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Productos Destacados
Difractómetro1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de usar, práctico y eficiente.Más
Difracción de rayos X de monocristal1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.Más
Analizador de cristales de rayos X en serie1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.Más
Difractómetro de polvo1. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD; 2. Cálculo de control automático del PLC, conversión del modo de integración, el PLC realiza automáticamente PHA, corrección de tiempo muerto 3. Tipo de medición de muestra: muestra de polvo, muestras líquidas, muestras en estado fundido, muestras viscosas, polvos sueltos, muestras sólidas a granel 4. Disponible con una variedad de accesorios de difractómetro. 5. Potencia máxima de salida de polvo: 3 kWMás
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firefly@tongdatek.comTeléfono
+86-415-6123805Minidifractómetro de rayos X
- Tongda
- Liaoning, China
- 1-2 meses
- 100 unidades por año
Introducción al difractómetro de rayos X TDM-20:
Difractómetro de rayos X de polvo TDM-20 (XRD de sobremesa)Se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales pastosos similares. El principio de difracción de rayos X permite el análisis cualitativo y cuantitativo, así como el análisis de la estructura cristalina de materiales policristalinos, como muestras en polvo y muestras metálicas. Se emplea ampliamente en la industria, la agricultura, la defensa nacional, la industria farmacéutica, la minería, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación, la investigación científica y otros campos.

Difractómetro de rayos X de sobremesa (difractómetro de polvo)
El difractómetro de rayos X de polvo TDM-20 (XRD de sobremesa) supera el estándar internacional original de 600 W y se actualiza a una nueva potencia de 1200 W. Su funcionamiento es sencillo, ofrece un rendimiento estable y un bajo consumo energético. Además, puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alta velocidad, lo que supone un salto cualitativo en el rendimiento general del equipo.
Características del difractómetro de rayos X (difractómetro de polvo):
El equipo es de tamaño pequeño y peso ligero.
La fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje puede reducir el consumo de energía de toda la máquina.
Puede calibrar y probar la muestra rápidamente.
El control de línea es simple y conveniente para la depuración e instalación.
La linealidad del ángulo de difracción de espectro completo puede alcanzar ±0,01°.
Precisión de medición de la posición del pico de difracción 0,001
Ventajas del TDM-20 XRD
Análisis de difracción de rayos X diversificado y de alta calidad
El detector convencional utiliza un solo canal para recibir datos cuando los rayos X inciden sobre la muestra. Un detector de matriz 1D avanzado recibe datos en 640 canales simultáneamente. De esta forma, la velocidad de análisis puede multiplicarse por más de diez.

Ajuste de precisión del instrumento
Al medir polvo de sílice de una muestra estándar internacional, la desviación máxima de todos los picos en el espectro completo no supera los ±0,01°. La precisión del ángulo de difracción del espectro completo garantiza un análisis cualitativo y cuantitativo exacto.

Excelente resolución
Cuando el tiempo de muestreo es de 0,1 s y el ángulo de paso es de 0,01°, el FWHM del pico principal de 28,442° es mejor que 0,075', y la resolución es inferior al 85%. La alta resolución puede resolver el problema de la superposición de picos de difracción. Para el contenido complejo de la muestra, permite obtener rápidamente los resultados del análisis de fase.

Piezas opcionales:


Cambiador automático de muestras de 6 bits con portamuestras giratorio
Sobre nosotros
Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el embalaje y el transporte, es necesario tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.















