En el campo de la tecnología moderna, muchos productos de alta tecnología, desde sustratos para pantallas de teléfonos inteligentes hasta componentes centrales de generadores láser, se basan en un material fundamental: monocristales sintéticos. La precisión del ángulo de corte de estos cristales determina directamente el rendimiento y la productividad de los productos finales. El analizador de orientación de rayos X es un instrumento indispensable en la fabricación de precisión de dispositivos de cristal. Mediante el principio de difracción de rayos X, mide con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos, incluyendo cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece una gama de analizadores de orientación de rayos X confiables adaptados a las necesidades de investigación, procesamiento y fabricación de la industria de materiales cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necesidades de orientación de cristales Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda incluyen principalmente modelos como TYX-200 y TYX-2H8. El modelo TYX-200 ofrece una precisión de medición de ±30″, con pantalla digital y una lectura mínima de 10″. El modelo TYX-2H8 es una versión mejorada del TYX-200, con mejoras en la estructura del goniómetro, la guía de carga, la funda del tubo de rayos X, el cuerpo de soporte y una platina de muestra elevada. Estas mejoras permiten al TYX-2H8 manipular muestras de 1 a 30 kg con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Conserva la pantalla digital de ángulos y una precisión de medición de ±30″. 02 Características técnicas avanzadas para un funcionamiento sencillo Los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda están diseñados pensando en la practicidad y la fiabilidad. Su fácil manejo no requiere conocimientos especializados ni habilidades avanzadas por parte del operador. El instrumento cuenta con una pantalla digital de ángulos, lo que garantiza mediciones intuitivas y de fácil lectura, minimizando al mismo tiempo el riesgo de lecturas erróneas. La pantalla se puede poner a cero en cualquier posición, lo que permite la lectura directa de la desviación del ángulo de la oblea. Algunos modelos están equipados con goniómetros duales para funcionamiento simultáneo, lo que mejora significativamente la eficiencia de detección. Un integrador especial con amplificación de picos mejora la precisión de la medición. El tubo de rayos X y el cable de alta tensión adoptan un diseño integrado que mejora la fiabilidad de la alta tensión. El sistema de alta tensión del detector utiliza un módulo de alta tensión de CC, y la plataforma de muestreo con succión al vacío mejora aún más la precisión y la velocidad de la medición. 03 Diseños de escenarios de muestra dedicados para diversas necesidades de prueba Para satisfacer los requisitos de medición de muestras con diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda ofrece una variedad de etapas de muestra especializadas: Platina de muestra TA: Diseñada para cristales bastoncillos, cuenta con una pista de carga y permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas). Esta platina permite medir superficies de referencia de cristales bastoncillos, así como de cristales oblea. Platina de Muestra TB: Diseñada también para cristales bastoncillos, incluye una pista de carga y rieles de soporte en forma de V. Permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg, diámetros de 2 a 6 pulgadas (ampliables a 8 pulgadas) y longitudes de hasta 500 mm. Mide las caras finales de cristales bastoncillos y las superficies de cristales oblea. Platina de Muestra TC: Se utiliza principalmente para detectar las superficies de referencia externas de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su placa de succión de diseño abierto evita la obstrucción de los rayos X y las imprecisiones de posicionamiento. La bomba de succión de la platina sujeta firmemente obleas de 5 a 20 cm, lo que garantiza una detección precisa. ​ Platina de Muestra TD: Diseñada para mediciones multipunto de obleas como silicio y zafiro. Las obleas se pueden girar manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. 04 Modelo de alto rendimiento para desafíos de muestras grandes Para la detección de muestras grandes y complejas, los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda demuestran un rendimiento excepcional. El modelo TYX-2H8, por ejemplo, es especialmente adecuado para orientar lingotes y varillas de cristal de zafiro. Este instrumento permite la medición de las orientaciones de cristal de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable de 0 a 45° mediante automatización eléctrica. Sus especificaciones técnicas son impresionantes: Tubo de rayos X con objetivo de cobre, ánodo puesto a tierra y refrigeración por aire forzado. Corriente de tubo ajustable: 0–4 mA; voltaje del tubo: 30 kV. Operación mediante control por computadora o pantalla táctil. Movimiento sincronizado del tubo de rayos X y del detector; mesa giratoria accionada eléctricamente. Consumo total de energía: ≤2 kW. Cabe destacar su capacidad para manipular muestras, incluyendo lingotes de cristal de entre 30 y 180 kg de peso, con dimensiones máximas de 350 mm de diámetro y 480 mm de longitud. Estas capacidades lo hacen ideal para la detección de muestras grandes en la mayoría de los entornos industriales. 05 Amplias aplicaciones que respaldan múltiples industrias Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se utilizan ampliamente en diversas industrias involucradas en la investigación, el procesamiento y la fabricación de materiales cristalinos. En la industria de semiconductores, permiten un corte con orientación precisa de obleas de silicio. En el campo de la optoelectrónica, se utilizan para el procesamiento de precisión de sustratos de zafiro, cristales ópticos y cristales láser. En el sector de los materiales piezoeléctricos, garantizan mediciones precisas del ángulo de corte para un rendimiento estable del producto final. Los instrumentos son especialmente adecuados para materiales de zafiro, muy demandados por su dureza, alta transmitancia de luz y excelente estabilidad fisicoquímica. El zafiro se utiliza ampliamente en sustratos LED, pantallas de electrónica de consumo y ventanas ópticas. Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se han convertido en herramientas esenciales en los campos de investigación y fabricación de materiales cristalinos de China, gracias a su rendimiento confiable, diversas configuraciones y fuerte adaptabilidad. Su diseño modular y la variedad de opciones de escenario de muestra permiten a los usuarios seleccionar configuraciones que satisfacen necesidades específicas, garantizando una alta precisión de detección y mejorando al mismo tiempo la eficiencia del trabajo. Ya sea para instituciones de investigación o para control de calidad de fabricación y optimización de procesos, estos instrumentos brindan un soporte técnico sólido, permitiendo a los usuarios lograr avances en la fabricación de precisión.

