Productos
1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC.
2. Diseño modular, accesorios plug and play.
3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección.
4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc.
5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
1. La precisión del difractómetro es alta.
2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio.
3. El difractómetro es fácil de usar, práctico y eficiente.
1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar.
2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente.
3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
1. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD;
2. Cálculo de control automático del PLC, conversión del modo de integración, el PLC realiza automáticamente PHA, corrección de tiempo muerto
3. Tipo de medición de muestra: muestra de polvo, muestras líquidas, muestras en estado fundido, muestras viscosas, polvos sueltos, muestras sólidas a granel
4. Disponible con una variedad de accesorios de difractómetro.
5. Potencia máxima de salida de polvo: 3 kW
Ventajas:
Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable
Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones.
Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos.
Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
Analizador de tensiones residuales TD-RSD XRD
Precisión de ±7 MPa, innovador sistema de doble detector, funcionamiento totalmente automático y potente software. Optimice los procesos y mejore la fiabilidad del producto. Solución compacta, eficiente y líder en el mercado.
1. Potencia máxima de salida de polvo: 3 kW
2. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD
3. Disponible con una variedad de accesorios para difractómetros.
4. Patrón de trabajo: Cálculo de control automático del PLC, conversión del método de integración, el PLC realiza automáticamente el PHA, corrección del tiempo muerto.
5. Tipo de medición de muestra: muestra en polvo, muestras líquidas, muestras en estado fundido, muestras viscosas, polvos sueltos, muestras sólidas a granel.
Pruebas polarográficas mediante transmisión o reflexión. Las pruebas de resistencia pueden realizarse mediante el método de inclinación o el mismo método de inclinación. Pruebas de película delgada (rotación en el plano de la muestra).
1. Tipo: Tubo de vidrio, tubo de cerámica, tubo de cerámica.
2. Material objetivo: Cu, Co, Mo y otros materiales son opcionales.
3. Los usuarios pueden personalizarlo según sus necesidades reales.
El sistema de fijación para películas delgadas permite un análisis preciso de difracción de rayos X (DRX) de películas nanométricas/micrométricas, ideal para semiconductores, recubrimientos y polímeros. Mejora la señal, reduce la interferencia del sustrato y admite escaneo de alta velocidad, siendo ampliamente utilizado en I+D y control de calidad con difractómetros de la serie TD.
Sistema de control PLC; diseño modular, fácil operación y rendimiento del equipo más estable.
Diseño liviano: liviano, adecuado para mediciones rápidas en el sitio;
Medición de alta precisión: Control del sistema servoaccionamiento vectorial de circuito cerrado completo de alta precisión;
Operación simple: sistema Windows integrado o funciones de automatización, admite pruebas con un solo clic y visualización de resultados en tiempo real;
Compatibilidad multifuncional: medición de acero al carbono, acero aleado, aleación de titanio y otros metales, vidrio, materiales a base de níquel y varios materiales compuestos;
Optimización de velocidad: el detector de matriz lineal de microbanda de silicio multicanal puede proporcionar un rendimiento sin ruido, una medición de alta intensidad y una rápida adquisición de datos.
El analizador portátil de tensiones residuales por rayos X es un dispositivo de ensayo no destructivo basado en la tecnología de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para medir la distribución de tensiones residuales superficiales y subsuperficiales en materiales como metales y plásticos, combinando alta precisión con adaptabilidad en campo.
El espectrómetro XAFS alcanza una calidad de datos a nivel de sincrotrón con un flujo de >4 millones de fotones/s/eV,<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
1. El irradiador biológico de rayos X no requiere conocimientos profesionales sobre el funcionamiento de los equipos de rayos X.
2. El irradiador biológico de rayos X no requiere requisitos adicionales de blindaje contra rayos X.
3. El irradiador biológico de rayos X se precalienta automáticamente para prolongar la vida útil del tubo de rayos.
1. La mesa de muestras está equipada con una guía de carga que puede medir hasta 1 kg y tiene un diámetro de 6 pulgadas (hasta 8 pulgadas).
2. Se instala un dispositivo de ventosa de vacío en la mesa de muestras.
3. Aplicación: Determinación precisa y rápida del ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales.
1. Potencia máxima de salida: 1200 W;
2. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD, todos los tipos de detectores se pueden adaptar a este modo;
3. Patrón de trabajo: Cálculo de control automático del PLC, conversión del método de integración, el PLC realiza automáticamente el PHA, corrección del tiempo muerto.
