polímeros). Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): pruebas en sitios industriales de la pureza cristalina de materias primas o productos terminados (como productos farmacéuticos y materiales de baterías). Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): enseñanza experimental de pregrado, demostración visual del principio de difracción de Bragg. Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): análisis de la composición mineral de reliquias culturales o selección preliminar de muestras de campo. 3. Parámetros técnicos del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): Proyecto: rango de parámetros Fuente de rayos X: objetivo de Cu (λ=1,54 Å), objetivo de Mo opcional Voltaje/corriente: 10-50 kV/0,1-2 mA Rango del instrumento de medición de ángulos: 0-90 ° 2θ (algunos modelos se pueden ampliar) Resolución angular: ≤ 0,01 ° Tipo de detector: detector de superficie lineal unidimensional o bidimensional Tamaño de la muestra: Polvo (miligramos), película o bloque 4. Ventajas y limitaciones del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): Ventajas: Bajo costo (aproximadamente 1/3-1/2 del XRD grande), fácil mantenimiento. Admite análisis no destructivos y preparación de muestras sencilla (como colocar polvo directamente). limitaciones: La resolución y la sensibilidad son ligeramente inferiores a las de los dispositivos de alta gama y pueden no ser adecuadas para análisis estructurales ultrafinos. Las pruebas en condiciones extremas (como experimentos in situ a alta temperatura y alta presión) normalmente no son factibles.

El difractómetro de rayos X TD-3500 se utiliza principalmente para análisis cualitativos y cuantitativos de fases, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina, determinación de tensiones macroscópicas o microscópicas, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc., de muestras de polvo, bloques o películas. El TD-3500, fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., incorpora un control PLC Siemens importado, lo que le confiere alta precisión, estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil manejo e inteligencia, adaptándose con flexibilidad a pruebas, análisis e investigación en diversas industrias.   El difractómetro de rayos X TD-3500 incorpora un generador de rayos X (generador de estado sólido de alta frecuencia y alto voltaje, generador de frecuencia industrial opcional), con un alto grado de automatización, una tasa de fallos extremadamente baja, una alta capacidad antiinterferencias, una buena estabilidad del sistema y una larga vida útil. El PLC y la interfaz de computadora controlan automáticamente la apertura y el cierre de la compuerta de luz, la subida y bajada de la presión y el caudal del tubo, y permiten el entrenamiento automático de los tubos de rayos X. El estado del instrumento se visualiza en tiempo real mediante una pantalla táctil. El difractómetro de rayos X TD-3500 incorpora una unidad de control de grabación avanzada, un circuito de control PLC, tecnología de control PLC avanzada y una pantalla táctil a color real para lograr la interacción persona-computadora. El hardware del sistema adopta un diseño modular, lo que aumenta considerablemente la capacidad antiinterferencias del sistema y lo hace más estable. Gracias al uso de circuitos de control PLC Siemens importados, de alta precisión y automatización, el sistema puede funcionar de forma estable durante un largo periodo sin fallos. El sistema de difractómetro de rayos X TD-3500 tiene las siguientes ventajas sobre los circuitos de microcontroladores utilizados por otras empresas: Control de circuito simple, fácil de depurar e instalar; Debido a su diseño modular, el mantenimiento del sistema es muy simple y los usuarios pueden repararlo y depurarlo ellos mismos sin la necesidad de que los técnicos del fabricante estén presentes; Adoptando una pantalla táctil de color verdadero avanzada para lograr la interacción hombre-computadora, con funciones de protección completas y una operación muy conveniente, el diseño de animación altamente tridimensional es más humanizado, intuitivo y conveniente para que los operadores usen y juzguen la información de fallas, etc.; Mejorando enormemente la estabilidad de conteo del sistema, mejorando así la estabilidad general de toda la máquina; Debido a la fuerte capacidad de expansión del PLC, puede expandir fácilmente varios accesorios funcionales sin la necesidad de agregar ningún circuito de hardware adicional. Detector del difractómetro de rayos X TD-3500 Detector proporcional (PC) o detector de centelleo (SC). Instrumento de medición de ángulos de alta precisión para difractómetro de rayos X TD-3500 El instrumento de medición de ángulos de la serie TD incorpora una transmisión de rodamientos importada de alta precisión, y el control de movimiento se completa mediante un servosistema de accionamiento vectorial de bucle cerrado de alta precisión. El accionamiento inteligente incluye un microprocesador RISC de 32 bits y un codificador magnético de alta resolución, que corrige automáticamente errores de posición de movimiento extremadamente pequeños, garantizando así una alta precisión y exactitud en los resultados de medición. La reproducibilidad angular puede alcanzar los 0,0001 grados, y los ángulos de paso más pequeños pueden alcanzar los 0,0001 grados. Áreas de aplicación del difractómetro de rayos X TD-3500: Ciencia de los materiales: se utiliza para estudiar información clave como la estructura cristalina, el comportamiento de transición de fase y la textura de los materiales. Análisis químico: se puede utilizar para el análisis cualitativo o cuantitativo de compuestos orgánicos, inorgánicos, poliméricos y otras sustancias. Geología: ayuda a las personas a comprender la formación de depósitos minerales, la evolución de la Tierra y más. Productos biofarmacéuticos: determinar la estructura cristalina de los medicamentos, optimizar las formulaciones de medicamentos y mejorar la eficacia de los medicamentos. El difractómetro de rayos X es una potente herramienta analítica ampliamente utilizada en diversos campos. Al medir con precisión el ángulo y la intensidad de difracción, proporciona información detallada sobre la estructura cristalina y la composición de los materiales.