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Festival del Medio Otoño el 15 de agosto

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. está comprometida con la investigación, el desarrollo, la producción y la venta de difractómetros de rayos X. Actualmente, la empresa cuenta con difractómetros de rayos X, difractómetros de escritorio de rayos X, difractómetros de cristal único de rayos X, analizadores de cristales de rayos X y otros productos, que se venden tanto a nivel nacional como internacional y han recibido elogios unánimes de la industria.

2024/09/18
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Analizador de cristales

El analizador de cristales de rayos X de la serie TD es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de los materiales. Se utiliza principalmente para la orientación de un solo producto, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas y la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y dislocaciones de cristales individuales.

2024/09/09
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detector

El uso de un detector de píxeles híbridos permite obtener la mejor calidad de datos, garantizando al mismo tiempo un bajo consumo de energía y una baja refrigeración. Este detector combina las tecnologías clave de conteo de fotones individuales y píxeles híbridos, y se aplica en diversos campos, como la radiación de sincrotrón y las fuentes de luz de laboratorio convencionales, eliminando eficazmente la interferencia del ruido de lectura y la corriente oscura. La tecnología de píxeles híbridos puede detectar directamente los rayos X, lo que facilita la distinción de señales, y el detector puede proporcionar datos de alta calidad de manera eficiente.

2024/09/06
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Instrumento de medición de ángulos

El instrumento de medición de ángulos multifuncional de alta precisión de Tongda Technology no solo puede medir muestras de polvo convencionales, sino también probar muestras líquidas, muestras coloidales, muestras viscosas, polvos sueltos y muestras sólidas grandes.

2024/09/05
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difractómetro

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organiza un evento de formación de equipos cada verano para centrarse en la supervivencia y el desarrollo de los empleados, implementar un cuidado humanista que cuide, aprecie y respete a las personas, y estimule la cohesión, el entusiasmo y la vitalidad de los empleados. Tongda Technology Company es un fabricante profesional de instrumentos de análisis de rayos X. La empresa cuenta actualmente con difractómetros de rayos X de la serie TD, difractómetros de rayos X de cristal único, difractómetros de rayos X de escritorio, analizadores de cristales de rayos X y otros productos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.

2024/08/30
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Difractómetro de rayos X

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo o cuantitativo de fases de muestra, análisis de la estructura cristalina, determinación de la cristalinidad, etc. Se pueden instalar varios accesorios funcionales especiales y el software de control y aplicación correspondiente según las necesidades reales para formar un sistema de difracción con funciones especiales. El difractómetro de rayos X es un instrumento analítico de laboratorio con alta precisión.

2024/08/29
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Método de análisis del patrón XRD del polvo de cristal de fármaco.

El patrón de difracción de rayos X sirve como base más fiable para determinar patrones policristalinos, y el patrón de difracción de rayos X se considera frecuentemente como la "huella digital" de patrones cristalinos.

2024/06/28
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Caracterización de la perovskita: análisis del patrón XRD

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.

2024/06/26
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