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Productos Destacados
Difractómetro1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de usar, práctico y eficiente.Más- Difracción de rayos X de monocristal1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.Más
- Analizador de cristales de rayos X en serie1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.Más
- Difractómetro de polvo1. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD; 2. Cálculo de control automático del PLC, conversión del modo de integración, el PLC realiza automáticamente PHA, corrección de tiempo muerto 3. Tipo de medición de muestra: muestra de polvo, muestras líquidas, muestras en estado fundido, muestras viscosas, polvos sueltos, muestras sólidas a granel 4. Disponible con una variedad de accesorios de difractómetro. 5. Potencia máxima de salida de polvo: 3 kWMás
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Estructura fina de absorción de rayos X
- Tongda
- Liaoning, China
- 1—2 meses
- 100 noches al año
La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS), también llamada espectroscopia de absorción de rayos X (XAS), es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basados en una fuente de luz de radiación de sincrotrón, y es ampliamente utilizada en campos calientes como catálisis, energía y nano.
Parámetro técnico | ||
Rendimiento integral | Parámetro | Instrucciones |
Rango de energía | 5-19 keV | |
Modo espectral | Modo de transmisión | |
Flujo luminoso en la muestra | > 1.000.000 fotones /s/ev | |
Resolución energética | XANES: 0,5-1,5 eV EXAFS: 1,5-10 eV | |
Vía de rayos X | El acceso al helio reduce la absorción de aire. | |
Repetibilidad | Deriva de energía de adquisición repetida <50 meV | |
fuente de rayos X | Fuerza | 1,6 kW, alto voltaje 10-40 kV, corriente 1-40 mA |
Material objetivo | Objetivo W\Mo, se pueden seleccionar otros objetivos | |
Monocromador | Tipo | Cristal analítico esférico con radio de curvatura de 500 mm y tamaño de 100 mm. |
Detector | Tipo | SDD de área grande, área efectiva de 150 mm2 |
Otra configuración | Rueda de muestra | Rueda de muestreo de 18 bits, prueba automatizada continua de múltiples muestras |
Conjunto de muestras in situ | Electrocatálisis, temperatura variable, otros campos múltiples, condiciones mecánicas en la celda in situ | |
Cristal analítico | Monocromador de cristal de análisis personalizado para elementos especiales | |
Ventaja principal:
1. Productos con el mayor flujo luminoso.
El flujo de fotones es superior a 1.000.000 de fotones/seg/eV, y la eficiencia de adquisición espectral es varias veces mayor que la de otros productos; Obtenga la misma calidad de datos que el radio de sincrotrón.iación.
2. Excelente estabilidad
La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que 0,1% y la deriva de energía de adquisición repetida es < 50 meV.
Límite de detección del 3,1%
Un alto flujo luminoso, una excelente optimización de la trayectoria óptica y una excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan datos EXAFS de alta calidad con un contenido de elementos medido de >1%.
Principio del instrumento
La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, que se utiliza ampliamente en catálisis, energía, nano y otros campos importantes.
El monocromador de laboratorio XES prueba estructuras geométricas
Datos de Mn, datos XAFS de borde K de Mn, datos consistentes con la fuente de radiación de sincrotrón
Datos del espectro de emisión de la muestra de Fe Kβ: XES de núcleo a núcleo y XES de valencia a núcleo
Datos de prueba
Datos EXAFS de lámina
Elementos medibles: la parte verde puede medir el lado K, la parte amarilla puede medir el lado L
Campos de aplicación: catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc.