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con diversos detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD, entre otros. Integra un análisis rápido, un funcionamiento sencillo y seguridad para el usuario. La arquitectura modular de hardware y el sistema de software personalizado se combinan a la perfección, lo que reduce al mínimo la tasa de fallos, ofrece un excelente rendimiento antiinterferencias y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el método convencional de escaneo de datos por difracción como el de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que resulta ideal para análisis estructurales y otros campos. El modo de difracción presenta señales de difracción potentes y es más adecuado para la identificación rutinaria de fases en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que resulta adecuado para la adquisición de datos en casos donde el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple los requisitos del método de difracción para la preparación de muestras. El detector de matriz utiliza plenamente la tecnología de conteo de fotones mixtos, sin ruido, con una rápida adquisición de datos y una velocidad diez veces superior a la de los detectores de centelleo. Ofrece una excelente resolución energética y puede eliminar eficazmente los efectos de fluorescencia. Los detectores multicanal ofrecen tiempos de lectura más rápidos y una mejor relación señal-ruido. Un sistema de control del detector con puerta electrónica y disparo externo completa eficazmente la sincronización del sistema. El principio de funcionamiento del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Al aprovechar la fluctuación de los rayos X, al irradiarlos sobre un cristal, los átomos o iones del cristal actúan como centros de dispersión, dispersando los rayos X en todas direcciones. Debido a la regularidad de la disposición atómica en los cristales, estas ondas dispersas interfieren y se refuerzan mutuamente en ciertas direcciones, formando difracción. Midiendo el ángulo y la intensidad de difracción, se puede obtener información estructural del cristal. Las principales características del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 son: (1) Fácil de operar, sistema de recolección con un solo clic; (2) Diseño modular, accesorios de instrumento plug and play, sin necesidad de calibración; (3) Monitoreo en línea en tiempo real mediante pantalla táctil para mostrar el estado del instrumento; (4) Dispositivo de enclavamiento de puerta con cable electrónico, doble protección, que garantiza la seguridad del usuario; (5) Generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, con un rendimiento estable y confiable; (6) Unidad de control de grabación avanzada con fuerte capacidad antiinterferencia. La alta precisión del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 permite un análisis de alta precisión de la estructura cristalina de los materiales, como la determinación precisa de constantes reticulares, parámetros celulares, etc. La precisión de la medición del ángulo puede alcanzar ±0,0001°. La alta resolución del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 puede distinguir claramente los picos de difracción adyacentes, analizar con precisión la información de difracción de diferentes planos cristalinos para estructuras cristalinas complejas y revelar las características de microestructura de los materiales. La naturaleza no destructiva del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: no dañará la muestra durante el proceso de prueba y la muestra puede mantenerse en su estado original para múltiples pruebas, lo que es particularmente importante para muestras preciosas o difíciles de obtener. Análisis rápido del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Los difractómetros de rayos X de alta resolución modernos tienen capacidades de detección rápida y pueden completar las pruebas de muestras en un corto período de tiempo, lo que mejora la eficiencia del trabajo. 3. Áreas de aplicación del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Materiales semiconductores: se utilizan para detectar la calidad cristalina de materiales semiconductores monocristalinos y películas delgadas epitaxiales, analizar desajustes de red, defectos y otra información, lo que ayuda a optimizar el rendimiento de los dispositivos semiconductores. Materiales superconductores: estudiar la estructura cristalina y el proceso de transición de fase de los materiales superconductores para proporcionar una base para optimizar las propiedades superconductoras. Nanomateriales: Analizar el tamaño del grano, la estructura cristalina, la deformación microscópica, etc. de los nanomateriales ayuda a los investigadores a comprender mejor sus propiedades y aplicaciones. Otros campos: También se utiliza ampliamente en la investigación y el control de calidad de materiales metálicos, cerámicos, poliméricos, biomateriales y otros campos. El difractómetro de rayos X de alta resolución es un instrumento analítico de alta precisión, alta resolución, no destructivo y rápido, con importantes aplicaciones en diversos campos.

