Hoy en día, la tecnología de imágenes de rayos X ha formado un sistema de tecnología de pruebas no destructivas de rayos X relativamente completo. También se están innovando nuevas tecnologías de detección, utilizando la tecnología de detección en línea por rayos X.

La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.

Las pruebas no destructivas de CT industrial son el juicio de defectos internos, defectos estructurales, física y composición del producto en el estado original y el rendimiento de la pieza de trabajo sin destruir ni cambiar las materias primas.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.

Como uno de los medios importantes de caracterización de la estructura de materiales, la XRD se utiliza ampliamente en materiales, física, química, medicina y otros campos.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.

Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.

Los investigadores han desarrollado una técnica de imágenes de rayos X que produce imágenes detalladas de organismos con dosis de rayos X mucho más bajas de lo que era posible anteriormente.

El difractómetro de rayos X policristalino, también conocido como difractómetro de polvo, se utiliza generalmente para medir materiales a granel en polvo, metales policristalinos o polímeros.

El nombre completo de XRD es difracción de rayos X, que utiliza el fenómeno de difracción de rayos X en el cristal para obtener las características de la señal de rayos X después de la difracción y obtiene el patrón de difracción después del procesamiento.

Para determinar si hay amianto en el talco suele ser una combinación de microscopía polarizada o electrónica y difracción de rayos X, y el análisis cuantitativo del amianto utiliza principalmente el método de difracción de rayos X.