El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta analítica que se utiliza para estudiar la estructura y las propiedades de las sustancias. XAFS obtiene información sobre los átomos y las moléculas de una muestra midiendo la absorción de rayos X de la muestra dentro de un rango de energía específico. XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales. La tecnología XAFS se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la química, la biología y otros campos, especialmente en áreas de investigación como catálisis, baterías, sensores, etc. XAFS tiene un valor de aplicación importante. A través de la tecnología XAFS, los investigadores pueden obtener una comprensión más profunda de la microestructura y las propiedades de las muestras, lo que proporciona un poderoso soporte para el diseño y la optimización de nuevos materiales.

El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El XRD de cristal único se usa ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. La difracción de rayos X de un solo cristal tiene una alta precisión: Precisión de repetibilidad del ángulo 2θ: 0,0001°; Ángulo de paso mínimo: 0,0001°; Rango de control de temperatura: 100 K-300 K Precisión de control: ±0,3 K El instrumento de medición de ángulos de cristal único selecciona cuatro círculos de exploración concéntricos. El XRD de cristal único adopta una configuración de baja temperatura. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y depuración del difractómetro de rayos X monocristalino extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros. En general, el difractómetro de rayos X de cristal único desempeña un papel irreemplazable como instrumento científico importante en la investigación y la aplicación en múltiples disciplinas. Con el avance y la innovación continuos de la tecnología, creemos que en el futuro, el difractómetro de rayos X de cristal único demostrará su valor y potencial únicos en más campos.

La máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT es un tipo de equipo de inspección radiográfica que puede generar rayos X y tiene múltiples usos. La máquina de rayos X portátil para inspección de soldaduras se puede utilizar en los campos industrial y médico. En la industria, se utiliza para la detección de defectos en la fabricación de piezas de automóviles, detección de cubos de ruedas, detección de bastidores auxiliares, detección de calidad de bisagras, etc., para garantizar que los productos industriales probados tengan una alta resistencia. Además, pertenece al equipo de inspección de soldaduras por rayos X y se utiliza comúnmente para la detección de soldaduras, detección de soldaduras de calderas, detección de soldaduras de componentes aeroespaciales, etc.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Utiliza el principio de interacción entre los rayos X y el cristal para determinar la disposición atómica dentro del cristal mediante el análisis del patrón de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristales de rayos X, como instrumento de rayos X, proporciona información valiosa para la investigación en ciencia de materiales y otros campos relacionados. Con el avance continuo de la tecnología y la expansión de las aplicaciones, el analizador de cristales de rayos X seguirá desempeñando un papel importante en la investigación científica y la producción industrial.

El instrumento automático de orientación por rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la estructura cristalina, la orientación y los parámetros de red. Tiene una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales, la geología, la física y la química, especialmente en el estudio de la microestructura y las propiedades de los materiales monocristalinos, policristalinos y de película delgada. A continuación se proporcionará una introducción detallada al principio de funcionamiento, la aplicación y las precauciones operativas del orientador de cristales por rayos X. Con el avance de la tecnología, los dispositivos de instrumentos de orientación de rayos X automáticos continúan mejorando, con una mayor resolución y un funcionamiento más sencillo. Al mismo tiempo, la combinación con otras técnicas analíticas como la microscopía electrónica y el análisis espectroscópico hace que el análisis de la estructura cristalina sea más completo y profundo. Además, los dispositivos analizadores de orientación de rayos X portátiles y de monitoreo en línea se han desarrollado gradualmente, brindando posibilidades de análisis in situ y monitoreo en tiempo real. En resumen, el analizador de orientación por rayos X es una potente herramienta analítica que resulta crucial para comprender y controlar la microestructura de los materiales. Con el continuo desarrollo de la tecnología, su aplicación en diversos campos se hará más extensa y profunda.

El portamuestras multifunción es un dispositivo que se utiliza para proporcionar flexibilidad y alta eficiencia en diversas aplicaciones industriales y de investigación científica. Se utiliza comúnmente en el análisis de difracción de rayos X (DRX) y la microscopía electrónica, y es un accesorio de los difractómetros de rayos X (accesorio de DRX). Como accesorio de los difractómetros de rayos X (accesorio de DRX) generalmente equipados con encimeras ajustables para acomodar muestras de diferentes tamaños y formas. El portamuestras multifunción es una de las herramientas indispensables en los laboratorios e instituciones de investigación modernos. Promueve en gran medida el desarrollo de la investigación científica y las aplicaciones industriales al proporcionar una plataforma de procesamiento y análisis de muestras flexible, eficiente y precisa. Ya sea en los campos de la ciencia de los materiales, la biomedicina o la industria electrónica, el portamuestras multifunción juega un papel importante para ayudar a los investigadores e ingenieros a comprender y mejorar mejor sus temas de investigación.

Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.

Tubos de rayos X diseñados específicamente para instrumentos analíticos: tubos de cerámica corrugados, tubos cermet y tubos de vidrio, adecuados para varios modelos de XRD, XRF, analizadores de cristal e instrumentos de orientación en el país y en el extranjero. Parámetros técnicos de los tubos de rayos X: 1. Tipos de materiales de destino opcionales: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, Ti, W, etc. 2. Tipo de enfoque: 0,2 × 12 mm² o 1 × 10 mm² o 0,4 × 14 mm² (enfoque fino)

Accesorio de batería original, rango de prueba: 0,5-160 grados, resistencia a la temperatura: 400 ℃, tamaño de ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); Espesor 0,1 mm (personalizable). Se utilizan ampliamente como accesorios de difractómetro de rayos X en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos incrustados en metales, etc. El accesorio de batería original se utiliza para fijar toda la platina de muestra de batería original en el instrumento de medición de ángulos del difractómetro de rayos X, sirviendo como conexión y soporte.

El portamuestras multifunción pertenece al accesorio de difractómetro de rayos X (accesorio XRD), que adopta tecnología de diseño avanzada e ideas de diseño modular, y logra funciones como rotación, diferencial de elevación y resistencia a la oxidación a alta temperatura mediante la combinación de diferentes módulos. El portamuestras multifunción es adecuado para varias tecnologías avanzadas de crecimiento y deposición de películas delgadas, incluidas MBE (epitaxia de haz molecular), PLD (deposición por láser pulsado), pulverización catódica con magnetrón y EB (evaporación por haz de electrones), y también se puede utilizar para recocido de sustratos, desgasificación a alta temperatura y modificación de materiales. El sustrato del portamuestras multifunción puede alcanzar una temperatura máxima de calentamiento de 1100 ℃ y se puede conectar a RF/CC, con rotación automática y una velocidad de 0 a 20 revoluciones por minuto. Es ajustable de forma continua y proporciona posicionamiento cero. El diseño modular permite seleccionar múltiples configuraciones de combinación y el tamaño de la muestra puede ser de hasta 8 pulgadas. En resumen, el portamuestras multifunción es un equipo experimental potente y flexible, adecuado para diversas investigaciones científicas y aplicaciones industriales como accesorio de difractómetro de rayos X (accesorio XRD). El diseño modular y las múltiples funciones de la plataforma de muestra multifuncional lo convierten en una herramienta indispensable en los laboratorios y la producción industrial.

El accesorio de medición de película óptica paralela es una herramienta especializada para el análisis de difracción de rayos X, que filtra más líneas dispersas al aumentar la longitud de la placa de rejilla, reduciendo así la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorando la intensidad de la señal de la película delgada. En el campo de la ciencia de los materiales, el accesorio de medición de película óptica paralela se usa comúnmente para estudiar la estructura cristalina, el comportamiento de transición de fase y el estado de tensión de los materiales de película delgada. Con el desarrollo de la nanotecnología, el accesorio de medición de película óptica paralela también se ha utilizado ampliamente en pruebas de espesor y análisis de difracción de ángulo pequeño de películas nano multicapa. El diseño y la fabricación del accesorio de medición de película óptica paralela persiguen una alta precisión para cumplir con los requisitos de la investigación científica y la producción industrial para la precisión de los datos. Durante el uso, el accesorio de medición de película óptica paralela debe mantener un alto grado de estabilidad para garantizar la confiabilidad de los resultados de la prueba. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, la demanda de instrumentos analíticos de alta precisión y alta estabilidad aumenta constantemente. Los accesorios de medición de película óptica paralela, como un componente importante, también están experimentando un crecimiento sostenido de la demanda del mercado. Para satisfacer la demanda del mercado y mejorar el rendimiento del producto, la tecnología de los accesorios de medición de película óptica paralela está innovando y mejorando constantemente. Por ejemplo, mejorar el material y el diseño de las placas de rejilla, optimizar el sistema óptico y otros medios pueden mejorar el efecto de filtrado y la capacidad de mejora de la señal. En resumen, los accesorios de medición de película óptica paralela juegan un papel crucial en el análisis de difracción de rayos X. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, sus perspectivas de aplicación serán aún más amplias.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la cristalinidad de la fibra y el ancho de medio pico. Los accesorios de fibra tienen una amplia gama de aplicaciones en diversos campos, incluida la ciencia de los materiales, la biomedicina, la ingeniería química, la nanotecnología, la exploración geológica, el monitoreo ambiental y más.