1. Función del difractómetro monocristalino: El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes electrónicas de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad electrónica de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, los enlaces de hidrógeno intermoleculares y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de monocristal de rayos X es un producto de alta tecnología financiado por el Proyecto de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales Nacionales del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de monocristal en China. 2. Características del difractómetro monocristalino: Toda la máquina adopta tecnología de control de controlador lógico programable (PLC); Fácil de operar, sistema de recolección de un clic; Diseño modular, accesorios plug and play, sin necesidad de calibración; Monitoreo en línea en tiempo real a través de pantalla táctil, mostrando el estado del instrumento; Generador de rayos X de alta potencia con un rendimiento estable y confiable; Dispositivo de enclavamiento de puerta de plomo electrónico, doble protección. 3. Precisión del difractómetro de monocristal: Precisión de repetibilidad del ángulo 2 θ: 0,0001 °; Ángulo de paso mínimo: 0,0001 ° Rango de control de temperatura: 100 K-300 K; Precisión de control: ± 0,3 K 4. Instrumento de medición de ángulos utilizado en el difractómetro monocristalino: El uso de la técnica de cuatro círculos concéntricos garantiza que el centro del instrumento de medición de ángulos permanezca inalterado independientemente de cualquier rotación, lo que permite obtener datos con la máxima precisión y una mayor integridad. Los cuatro círculos concéntricos son un requisito indispensable para el escaneo con difractómetros monocristalinos convencionales. 5. Detector bidimensional de alta velocidad utilizado en difractómetros monocristalinos de rayos X: El detector combina las tecnologías clave de conteo de fotones individuales y tecnología de píxeles mixtos para lograr la mejor calidad de datos, a la vez que garantiza un bajo consumo de energía y una refrigeración reducida. Se aplica en diversos campos, como la radiación sincrotrón y las fuentes de luz de laboratorio convencionales, eliminando eficazmente la interferencia del ruido de lectura y la corriente oscura. La tecnología de píxeles mixtos permite detectar rayos X directamente, facilitando la distinción de la señal y proporcionando datos de alta calidad de forma eficiente. 6. Equipos de baja temperatura utilizados en difractómetros monocristalinos de rayos X: Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados óptimos. Con la ayuda de estos equipos, se pueden crear condiciones más ventajosas que permitan que los cristales indeseables obtengan resultados óptimos, así como que los cristales ideales los obtengan. Rango de control de temperatura: 100 K ~ 300 K; Precisión de control: ± 0,3 K; Consumo de nitrógeno líquido: 1,1 ~ 2 litros/hora; 7. Accesorio opcional, lente de enfoque de película multicapa: Potencia del tubo de rayos X: 30 W o 50 W, etc. Divergencia: 0,5 ~ 1 mrad; Material del objetivo del tubo de rayos X: objetivo de Mo/Cu; punto focal: 0,5~2 mm.

