PAGotroóptico películaaccesorio de medición Es un componente especializado utilizado en difractómetros de rayos X, principalmente para mejorar la intensidad de la señal y la precisión de detección de muestras de película delgada.

1.Funciones principales deAccesorios de medición de película óptica paralelaes

Supresión de interferencias por dispersión: al aumentar la longitud de la rejilla, se filtran más rayos dispersos, se reduce la interferencia de la señal del sustrato en los resultados de difracción de la película delgada y, por lo tanto, se mejora la intensidad de la señal de la película delgada.

Mejora de la precisión del análisis de películas delgadas: adecuado para pruebas de espesor y otros escenarios de películas delgadas multicapa nanométricas, combinado con accesorios de difracción de ángulo pequeño, análisis de difracción de ángulo bajo en el rango de 0 a 1000 nm.°~5°se puede lograr

2. Características estructuralesdeAccesorios de medición de película óptica paralelaes

Diseño de rejilla: al extender la longitud de la rejilla, se optimiza la trayectoria de los rayos X, se mejora la capacidad de filtrado de los rayos dispersos y se garantiza la pureza de la señal de difracción de película delgada.

3. Ámbito de aplicación depagotroóptico películaaccesorio de medición

Investigación en materiales de película delgada: análisis de la estructura cristalina de películas nano multicapa y películas ultradelgadas.

Pruebas de semiconductores y recubrimientos: se utilizan para evaluar la uniformidad, la calidad cristalina y otras características de películas delgadas.

4. Equipos compatibles parapagotroóptico películaaccesorio de medición

Este accesorio se puede adaptar a varios modelos de difractómetros de rayos X, incluidos:

Difractómetro de rayos X TD-3500

Difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000

Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700

Difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20

En general, elpagotroóptico películaaccesorio de medición Mejora significativamente la calidad de la señal de difracción de muestras de película delgada a través de la optimización estructural y la supresión de dispersión, y se usa ampliamente en ciencia de materiales, fabricación de semiconductores y otros campos, especialmente adecuado para las necesidades de análisis de alta precisión de películas delgadas a nanoescala.