Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de difractómetros de rayos X, tiene una trayectoria de 14 años y ha cooperado con muchas universidades y empresas nacionales y extranjeras.

Con el desarrollo de la tecnología de detección XRD, la miniaturización de los instrumentos, el bajo consumo de energía y el uso sencillo, la detección inteligente se está volviendo cada vez más popular y se ha convertido en la tendencia de los instrumentos.

Un difractómetro de rayos X es un instrumento utilizado para medir la tensión residual dentro de un material. Al analizar el patrón de difracción de rayos X del material, se calcula la distribución de tensiones residuales dentro del material.

En el desarrollo de la tecnología de imágenes de rayos X, la tecnología de imágenes de rayos X ha formado un sistema de tecnología de prueba no destructiva de rayos X relativamente completo. Para satisfacer las necesidades, se innova constantemente en nuevas tecnologías de detección y se adopta la tecnología de detección en línea por rayos X.

En el láser de rayos X europeo XFEL, los investigadores utilizaron escandio para crear un generador de impulsos más preciso, con una precisión de un segundo cada 300 mil millones de años, aproximadamente mil veces más preciso que los relojes atómicos estándar actuales basados ​​en cesio.

El fenómeno policristalino de los fármacos se refiere a la formación de diferentes estados cristalinos de una molécula compuesta en estado sólido debido a la diferente disposición de los cristales y métodos de llenado. ​

El amianto, también conocido como "amianto", se refiere a productos minerales de silicato con alta resistencia a la tracción, alta flexibilidad, resistencia a la erosión química y térmica, aislamiento eléctrico y capacidad de hilatura. Los tres tipos más comunes son el crisotilo, el hierro y la cianita.

La Universidad Sungkyunkwan en Corea del Sur ha demostrado que los nanocompuestos de nano-Na5Ti3F14/carbono tienen excelentes propiedades electroquímicas como electrodo negativo de baterías de iones de sodio.

El difractómetro de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de interacción entre rayos X y sustancias para obtener información como la estructura cristalina y la constante de red de sustancias midiendo el ángulo de difracción y la intensidad de los rayos X en las sustancias.

Los métodos de caracterización de catalizadores monoatómicos de cobre se utilizan a menudo para determinar su estructura y propiedades, y a continuación se presentan varios métodos de caracterización comunes.