El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. El principio del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): El espectro de estructura fina de absorción de rayos X se refiere a los espectros de alta resolución cerca de los bordes característicos de los electrones del núcleo atómico que absorben rayos X. Cuando la energía de los rayos X es igual a la energía de excitación de los electrones de la capa interna del elemento medido, estos sufrirán una fuerte absorción, lo que resulta en un límite de absorción (o borde de absorción). Cerca del borde de absorción, debido a la dispersión múltiple y otras razones, el coeficiente de absorción de los rayos X presentará fenómenos oscilatorios, concretamente, la estructura fina. 2. Principales ventajas del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): (1) El producto de flujo luminoso más alto, con un flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV y una eficiencia espectral varias veces mayor que otros productos; Obtener una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón (2) Excelente estabilidad, la estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que 0,1% y la deriva de energía repetida es inferior a 50 meV. (3) El límite de detección del 1%, el alto flujo de luz, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es >1%. 3. Áreas de aplicación de XAFS: Catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, análisis cualitativo, análisis de elementos pesados, etc. 4. Características principales de XAFS: (1) Ordenamiento de corto alcance: EXAFS se basa en interacciones de corto alcance y no en el ordenamiento de largo alcance. XAFS permite estudiar la estructura de sistemas desordenados, como centros activos amorfos, líquidos, fundidos y catalizadores. (2) Especificidad del elemento: El método de fluorescencia permite medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Ajustando la energía incidente de los rayos X, se pueden estudiar las estructuras vecinas de los átomos de diferentes elementos en el mismo compuesto. (3) Características de polarización: Los rayos X polarizados se pueden utilizar para medir ángulos de enlace atómico y estructuras superficiales en muestras orientadas. El espectro de estructura fina de absorción de rayos X, con sus principios únicos, características significativas y amplios campos de aplicación, se ha convertido en una herramienta indispensable e importante en múltiples campos como la ciencia de los materiales, la química catalítica y la investigación energética, proporcionando un fuerte apoyo para la exploración en profundidad de las microestructuras de los materiales y los estados electrónicos.

El portamuestras giratorio de un difractómetro de rayos X es un componente clave para el ajuste y la fijación precisos de la posición de la muestra. Esta puede rotar dentro de su propio plano, lo cual facilita la corrección de errores causados ​​por granos gruesos. Para muestras con textura y cristalografía, el portamuestras giratorio garantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción y elimina la necesidad de una orientación preferente. Principio de funcionamiento del portamuestras giratorio: Cuando el difractómetro de rayos X está en funcionamiento, los rayos X de alta energía generados por la fuente se irradian sobre la muestra fijada en la platina giratoria. Debido a la estructura cristalina y los parámetros reticulares específicos de la muestra, los rayos X experimentan fenómenos de dispersión, absorción y difracción al interactuar con ella, donde los fenómenos de difracción ocurren según los requisitos de la ecuación de Bragg. El portamuestras giratorio puede girar en ángulos más pequeños según la configuración, lo que permite que la muestra reciba radiación de rayos X en diferentes ángulos y, por lo tanto, obtenga patrones de difracción en diferentes ángulos. De esta manera, el detector puede medir la intensidad de los rayos X tras la difracción de la muestra y convertirla en una señal eléctrica que se transmite al ordenador para el procesamiento de datos. La función principal del portamuestras giratorio es: Método de rotación: eje β (plano de muestra) Velocidad de rotación: 1~60 RPM Ancho de paso pequeño: 0,1º Modo de funcionamiento: Rotación a velocidad constante para escaneo de muestras (paso, continuo) Ventajas del portamuestras giratorio: El portamuestras giratorio puede mejorar la precisión de los datos de difracción: En muestras con formas irregulares de polvo o partículas, la orientación preferida tiende a aparecer durante la preparación convencional de muestras de polvo, lo que provoca desviaciones en la distribución de la intensidad de difracción y afecta la precisión del análisis de los resultados. La rotación de la platina de muestra permite mover la muestra con una forma específica en un espacio adecuado, eliminando así la influencia de la orientación preferida y mejorando así la precisión de los datos de difracción. El portamuestras giratorio se adapta a diversas necesidades de prueba: se adapta a diferentes tipos de instrumentos de medición de ángulos de difracción de rayos X, como instrumentos de medición de ángulos verticales y equipos de difracción de polvo compactos de bajo consumo, entre otros, lo que facilita su aplicación en diversas pruebas. Además, el portamuestras giratorio puede satisfacer los requisitos de diversas muestras y condiciones de prueba mediante el ajuste de parámetros como la velocidad y la dirección. El portamuestras giratorio puede ampliar las capacidades analíticas del instrumento: constantemente se desarrollan y aplican nuevos tipos de etapas de muestra giratorias, como algunas etapas de muestra para análisis de difracción de rayos X electroquímicos in situ, que pueden monitorear y analizar los cambios de materiales en diferentes entornos o condiciones en tiempo real, ampliando las capacidades de análisis de los equipos de difracción de rayos X. En resumen, el portamuestras giratorio en el difractómetro de rayos X es crucial para obtener con precisión información sobre la estructura cristalina de las sustancias. El portamuestras giratorio no solo puede mejorar la precisión de los datos de difracción, sino que también se adapta a diversas necesidades de prueba y amplía las capacidades analíticas del instrumento.