El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda utiliza tecnología avanzada de difracción de rayos X, lo que permite la detección no destructiva de información microestructural en diversos materiales. Ya sea para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la medición de parámetros de red o el análisis de tensiones residuales, este instrumento proporciona datos de prueba precisos y fiables, lo que supone un sólido apoyo para la investigación de materiales y el control de calidad. El instrumento está equipado con un generador de rayos X de alta estabilidad que ofrece un rendimiento excepcional. El voltaje del tubo se puede ajustar con precisión en un rango de 10 a 60 kV, y la corriente del tubo se puede regular de 2 a 60 mA, con una estabilidad máxima de ±0,005 %. Esto garantiza resultados de prueba altamente repetibles y precisos, proporcionando a los investigadores una garantía de datos fiable. El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda integra control inteligente y protección de seguridad integral. Incorpora un sistema de control automático PLC importado, que permite mediciones temporizadas automáticas sin supervisión. El sistema de protección de seguridad multinivel incluye protecciones contra falta de presión, falta de corriente, sobretensión, sobrecorriente, sobrepotencia, falta de agua y sobretemperatura del tubo de rayos X, lo que garantiza la seguridad de los operadores. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF incorpora una carcasa de tubo vertical con cuatro ventanas que pueden utilizarse simultáneamente. Utiliza tecnología de control PLC importada, que ofrece alta precisión y una sólida capacidad antiinterferencias, garantizando así el funcionamiento fiable del sistema. El PLC controla la conmutación y el ajuste de la alta tensión e incluye una función de entrenamiento automático para el tubo de rayos X, lo que prolonga eficazmente la vida útil tanto del tubo de rayos X como del instrumento. La carcasa de protección radiológica del instrumento está construida con vidrio emplomado de alta densidad y alta transparencia, con fugas de radiación externa muy por debajo de los estándares de seguridad nacionales, lo que permite a los investigadores realizar estudios experimentales en un entorno seguro. Como empresa nacional de alta tecnología, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. cuenta con un sistema integral de gestión de calidad y un equipo técnico de I+D. Sus productos no solo satisfacen la demanda del mercado nacional, sino que también se exportan a numerosos países y regiones, lo que demuestra la solidez y la capacidad de fabricación de instrumentos científicos de China. El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda, con su excelente rendimiento y calidad confiable, se ha convertido en un potente asistente en el campo del análisis de materiales. Ayuda a investigadores e ingenieros a desvelar las capas del mundo material y explorar posibilidades aún más desconocidas.

En los campos de la ciencia de materiales y las pruebas industriales, cada pequeño cambio en la estructura cristalina puede determinar las propiedades finales de un material. Hoy, un instrumento de precisión que encarna la esencia de la I+D de Dandong Tongda Science and Technology, el difractómetro de rayos X TD-3500, abre una nueva ventana al mundo microscópico para investigadores e inspectores industriales gracias a su excepcional rendimiento y diseño inteligente. La evolución a través de la artesanía y la tecnología Los difractómetros de la serie TD incorporan años de experiencia tecnológica de Tongda Science and Technology y evolucionan continuamente. Como el estándar de oro para el análisis de materiales, la tecnología de difracción de rayos X permite un análisis estructural integral de muestras en polvo, a granel o en película delgada: desde análisis de fases cualitativo y cuantitativo, análisis de la estructura cristalina y análisis de la estructura del material, hasta análisis de la orientación, medición de macro/microesfuerzos, tamaño de grano y determinación de la cristalinidad; el TD-3500 lo hace todo. Núcleo inteligente, estable y confiable La principal ventaja del difractómetro de rayos X TD-3500 reside en el uso de un sistema de control PLC Siemens importado. Este diseño innovador le otorga al instrumento características excepcionales como alta precisión, alta exactitud, excelente estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, manejo intuitivo y funcionalidad inteligente, lo que le permite adaptarse con flexibilidad a las necesidades de prueba e investigación de diversas industrias. El generador de rayos X ofrece dos opciones: generadores de estado sólido de alta frecuencia y alto voltaje o generadores de frecuencia de línea (工频), con alta automatización, tasas de fallos extremadamente bajas, alta capacidad antiinterferencias y excelente estabilidad del sistema. El sistema controla automáticamente el interruptor del obturador, ajusta el voltaje y la corriente del tubo e incluye una función automática de entrenamiento del tubo de rayos X. La monitorización en tiempo real mediante una pantalla táctil reduce considerablemente la complejidad operativa. Control innovador, operación revolucionaria En comparación con los circuitos de microcomputadoras de un solo chip tradicionales, la tecnología de control PLC utilizada en el TD-3500 ofrece múltiples avances: Control de circuito simple para una fácil depuración e instalación El diseño modular permite a los usuarios realizar el mantenimiento y la depuración ellos mismos, lo que reduce significativamente los costos. Gran capacidad de expansión para agregar fácilmente varios accesorios funcionales sin modificaciones de hardware Pantalla táctil a color real para interacción hombre-máquina, operación fácil de usar y visualización intuitiva de información de fallas. Medición de precisión, seguridad garantizada El goniómetro de la serie TD utiliza una transmisión de rodamientos importada de alta precisión y está