Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de todo tipo de máquinas de rayos X, que integra desarrollo y producción. Nuestros productos principales incluyen difractómetros de rayos X, detectores portátiles de defectos por rayos X, analizadores de cristales de rayos X, etc. Nuestra empresa se estableció en 2010 y, ubicada cerca del río Yalu, disfrutamos de un transporte conveniente por agua, tierra y aire. Nuestra empresa emplea a más de 30 trabajadores; gracias al esfuerzo de todo nuestro personal, nos hemos convertido en un fabricante de rayos X. El equipo de Tongda se ha esforzado continuamente por mejorar la calidad de los productos. Actualmente, Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ya exporta a Azerbaiyán, Jordania, Irak y otros países y regiones. Nuestra empresa siempre se ha enfocado en la investigación, el desarrollo y la innovación, y recientemente ha desarrollado un nuevo mini difractómetro de rayos X y un difractómetro de rayos X único, y hemos obtenido la certificación ISO9001.

Productos

SOLICITUDES

  • Aplicación de la difracción de rayos X en la detección de dióxido de titanio
    Aplicación de la difracción de rayos X en la detección de dióxido de titanio
    El dióxido de titanio (TiO₂) es un material funcional de alto rendimiento ampliamente utilizado en diversos sectores industriales, y su calidad influye directamente en los resultados de aplicación y la seguridad. Dandong Tongda Technology ofrece servicios integrales de análisis de difracción de rayos X (DRX) de alta precisión para el dióxido de titanio, abarcando la estructura cristalina, la pureza y la detección de impurezas. Los resultados de las pruebas cumplen con los estándares internacionales, proporcionando datos fiables para el control de calidad de la producción y ayudando a las empresas a optimizar sus procesos y mejorar su competitividad global.
    04-17
    2026
  • Tongda: Innovación en rayos X de China para el mundo
    Tongda: Innovación en rayos X de China para el mundo
    Tongda Science and Technology desarrolló el primer difractómetro de rayos X de monocristal de China (TD-5000). Ofrece difractómetros, orientadores y analizadores con robótica de IA y control remoto. Cuenta con un 30 % de personal dedicado a I+D y 23 patentes. Exporta a nivel mundial.
    04-15
    2026
  • ¿Por qué elegir a este fabricante chino de difractómetros de rayos X en particular?
    ¿Por qué elegir a este fabricante chino de difractómetros de rayos X en particular?
    Tongda ofrece soluciones de difracción de rayos X con servicios personalizados. Sus instalaciones de vanguardia y tecnologías clave hacen que sus productos sean de primer nivel mundial. Se utilizan en numerosos campos. Su equipo de I+D, compuesto por 30 personas, impulsa la mejora continua.
    04-14
    2026
  • Escenarios de aplicación de los difractómetros de rayos X
    Escenarios de aplicación de los difractómetros de rayos X
    La difracción de rayos X (DRX) se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, química, biología y geología. Permite el estudio de estructuras cristalinas, cambios de fase, análisis químicos, estructuras proteicas, composición mineral, polimorfos de fármacos, arqueología y control de calidad industrial. La DRX es una técnica no destructiva, de alta precisión y rápida, con una resolución cada vez mayor para estudios dinámicos in situ.
    04-13
    2026
  • ¿Cuál es el principio de funcionamiento de un difractómetro de rayos X?
    ¿Cuál es el principio de funcionamiento de un difractómetro de rayos X?
    El difractómetro de rayos X funciona según la ley de Bragg (2d sinθ = nλ). Al escanear θ y registrar los picos de difracción, revela la estructura cristalina, los parámetros de la red, el tamaño de grano, las tensiones residuales, la composición de fases y otros datos. Es una herramienta fundamental para el análisis de materiales.
    04-10
    2026
  • Calibración y análisis de datos del difractómetro de rayos X TD-3700
    Calibración y análisis de datos del difractómetro de rayos X TD-3700
    La calibración de la difracción de rayos X (longitud de onda, detector, punto cero) y el análisis de datos (ajuste de picos, ecuación de Scherrer, Williamson-Hall) son fundamentales para la determinación precisa de la estructura cristalina, la identificación de fases y la caracterización microestructural en la ciencia de los materiales.
    04-09
    2026

Caso