Platina de muestra giratoria de Dandong Tongda Technology: un compañero de rotación de precisión para el análisis de difracción de rayos X
2025-09-04 09:21En los campos de la ciencia de los materiales y las pruebas industriales, el análisis preciso de muestras depende de instrumentos confiables.La platina de muestra giratoriaProducido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es precisamente un accesorio crítico dedicado a mejorar la calidad del análisis de difracción de rayos X (XRD).
En el análisis de difracción de rayos X, las características de la muestra suelen plantear desafíos. Por ejemplo, cuando los granos son excesivamente gruesos, el material presenta una textura significativa (o una orientación preferente, lo que significa que los granos no están dispuestos aleatoriamente), o la muestra presenta hábitos cristalinos específicos (patrones de crecimiento cristalino), resulta difícil obtener datos de difracción estadísticamente representativos que reflejen fielmente las propiedades generales del material.
Al medir estas muestras con plataformas de muestra estáticas tradicionales, la intensidad de difracción puede distorsionarse debido a los factores mencionados, lo que afecta la precisión de la identificación de fase, el análisis de textura y otras evaluaciones. La filosofía de diseño principal de la plataforma de muestra giratoria de Tongda Technology es abordar estos desafíos permitiendo una rotación suave de la muestra dentro de su propio plano.
Función principal: eliminar errores de orientación y mejorar la fiabilidad de los datos
El principio de funcionamiento de esta platina giratoria para muestras es intuitivo y eficaz. Al accionar la rotación de la muestra de forma continua o gradual, se garantiza que el haz de rayos X cubra más granos con diferentes orientaciones durante la irradiación.
Las principales ventajas de este enfoque son:
Reducción efectiva de errores de medición:Mediante el efecto de promedio de rotación, mitiga significativamente las desviaciones de medición causadas por granos gruesos u orientación preferida, haciendo que los datos de difracción sean más representativos de las propiedades generales del material.
Garantizar la reproducibilidad de los resultados:Independientemente de si la muestra tiene textura o no, garantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción en múltiples mediciones o entre diferentes laboratorios, lo que mejora la confiabilidad y la comparabilidad de los datos.
Requisitos simplificados de preparación de muestras:Reduce hasta cierto punto las estrictas demandas de preparación perfecta de muestras, mejorando la eficiencia del análisis.
Especificaciones técnicas: Control de precisión y adaptabilidad flexible
La platina de muestra giratoria de Dandong Tongda Technology ofrece los siguientes parámetros técnicos clave para satisfacer las rigurosas demandas de la investigación científica y las pruebas industriales:
| Parámetro | Descripción |
|---|---|
| Método de rotación | Eje β (la muestra gira dentro de su propio plano) |
| Rango de velocidad de rotación | 1 ~ 60 RPM (revoluciones por minuto) Ajustable según requisitos experimentales. |
| Precisión de paso | Ancho mínimo de paso: 0,1º Admite escaneo de posicionamiento de alta precisión |
| Modos de operación | Rotación de velocidad constante (para escaneo de muestras), paso a paso, continuo y otros modos Se adapta a diversos flujos de trabajo de pruebas y necesidades de adquisición de datos. |
| Aplicaciones típicas | Control de calidad e I+D en industrias como la protección del medio ambiente y la electrónica. |
| Compatibilidad | Se utiliza principalmente como accesorio para espectrómetros de difracción de rayos X (XRD) |
Escenarios de aplicación: Al servicio de las industrias de protección ambiental y electrónica
Esta platina de muestra giratoriaNo es simplemente una ddhhhpieza de exhibición en el laboratorio; sirve directamente a industrias con altos requisitos de análisis de materiales, como la protección del medio ambiente y la electrónica.
En áreas como control de calidad, desarrollo de nuevos productos y análisis de fallas en estos campos, ayuda a los ingenieros e investigadores a realizar análisis de fase más precisos en muestras de diversas formas, incluidos polvos, materiales a granel y películas delgadas, lo que garantiza la autenticidad y confiabilidad de los datos.