ElDifractómetro de rayos X TD-3500(TD-3500XRD) es un instrumento analítico de alto rendimiento producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Se utiliza principalmente para el análisis de la estructura cristalina, la composición de fases y las propiedades del material.

1. Parámetros técnicos básicos deDifractómetro de rayos X TD-3500

La fuente de rayos X del difractómetro TD-3500:

Permite la selección de material objetivo Cu K α o Mo K α, con un rango de voltaje de tubo ajustable de 10 a 60 kV y un rango de corriente de tubo de 2 a 80 mA, compatible con generadores de estado sólido de alta frecuencia y alto voltaje o generadores de frecuencia industrial. Equipado con un sistema de control PLC Siemens importado, logra una conmutación automatizada de la puerta de luz, regulación de la presión/flujo del tubo y funciones de entrenamiento con tubo de rayos X con alta estabilidad.

Sistema de medición de ángulos deDifractómetro de rayos X TD-3500:

Con una estructura vertical θ-2 θ y un radio de círculo de difracción de 185 mm (ajustable a 285 mm), permite analizar muestras líquidas, de sol, en polvo y en bloque. La resolución angular alcanza los 0,0001 grados, la precisión de paso es de 0,0001 grados y el rango de medición angular es de -5° a 165° (2 θ), ideal para análisis de cristales de alta precisión.

Detector deDifractómetro de rayos X TD-3500:

Detector proporcional (PC) o detector de centelleo (SC) opcional, con un rango lineal de conteo de ≥ 700000 cps y ruido de fondo ≤ 1 cps. Equipado con tecnología de monocromador de doble cristal, que suprime eficazmente el componente Kα2 y mejora la monocromaticidad de la radiación.

Control y software deDifractómetro de rayos X TD-3500:

Un sistema de interacción hombre-máquina basado en PLC importado y pantalla táctil a color real, que admite configuración de parámetros, monitoreo en tiempo real y diagnóstico de fallas.

El software tiene funciones como correspondencia de diagramas de fases, análisis de tensiones y cálculo del tamaño de grano, y puede generar informes estandarizados.

2. Características técnicas y ventajas deDifractómetro de rayos X TD-3500

Alta precisión y estabilidad deDifractómetro de rayos X TD-3500:

El instrumento de medición de ángulos incorpora rodamientos importados de alta precisión y un sistema de servoaccionamiento de circuito cerrado, con corrección automática de errores de movimiento y una repetibilidad superior a 0,0006°. Su diseño modular PLC ofrece una alta capacidad antiinterferencias, garantiza un funcionamiento sin fallos a largo plazo y permite la incorporación de múltiples accesorios funcionales.

Seguridad y protección deDifractómetro de rayos X TD-3500:

El dispositivo electrónico de enclavamiento de la puerta principal ofrece doble protección: la compuerta de luz y la puerta principal se enclavan para garantizar un funcionamiento seguro. Equipado con un sistema de refrigeración por agua circulante (dividido o integrado), controla automáticamente la temperatura del agua y monitoriza la temperatura del tubo de rayos X para evitar obstrucciones.

Funcionamiento inteligente deDifractómetro de rayos X TD-3500:

La pantalla táctil muestra el estado del instrumento en tiempo real, permite configurar parámetros (como rango de escaneo, tamaño de paso, tiempo de muestreo) y diagnóstico remoto de fallas. Modos de escaneo predefinidos (θ-2 θ, difracción de monocristal, análisis de película delgada) para satisfacer diferentes necesidades de muestra.

3. Las principales áreas de aplicación deDifractómetro de rayos X TD-3500

Análisis del material del difractómetro de rayos X TD-3500:

Análisis cualitativo/cuantitativo de fases, identificación de estructura cristalina, determinación de tamaño de grano y cristalinidad.

Composición de fases y análisis de tensiones de materiales como semiconductores, cerámicas, metales, polímeros, etc.

Experimento de investigación deDifractómetro de rayos X TD-3500:

Análisis de la orientación de películas, investigación de transición de fase de materiales catalizadores/baterías y caracterización de estructuras de nanomateriales.

Cristales biológicos, medición de tensiones macroscópicas/microscópicas y análisis de la evolución de la temperatura del material (requiriendo el uso de un analizador térmico).

Caso de usuario típico deDifractómetro de rayos X TD-3500:

Universidad de Tecnología de Wuhan (Investigación de estructura de nuevos materiales), Instituto de Tecnología de Beijing (Investigación de transformación de fase de semiconductores de óxido), Universidad de Tongji (Análisis de estructura de aleación de titanio), etc.

4. Puntos clave para la operación y mantenimiento deDifractómetro de rayos X TD-3500

Proceso de operación deDifractómetro de rayos X TD-3500:

Arranque y precalentamiento de 10 a 15 minutos → Preparación y fijación de la muestra → Ajuste de los parámetros de escaneo (como rango 2θ, ancho de paso, presión/flujo del tubo) → Inicio del escaneo → Análisis de datos. Compatible con la combinación de SEM y EDS para lograr una caracterización completa de micro/nanoestructuras y componentes. Ampliamente utilizado en ciencia de materiales, química, física y otros campos, es la herramienta preferida para el análisis de estructura y fase cristalina.