El difractómetro de rayos X totalmente automatizado con IA integra a fondo la manipulación de alta precisión de un brazo robótico basado en un difractómetro portátil. En comparación con los difractómetros tradicionales, reduce significativamente la intervención manual, lo que lo hace ideal para escenarios de I+D que requieren pruebas de alto rendimiento y alta repetibilidad. Se puede controlar de forma remota mediante teléfono móvil o aplicación, e incorpora tecnología de apertura y cierre automático de puertas. Gracias a sus capacidades autónomas de muestreo y análisis, ofrece precisión y comodidad.
1. Potencia máxima de salida de polvo: 1200 W
2. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD, todos los tipos de detectores se pueden adaptar a este modo.
3. Cálculo de control automático del PLC, conversión del método de integración, el PLC realiza automáticamente el PHA, corrección del tiempo muerto.
El software de medición y análisis de tensiones residuales en versión china admite métodos de ajuste lineal y elíptico. Emplea ecuaciones de tensión completas sin asumir tensión cortante nula, junto con el método de ajuste elíptico, lo que permite la medición simultánea de los valores de tensión normal y cortante. Cada medición utiliza más de 9 ángulos ψ. El ajuste del perfil de pico incluye funciones gaussianas, lorentzianas, de Pearson VII, parabólicas, etc. Los resultados de la medición pueden mostrar simultáneamente los valores de tensión normal y cortante, así como información como la intensidad del pico, el ancho integral y el ancho a media altura (FWHM).
Características destacadas del producto:
Control de temperatura de alta precisión (estabilidad de 0,3 K, rango de 100 a 300 K)
Enfriamiento rápido: 35 min desde temperatura ambiente hasta 100 K
Eficiencia energética: consumo de LN2 de 0,6 l/h
Diseño compacto integrado
Opciones de configuración flexibles
Fácil instalación y operación
1. Nombre: Accesorios de fibra
2. Función: Determinar la estructura cristalina especial de la fibra y determinar la orientación de la muestra de acuerdo con la cristalinidad de la fibra y el ancho de medio pico.
1.Nombre: Accesorios para altas temperaturas.
2. Aplicación: Accesorios para difractómetro.
3. Función: Comprender los cambios en la estructura cristalina de la muestra o la disolución mutua de diversas sustancias en el proceso de calentamiento a alta temperatura.
El portamuestras multifunción permite el análisis directo por difracción de rayos X (DRX) de muestras irregulares, a granel y micropolvo sin preparación destructiva. Garantiza un posicionamiento preciso con mandril de vacío y abrazaderas ajustables. Ideal para investigación avanzada de materiales, productos farmacéuticos y geología.
Está equipado con un difractómetro de rayos X y es un tipo de accesorio para difractómetro.
Se utiliza ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, intercalación de metales, etc.
El accesorio de difracción de ángulo pequeño de Dandong Tongda mide con precisión el espesor de películas nanomulticapa (rango de 0° a 5°). Totalmente compatible con los difractómetros de la serie TD, ofrece una instalación sencilla y una reproducibilidad de 0,0001°, lo que impulsa la investigación en energías renovables y semiconductores.
1. Nombre: Monocromador de cristal curvado de grafito.
2. Aplicación: Accesorios para difractómetros.
3. Función: aumentar la relación de retroceso del pico y la resolución del pico débil, reducir el ángulo de difracción.
1. Alta precisión de los accesorios de temperatura.
2. Los accesorios de temperatura son duraderos y tienen una larga vida útil.
3. Para comprender el cambio en la estructura cristalina de la muestra durante el proceso de refrigeración a baja temperatura.
1. Nombre: Soporte giratorio para muestras.
2. Aplicación: Accesorios para difractómetros.
3.Función: Asegura una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción y
elimina la orientación preferida.
El accesorio de medición de película delgada de Dandong Tongda Technology mejora el rendimiento al incorporar láminas de rejilla más largas. Este diseño filtra eficazmente la radiación dispersa, reduciendo la interferencia de las señales del sustrato y reforzando significativamente las señales de difracción de la película delgada.
1.XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales.
2. Campos de aplicación de XAFS: catálisis industrial, nanomateriales, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc.
3. Ventajas del producto XAFS: Resolución ultraalta (hasta 0,5 eV), patrón de fluorescencia (base trasera alta de bajo contenido), flujo luminoso ultraalto, límites de detección ultrabajos (hasta 0,3-0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)