equipado con un servosistema de accionamiento vectorial de bucle cerrado de alta precisión. El accionamiento inteligente incluye un microprocesador RISC de 32 bits y un codificador magnético de alta resolución, capaz de corregir automáticamente errores de posición de movimiento mínimos para garantizar una alta precisión y exactitud en los resultados de medición, con una reproducibilidad angular de hasta 0,0001 grados. Para mayor seguridad, el TD-3500 adopta una estructura de eje hueco con enclavamiento electrónico de la puerta principal, que proporciona doble protección. La ventana del obturador está conectada a la puerta principal: cuando esta se abre, el obturador se cierra automáticamente, garantizando así la seguridad total del operador. Configuración flexible, compatibilidad completa El instrumento ofrece dos opciones de detector: contador proporcional (PC) o contador de centelleo (SC) y múltiples opciones de tubos de rayos X que incluyen tubos de vidrio, cerámica corrugada y metal-cerámica, que satisfacen diferentes escenarios de aplicación y requisitos presupuestarios. El difractómetro de rayos X TD-3500 no solo es un instrumento analítico de alto rendimiento, sino también un reflejo de la incansable búsqueda de la calidad por parte de Tongda Science and Technology. Silenciosamente, desempeña un papel vital en laboratorios de todo el país, impulsando la innovación científica y el control de calidad, y convirtiéndose en el socio analítico de mayor confianza para científicos e ingenieros. Ya sea que participe en el desarrollo de nuevos materiales, análisis de recursos minerales, control de calidad farmacéutica o pruebas de materiales metálicos, el TD-3500 puede brindarle soporte de datos preciso y confiable, ayudándolo a descubrir más posibilidades en el mundo microscópico. Explore lo desconocido con TD-3500: deje que Tongda Science and Technology trabaje con usted para descubrir los misterios de la ciencia de los materiales.

En los campos de la ciencia de materiales y la inspección industrial, el análisis de difracción de rayos X, altamente eficiente y preciso, siempre ha sido fundamental para los avances científicos y el control de calidad. El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700 redefine los límites de rendimiento de los equipos de difracción con múltiples tecnologías innovadoras, ofreciendo una solución eficiente sin precedentes para la investigación académica, la I+D corporativa y las aplicaciones de control de calidad. La sinergia de múltiples detectores marca el comienzo de una nueva era de análisis de alta velocidad La serie TD-3700 supera las limitaciones de los detectores tradicionales al ofrecer diversas opciones, incluyendo detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD. En comparación con los detectores de centelleo o proporcionales convencionales, multiplica por diez la intensidad de la señal de difracción, capturando patrones de difracción de alta sensibilidad y resolución en ciclos de muestreo extremadamente cortos y mejorando significativamente la eficiencia de la generación de datos. Junto con la tecnología híbrida de conteo de fotones, los detectores funcionan sin ruido, suprimen eficazmente el fondo de fluorescencia y demuestran una excelente resolución energética y relación señal-ruido, lo que los hace especialmente adecuados para analizar muestras complejas y trazas. Los modos duales de difracción/transmisión amplían los límites de la aplicación El instrumento no solo admite el escaneo por difracción convencional, sino que también introduce de forma innovadora un modo de transmisión. Este modo ofrece una resolución significativamente mayor que el modo de difracción, lo que lo hace especialmente adecuado para aplicaciones de alta gama como el análisis de la estructura cristalina y la investigación de nanomateriales. Por otro lado, el modo de difracción, con su altísima estabilidad de señal, es ideal para la identificación rutinaria de fases. Otra gran ventaja del modo de transmisión es su compatibilidad con el análisis de muestras traza, lo que facilita enormemente la preparación de muestras y la disponibilidad limitada de las mismas. Esto abre nuevas posibilidades para el desarrollo farmacéutico, el análisis geológico, la identificación del patrimonio cultural y otros campos. Diseño modular e inteligente para una plataforma experimental confiable y fácil de usar El TD-3700 adopta un diseño de hardware modular donde todos los componentes son fáciles de conectar y usar sin necesidad de calibración, lo que reduce significativamente los costos de mantenimiento y la tasa de fallos. Su sistema de adquisición con un solo clic y su software personalizado mejoran enormemente la comodidad operativa, permitiendo que incluso los usuarios no especializados puedan comenzar a usarlo rápidamente. Una interfaz táctil permite monitorear el estado del instrumento en tiempo real, mostrando el progreso experimental de un vistazo. La seguridad también es absoluta: un dispositivo electrónico de bloqueo de puerta ofrece doble protección, mientras que un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje garantiza un rendimiento estable y fiable. En combinación con una unidad de control antiinterferencias, mantiene la fiabilidad operativa a largo plazo y garantiza la seguridad del usuario. Nacido para la era: un referente en tecnología de difracción con visión de futuro El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700 integra análisis rápido, operación inteligente y seguridad integral. No solo hereda la estabilidad de la serie TD-3500, sino que también logra avances en tecnología de detectores, flexibilidad de aplicación e integración de sistemas. Su desarrollo satisface ampliamente las necesidades de los laboratorios modernos de análisis de muestras de alto rendimiento, alta precisión y diversidad, lo que lo convierte en una herramienta indispensable para la caracterización de materiales, el análisis químico, la investigación farmacéutica y la investigación académica.

