La composición del patrón de difracción consiste principalmente en la posición y la intensidad del pico de difracción. El análisis de ladifracción de rayos XEl patrón se basa en cambios de intensidad y posición para dilucidar las transformaciones materiales tanto a escala micro como macro..

Cada material posee su propio patrón de difracción único, también conocido como característicadifracciónpatrón. El tamaño de celda del material determina la posición de la línea de difracción, es decir, la posición del pico observado en el espectro de difracción; mientras que el tipo y disposición de los átomos dentro de la celda determinan la intensidad de cada pico de difracción. Además, la simetría de la forma de un cristal dicta el número de picos de difracción presentes.

Eldifractómetro de rayos Xes actualmente el sistema más avanzado del mundo, diseñado para ser completamente funcional y adaptable para diversas tareas de determinación, análisis e investigación de microestructuras de polvos, películas y cristales completos. Cada sustancia tiene su propio espectro de difracción característico en el espectro de difracción de rayos X. En una mezcla heterogénea de sustancias, el espectro XRD representa una simple superposición de cada fase.

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