El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y sustancias pastosas. Basado en el principio de difracción de rayos X, permite el análisis cualitativo y cuantitativo, así como el análisis de la estructura cristalina, de materiales policristalinos como muestras en polvo y metálicas. Se aplica ampliamente en industrias como la agricultura, la defensa nacional, la farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la educación/investigación. Principio fundamental: difracción de rayos X, la clave del mundo microscópico El difractómetro de rayos X TDM-20 funciona según el principio de difracción de rayos X. Cuando los rayos X iluminan una muestra, interactúan con los átomos de la misma y se difractan. Las diferentes estructuras cristalinas producen patrones de difracción únicos, similares a las huellas dactilares individuales. Al analizar estos patrones, el instrumento revela con precisión información clave sobre la estructura cristalina de la muestra, la composición de las fases y más, desvelando los secretos que se esconden a nivel microscópico. Avance en el rendimiento El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) supera el estándar internacional anterior de 600 W, tras una actualización integral a 1600 W. El instrumento se caracteriza por su fácil manejo, rendimiento estable y bajo consumo de energía. Puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alta velocidad, lo que supone un avance significativo en su rendimiento general. Características del dispositivo Tamaño compacto y diseño ligero. Diseño de fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje para un menor consumo general de energía Admite calibración y prueba rápida de muestras. Control de circuito simplificado para una fácil depuración e instalación La precisión lineal del ángulo de difracción de espectro completo alcanza ±0,01° Accesorios ricos Compatible con varios accesorios, incluido un detector de matriz 1D, un detector proporcional, un cambiador de muestras automático de 6 posiciones y una platina de muestra giratoria. Conclusión El difractómetro de rayos X TDM-20, con su excelente rendimiento, facilidad de uso y amplia gama de aplicaciones, se ha convertido en una herramienta indispensable en numerosas industrias y campos de investigación. Actúa como un "detective" del mundo microscópico, ayudándonos a desentrañar los misterios de la estructura de los materiales e impulsando el progreso en diversos ámbitos. Si usted también desea profundizar en los secretos microscópicos de la materia, considere el TDM-20 para embarcarse en un viaje de investigación y producción precisa y eficiente.

Originalmente, los accesorios de batería son dispositivos experimentales diseñados específicamente para pruebas electroquímicas, utilizados principalmente para la caracterización in situ de materiales de batería durante los procesos de carga y descarga, comúnmente encontrados en difracción de rayos X (XRD). 1. Funciones principales y escenarios de aplicación de los accesorios de batería originales (1)Prueba original: La monitorización en tiempo real de los cambios en la estructura de fase del material (como la estructura cristalina y la transición de fase) durante la carga y descarga de la batería puede evitar la contaminación de la muestra o los cambios de estado causados ​​por el desmontaje de la batería. Compatible con múltiples sistemas electroquímicos, incluyendo compuestos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, incrustaciones metálicas, etc. (2) Compatibilidad multimodal: Difracción de rayos X (DRX): se utiliza para analizar la evolución estructural de los materiales de los electrodos positivos/negativos durante los procesos de carga y descarga. 2. Composición estructural y características técnicas de los accesorios de batería originales (1) Componentes clave: Cubierta de aislamiento inferior: generalmente hecha de cerámica de alúmina o material de politetrafluoroetileno, que contiene canales de flujo de refrigerante o tuberías de instalación de cables de resistencia, que se utilizan para controlar la temperatura. Cubierta conductora superior: conectada a la cubierta aislante inferior mediante pernos para formar un espacio cerrado, con una ventana de berilio (diámetro 15 mm, espesor 0,1 mm) en la parte superior para transmitir rayos X. Sistema de electrodos: originalmente los accesorios de batería incluyen un electrodo inferior (con una columna de soporte) y un resorte de mariposa, los cuales se conectan eléctricamente a través de fijación por compresión, simplificando el proceso de montaje. (2) Innovación tecnológica: Diseño formal: En comparación con el método invertido tradicional, la estructura formal no requiere ensamblaje giratorio, lo que facilita su operación en la guantera y garantiza la planitud de la ventana de berilio y el diafragma. Sellado y control de temperatura: Tubería de circulación de refrigerante integrada y dispositivo de calentamiento de cable de resistencia, adecuado para un rango de temperatura de -400 ℃ a 400 ℃. 3. Ventajas técnicas de los accesorios de batería originales (1) Operación simplificada: Reduzca los pasos de montaje, disminuya el tiempo de operación dentro de las cajas de guantes y mejore la eficiencia. El resorte de mariposa fija el electrodo sin necesidad de girarlo ni apretarlo, evitando interferencias con la estructura simulada de la batería. (2) Mejora del rendimiento: La alta transmitancia de rayos X (>90%) de las ventanas de berilio garantiza la intensidad de la señal de detección. La etapa de muestra multifuncional admite el cambio automático de muestra y es adecuada para pruebas de alto rendimiento. En general, los accesorios de batería originales son herramientas importantes para la investigación electroquímica, ya que su diseño optimiza el proceso de ensamblaje de las estructuras de simulación de baterías tradicionales y mejora la confiabilidad y aplicabilidad de las pruebas originales.

Una plataforma de muestra multifuncional es una plataforma experimental o de prueba que integra múltiples módulos funcionales y se utiliza para transportar, manipular y probar diferentes tipos de muestras (como materiales, muestras biológicas, componentes electrónicos, etc.). Suele ofrecer una configuración y escalabilidad flexibles para satisfacer diversas necesidades experimentales y se utiliza ampliamente en investigación científica, pruebas industriales, medicina y otros campos. 1. Funciones y características principales de la platina de muestra multifuncional (1) Ajuste multidimensional de la platina de muestra multifuncional Control de movimiento: admite movimientos precisos como traslación, rotación e inclinación de los ejes X/Y/Z, y es compatible con escaneo automático o ajuste fino manual. Simulación ambiental: Puede integrar módulos como control de temperatura (-196 ° C a varios miles de grados), control de humedad, entorno de vacío/atmósfera (como gas inerte, gas corrosivo), etc. Carga de fuerza/eléctrica/magnética: Algunos modelos admiten la aplicación de fuerza mecánica, corriente, campo magnético, etc., utilizados para estudiar el rendimiento de muestras en condiciones extremas. (2) Compatibilidad y escalabilidad del soporte de muestra multifuncional Adaptarse a múltiples instrumentos analíticos El diseño modular permite a los usuarios agregar funciones según sus necesidades, como estaciones de calentamiento, estaciones de enfriamiento, sistemas de infusión de fluidos, etc. (3) Alta precisión y estabilidad de la platina de muestra multifuncional. Precisión de desplazamiento de nivel nano, diseño antivibración, adecuado para observación in situ o experimentos a largo plazo. Algunos modelos admiten la caracterización in situ (como la observación en tiempo real de los cambios de la muestra durante los procesos de estiramiento, compresión y calentamiento). (4) Automatización e inteligencia del soporte de muestra multifuncional Las pruebas automatizadas se logran controlando las trayectorias de movimiento y los parámetros ambientales a través del software. Sensores integrados y sistema de adquisición de datos, registro en tiempo real de las reacciones de la muestra (como deformación, cambios de resistencia, etc.). 2. Escenarios de aplicación típicos de la mesa de muestra multifuncional: (1) Ciencia de los materiales del soporte de muestra multifuncional Estudiar el desempeño de los materiales en ambientes de alta/baja temperatura, estrés y corrosión. Observación SEM/TEM in situ de procesos de deformación de materiales, transformación de fases o cristalización. (2) Etapa de muestra multifuncional biomédica Los experimentos de cultivo celular y permeación de fármacos requieren control de temperatura, control de humedad y entorno gaseoso. Cooperar con imágenes microscópicas para observar los cambios dinámicos de muestras vivas. (3) Electrónica y semiconductores para soporte de muestra multifuncional Prueba de chip: proporciona funciones como posicionamiento de sonda, choque térmico y pruebas de rendimiento eléctrico. Posicionamiento y procesamiento de muestras en procesos de fotolitografía o recubrimiento. (4) Investigación química/energética en un soporte de muestra multifuncional Monitoreo in situ de reacciones catalíticas (como reacciones superficiales en condiciones de iluminación y calentamiento). Prueba de electrodos de batería (simulando expansión/contracción durante los procesos de carga y descarga).

El accesorio de medición integrado multifuncional del difractómetro de rayos X (DRX) es un componente clave para el análisis multiescena y multiescala. Gracias a su diseño modular, satisface las necesidades de difracción de polvo, dispersión angular pequeña, análisis de tensiones residuales, ensayos in situ, etc. A continuación, se presentan los accesorios de medición integrados multifuncionales más comunes y sus funciones principales: 1. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de temperatura y ambiente. (1) Función: Admite pruebas de muestras bajo control de alta temperatura, baja temperatura y humedad, y se utiliza para estudiar los cambios en la estructura cristalina de los materiales en diferentes condiciones de temperatura o humedad. (2) Características: Rango de temperatura: desde temperatura ambiente hasta 1500 ℃; Control automático de temperatura y regulación de humedad, adecuado para catálisis in situ, análisis de cambio de fase y otros experimentos. (3) Aplicación: Transición de fase de materiales metálicos, análisis de la cristalinidad de polímeros, investigación sobre la estabilidad térmica de materiales inorgánicos. 2. Muestreador automático y platina de muestra para accesorios de medición integrados multifuncionales (1) Función: Implementa el cambio automático y el posicionamiento preciso de múltiples muestras para mejorar la eficiencia de la prueba. (2) Características: Accesorios de apoyo como mesas de rotación de muestras y mesas de microdifracción para pruebas direccionales de muestras complejas; Colabore con software inteligente para optimizar los parámetros de medición e identificar automáticamente las configuraciones de muestra. (3) Aplicación: Pruebas de muestras por lotes, análisis de películas delgadas o microáreas. 3. Accesorios de medición integrados multifuncionales adecuados para detectores bidimensionales y detectores unidimensionales de alta velocidad (1) Función: Admite la recopilación de datos multidimensionales para mejorar la capacidad de análisis de muestras complejas. (2) Características: Detector unidimensional de alta velocidad, adecuado para difracción de polvo convencional; Detector de matriz de semiconductores bidimensional que puede cambiar entre modos de dimensión cero, unidimensional o bidimensional, ampliando las capacidades de prueba in situ dinámicas o de área micro. (3) Aplicación: Análisis de orientación de cristales de materiales 2D, monitoreo dinámico de reacciones in situ. 4. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de difracción de microárea y tensión residual. (1) Función: Realizar pruebas direccionales en la distribución de tensión o en pequeñas áreas de la superficie de los materiales. (2) Características: Combina el sistema óptico θ/θ con una fuente de rayos X de microfoco para lograr una microdifracción de nivel submilimétrico; medición no destructiva, utilizada para el análisis de tensión de piezas de metal y dispositivos semiconductores. (3) Aplicación: Pruebas de fatiga de componentes aeroespaciales, caracterización de tensiones de películas delgadas de semiconductores. 5. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de automatización y calibración inteligente. (1) Función: Garantizar la precisión y consistencia de las pruebas mediante el reconocimiento de componentes y la tecnología de calibración automática. (2) Características: Configuración de accesorios de reconocimiento automático de código QR, condiciones de prueba óptimas guiadas por software; Programa de calibración completamente automático para reducir errores de operación humana. (3) Aplicación: Cambio de accesorios complejos (como modo de alta temperatura + AXS), operación fácil para principiantes. El diseño de accesorios de los difractómetros de rayos X modernos prioriza la modularidad, la inteligencia y la automatización. Mediante la colaboración entre software y hardware, es posible cambiar rápidamente los accesorios, optimizar los parámetros y estandarizar los datos. Las tendencias futuras incluyen capacidades de análisis de microáreas de mayor precisión, soluciones integradas para pruebas dinámicas in situ y sistemas inteligentes de gestión de accesorios basados ​​en inteligencia artificial.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-10 es un dispositivo de análisis de fases compacto y de alta precisión. A continuación, se presenta una introducción detallada del producto: 1. Funciones principales y aplicaciones del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-10 (1) Análisis de fases Adecuado para el análisis cualitativo y cuantitativo de materiales en polvo, sólidos, pastosos y muestras de película delgada, puede identificar la estructura cristalina, la composición de fases y la cristalinidad en las muestras. (2) Análisis de la estructura cristalina Puede medir el tamaño del grano, la orientación del cristal, la tensión macroscópica/microscópica y las propiedades estructurales de los materiales. (3) Aplicaciones industriales y de investigación Ampliamente utilizado en campos como la geología, la ciencia de los materiales, la química, la biología, la medicina y la industria nuclear, adecuado para pruebas rápidas de laboratorio y demostraciones de enseñanza. 2. Características técnicas del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-10 (1) Diseño compacto y rendimiento eficiente. Tamaño compacto, peso ligero, bajo consumo de energía, fácil de usar, ideal para entornos de escritorio. Equipado con una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, alcanza una potencia de 1600 W (véase el modelo TDM-20), lo que garantiza la estabilidad de los rayos X. (2) Medición de alta precisión La precisión de medición de la posición del pico de difracción alcanza los 0,001°, con una excelente repetibilidad angular, lo que cumple con los requisitos de análisis de alta precisión. Mediante los principios de la geometría de Debye-Scherrer y la ley de Bragg, la señal de reflexión del cristal se registra mediante difracción de superficie cónica, logrando una identificación de fase precisa. (3) Control inteligente y procesamiento de datos Adquisición de datos controlada por computadora, soportando la adquisición y procesamiento de datos en tiempo real bajo el sistema Windows, con una interfaz operativa intuitiva. Se puede combinar con detectores de matriz (en referencia a la tecnología de detector de alto rendimiento de TDM-20) para mejorar la eficiencia y la sensibilidad de la detección. 3. Escenarios aplicables del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-10 (1) Campo de investigación Las universidades y los institutos de investigación se utilizan para la investigación y el desarrollo de materiales, el análisis de la estructura cristalina y la caracterización de nanomateriales. (2) Aplicaciones industriales Identificación de minerales, análisis de composición de medicamentos, pruebas de seguridad alimentaria (como detección de impurezas en cristales), etc. (3) Demostración de enseñanza Dispositivo de escritorio fácil de operar, adecuado para la enseñanza experimental de los estudiantes, que cubre la teoría básica y el funcionamiento práctico del análisis de fases. 4. Parámetros técnicos del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-10 (1) Precisión de medición: precisión de la posición del pico de difracción de 0,001° (2) Método de control: Control por computadora (sistema Windows) (3) Fuente de alimentación: Diseño de bajo consumo, fuente de alimentación de alto voltaje y alta frecuencia. (4) Detector: Admite detectores de matriz o detectores proporcionales (consulte los accesorios del TDM-20) (5) Soporte de muestra: se puede combinar con un soporte de muestra giratorio o un cambiador de muestra automático (accesorio opcional) 5. Ventajas del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-10 (1) Alta rentabilidad: los equipos nacionales tienen un rendimiento excepcional y son mucho más económicos que los equipos importados, lo que los hace adecuados para laboratorios con presupuestos limitados. (2) Detección rápida: optimiza el proceso de calibración, acorta el tiempo de prueba y mejora la eficiencia experimental. (3) Escalabilidad: admite múltiples accesorios (como sistemas de enfriamiento de baja temperatura, accesorios de batería in situ, etc.), que pueden extenderse al análisis de escenarios especiales. 6. Series relacionadas y comparación del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-10 Modelo TDM-20: TDM-20 es una versión mejorada del TDM-10, con mayor potencia (1600 W), nuevos detectores de matriz de alto rendimiento, soporte para cambiadores de muestras automáticos y otros accesorios, adecuados para necesidades de investigación científica e industrial más complejas. Otros modelos: La serie TD de Dandong Tongda también incluye instrumentos de difracción de alta resolución como TD-3500 y TD-3700, así como analizadores de cristal de la serie TDF, que cubren las necesidades de análisis multidimensional. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-10 se ha convertido en el equipo predilecto para el análisis de fases en laboratorio gracias a su diseño compacto, medición de alta precisión y funcionamiento inteligente. Ofrece una amplia gama de aplicaciones, siendo especialmente adecuado para la investigación científica y entornos industriales que requieren una detección rápida y precisa. Si se requiere una configuración superior, se puede considerar el TDM-20 u otros modelos de la misma serie.

El irradiador de rayos X es un equipo de investigación científica que utiliza rayos X para irradiar muestras biológicas, materiales o animales pequeños y se utiliza ampliamente en campos como la biología, la medicina y la ciencia de los materiales. 1. Funciones básicas y principios técnicos de los equipos de irradiación de rayos X (1) Posicionamiento funcional Investigación biológica: se utiliza para daños en el ADN, mutagénesis celular, inducción de diferenciación de células madre, investigación de mecanismos tumorales, experimentos de inmunología y terapia genética, etc. Aplicaciones médicas: desinfección por radiación, procesamiento de productos sanguíneos, análisis de apoptosis de células tumorales, pretratamiento para trasplante de órganos, etc. Ciencia de los Materiales y del Medio Ambiente: Modificación de Nanomateriales, Cuarentena Radiactiva de Alimentos, Análisis de Contaminantes del Suelo, etc. (2) Principios técnicos Al acelerar los electrones con alto voltaje para colisionar con objetivos metálicos, se generan rayos X; después de la optimización a través de filtros, dispositivos limitadores de haz, etc., la muestra se irradia para lograr una intervención dirigida controlando con precisión la tasa de dosis, el tiempo de irradiación y el alcance. 2. Parámetros técnicos clave del equipo de irradiación de rayos X (1) Rendimiento de radiación Voltaje del tubo: 30-225 kV (varían según el modelo). Tasa de dosis: 0,1-16 Gy/minuto, lo que permite un ajuste preciso y continuo. Uniformidad de dosis: ≥ 95% (nivel líder en la industria). Ángulo de radiación y área de cobertura: El ángulo de radiación máximo es de 40 grados y el diámetro de cobertura es de hasta 30 cm. (2) Diseño de operación y seguridad Control inteligente: interfaz de operación de pantalla táctil, función de exportación de datos (compatible con Excel). Protección de seguridad: gabinete blindado con plomo, dosis ambiental<20 μ R/h (5cm away from equipment), multiple interlocks and fault alarms. Sistema de enfriamiento: La tecnología de enfriamiento de circuito cerrado extiende la vida útil de los tubos de rayos X (hasta 2000 horas). (3) Tipos de muestra aplicables Células, tejidos, órganos, bacterias, ratones, ratas, etc., apoyan la irradiación de pequeños animales en estado consciente o anestesiado. 3. Productos y fabricantes típicos de equipos de irradiación de rayos X Representante nacional: Dandong Tongda Technology Co., Ltd Ventajas: La localización reduce los costos de adquisición, simplifica las operaciones (sin la necesidad de conocimientos complejos de rayos X) y cumple con los estándares de seguridad nacionales. 4. Ampliación de los campos de aplicación de los equipos de irradiación de rayos X (1) Biología y Medicina Investigación celular: inducción de mutaciones genéticas, regulación del ciclo celular, análisis de transducción de señales. Investigación de tumores: irradiación de modelos de células tumorales para explorar los mecanismos de apoptosis o la sensibilidad a la radiación. Estudios preclínicos: Irradiación de todo el cuerpo de animales pequeños (como ratones) para investigaciones sobre el sistema hematopoyético, la respuesta inmune, etc. (2) Ciencias de los Materiales y del Medio Ambiente Modificación de nanomateriales: cambio de la estructura cristalina o de las propiedades superficiales de los materiales mediante irradiación. Cuarentena de alimentos: detección no destructiva de objetos extraños, conservantes residuales o inactivación microbiana. Eliminación de residuos nucleares: ayudar a analizar la distribución de materiales radiactivos para garantizar una eliminación segura. (3) Agricultura y cría Mejoramiento por mutación: irradiación de semillas de plantas o insectos para acelerar las mutaciones genéticas y detectar rasgos superiores. 5. Tendencias de desarrollo y desafíos de los equipos de irradiación de rayos X (1) Dirección de actualización técnica Inteligencia: Combinación de algoritmos de IA para optimizar la distribución de dosis y el diseño experimental. Seguridad: Reducir las fugas de radiación ambiental y mejorar los estándares de protección. Integración multifuncional: como la integración de imágenes de TC y funciones de irradiación para lograr la integración del "procesamiento de detección". (2) Desafíos de la industria El control de dosis de alta precisión y la estabilidad requieren una optimización continua. Se necesitan datos más básicos para sustentar las diferencias en la sensibilidad a la radiación entre muestras biológicas. En general, los equipos de irradiación de rayos X son una herramienta indispensable en la investigación científica y la industria. Los equipos de irradiación de rayos X fabricados por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. logran un equilibrio entre rendimiento y coste y se utilizan ampliamente en diversos campos. En el futuro, con la innovación tecnológica, su ámbito de aplicación se ampliará aún más a áreas de vanguardia como la medicina de precisión y la investigación y el desarrollo de nuevos materiales.

1. Analizador de cristales de rayos X de la serie TDF Función y aplicación: Esta serie de equipos se utiliza principalmente para estudiar la microestructura interna de los materiales, es adecuada para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, el análisis de tensiones residuales, la investigación de la estructura de placas/varillas, el análisis de la estructura de materiales desconocidos y el análisis de dislocación de monocristales. Características técnicas: Como instrumento analítico a gran escala, la serie TDF integra tecnología de difracción de rayos X de alta precisión, que puede proporcionar un análisis profundo de microestructuras y respaldar la investigación y el control de calidad en campos como la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores y el procesamiento de cristales. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF incorpora tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que garantiza un funcionamiento fiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje y la elevación, y también controla automáticamente el tubo de rayos X, prolongando así su vida útil y la del instrumento. 2. Orientador de cristales de rayos X Función y aplicación: Mediante el principio de difracción de rayos X, se puede determinar con rapidez y precisión el ángulo de corte de monocristales naturales o artificiales (como cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores). Al combinarse con una máquina de corte, se puede lograr un corte direccional. Ampliamente utilizado en las industrias de investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos. Ventajas técnicas: Puede reemplazar la tecnología tradicional de irradiación de isótopos radiactivos y completar directamente el análisis direccional de alta precisión en el laboratorio, mejorando la eficiencia y la precisión del procesamiento de cristales.

El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 es un dispositivo de escritorio compacto que se utiliza principalmente para el análisis de fases de materiales y la investigación de la estructura cristalina. 1. Funciones principales del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 Análisis de fase de TDM-20: TDM-20 puede realizar análisis cualitativos/cuantitativos en muestras policristalinas como polvos, sólidos y materiales pastosos. Análisis de la estructura cristalina de TDM-20: Basado en el principio de difracción de rayos X, TDM-20 admite el análisis de estructuras cristalinas de muestras de metales, minerales, compuestos, etc. 2. Características técnicas del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 Alta potencia y rendimiento del TDM-20: gracias a una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, la potencia se incrementa a 1600 W. Equipado con nuevos detectores de matriz de alta velocidad o detectores proporcionales para mejorar la eficiencia y precisión de la adquisición de datos. Operación conveniente de TDM-20: el dispositivo es pequeño en tamaño y liviano, adecuado para espacios de laboratorio compactos; admite calibración y pruebas rápidas, con control de circuito simple y fácil instalación y depuración. La precisión y estabilidad del TDM-20: la repetibilidad del ángulo es tan alta como 0,0001 ° y la linealidad del ángulo de difracción de espectro completo es de ± 0,01 °. Escalabilidad del TDM-20: el TDM-20 puede equiparse con un cambiador de muestras automático de 6 dígitos, una platina de muestra giratoria, un sistema de enfriamiento de baja temperatura y accesorios de temperatura alta/media baja in situ para satisfacer diversas necesidades de pruebas. 3. Escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 Los campos de investigación de TDM-20 incluyen la caracterización de la estructura cristalina y el análisis de la transición de fase en la ciencia de los materiales, la geología y la investigación farmacéutica. Aplicaciones industriales de TDM-20: evaluación de la consistencia de medicamentos en la industria farmacéutica, identificación de minerales, análisis de catalizadores petroquímicos, pruebas de seguridad alimentaria (como determinación de la composición de cristales). Educación y Defensa Nacional del TDM-20: Identificación Rápida de Fases en Experimentos de Enseñanza Universitaria y Desarrollo de Material de Defensa Nacional. 4. Fabricantes y accesorios del TDM-20 Fabricante: Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Accesorios opcionales: detector de matriz unidimensional, detector proporcional, cambiador de muestras automático de 6 dígitos, platina de muestra giratoria, monocromador de cristal doblado de grafito, etc. En general, el TDM-20, con su alta potencia, alta precisión y diseño compacto, se ha convertido en una herramienta eficiente para el análisis de fases de laboratorio y se usa ampliamente en los campos de investigación científica, industria y enseñanza.