Estructura fina de absorción de rayos X (XAFS)
- Tongda
- Liaoning, China
- 1-2 meses
- 100 unidades por año
| Parámetro | Descripción | |
| Rendimiento integral | Rango de energía | 4,5-25 keV |
| Modo de adquisición de espectro | Modo de transmisión | |
| Flujo de fotones en la muestra | >4×10⁶ fotones/(s·eV) | |
| Resolución energética | XANES: 0,5-1,5 eV EXAFS: 1,5-10 eV | |
| Trayectoria de rayos X | Ruta de purga de helio para minimizar la absorción de aire. | |
| Repetibilidad | Deriva de energía reproducible < 50 meV | |
| Estructura | La configuración de doble círculo de Rowland elimina la necesidad para la conmutación de la fuente de luz durante las mediciones XAFS. Utilizando una única fuente de rayos X XAFS dedicada para generar un haz de rayos X dual, El sistema proporciona dos rayos X energéticamente monocromáticos. mediante círculos de Rowland dobles y monocromadores dobles. Esto permite la caracterización simultánea de dos elementos metálicos. dentro de la misma muestra, lo que permite un análisis paralelo. de las estructuras atómicas locales de ambos elementos metálicos. | |
| Fuente de rayos X | Fuerza | 2,0 kW; Alta tensión: 10-40 kV; Corriente: 1-50 mA |
| Objetivo | Estándar con blancos de W/Mo; otros materiales para blancos disponibles como opción. | |
| monocromador | Tipo | Cristal analizador esférico con radio de curvatura de 500 mm y tamaño de 102 mm. |
| Detector | Tipo | Detector de estado sólido de gran superficie con un área activa de 150 mm². |
| Configuraciones adicionales | Cambiador de muestras | Cambiador de muestras de 18 posiciones para pruebas automatizadas continuas de múltiples muestras. |
| Célula de muestra in situ | Celdas in situ para diversas condiciones: electrocatálisis, campos multifísicos con temperatura variable y ensayos mecánicos | |
| Analizador de cristal | Monocromador de cristal especializado para análisis de elementos específicos |
Ventajas principales:
Flujo de fotones más alto: Nuestro producto ofrece un flujo de fotones superior a 4.000.000 de fotones/s/eV, lo que proporciona una eficiencia de adquisición de espectro varias veces mayor que la de sistemas similares. Esto permite obtener datos con una calidad comparable a la de las fuentes de radiación sincrotrón.
Estabilidad excepcional: El instrumento presenta una excelente estabilidad de intensidad de luz monocromática, con variaciones inferiores al 0,1 %. La deriva de energía reproducible durante las adquisiciones repetidas se mantiene por debajo de 50 meV.
Límite de detección del 1%: La combinación de un alto flujo, una optimización superior de la trayectoria óptica y una estabilidad excepcional de la fuente garantiza la adquisición de datos EXAFS de alta calidad, incluso para concentraciones elementales tan bajas como el 1 %.
Principio del instrumento:
El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para investigar la estructura atómica y electrónica local de los materiales. Se aplica ampliamente en diversos campos importantes, como la catálisis, la investigación energética y la nanociencia.
Geometría de prueba del monocromador de laboratorio XES
Geometría de prueba del monocromador XAFS de laboratorio
Datos de manganeso (Mn) y datos XAFS del borde K del Mn: consistentes con la calidad de la fuente de radiación sincrotrón.
Datos del espectro de emisión Kβ de una muestra de hierro (Fe): XES de núcleo a núcleo y XES de valencia a núcleo.
Datos de prueba
Datos EXAFS de la lámina
Aplicaciones
Este espectrómetro XAFS encuentra aplicaciones muy diversas, lo que permite a los clientes lograr avances significativos en múltiples campos:
Nuevas energías: Se utiliza en el estudio de pilas de combustible, materiales de almacenamiento de hidrógeno, baterías de iones de litio, etc. Permite analizar los cambios dinámicos en el estado de valencia y el entorno de coordinación de los átomos centrales durante los procesos catalíticos.
Catálisis industrial: Aplicable a áreas de investigación como la catálisis con nanopartículas y la catálisis con átomos individuales. Permite caracterizar la morfología de los catalizadores sobre soportes y sus interacciones con el material de soporte.
Ciencia de los materiales: Se emplea para la caracterización de diversos materiales, el estudio de sistemas complejos y estructuras desordenadas, así como para la investigación de las propiedades de los materiales de superficie e interfaz.
Ciencias ambientales: Puede utilizarse para analizar la contaminación por metales pesados en muestras como suelo y agua, determinando el estado de valencia y la concentración de los elementos.
Biomacromoléculas: Se pueden utilizar para estudiar la estructura atómica local alrededor de los centros metálicos en metalobiomoléculas..
Sobre nosotros
Desde 2013, Tongda Technology ha establecido una alianza estratégica con el grupo de investigación liderado por el académico Chen Xiaoming de la Academia China de Ciencias. La estación de trabajo de expertos creada conjuntamente ha proporcionado una sólida base de investigación para que la empresa profundice continuamente su presencia en el campo del análisis de rayos X. Como contratista principal del Proyecto de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos de Gran Envergadura, impulsado por el Ministerio de Ciencia y Tecnología, la empresa colaboró con siete instituciones de investigación, incluyendo la Universidad Sun Yat-sen y el Instituto de Tecnología Informática de Shenyang, perteneciente a la Academia China de Ciencias, durante ocho años de esfuerzos coordinados. En 2021, lanzó con éxito el primer difractómetro de rayos X de monocristal de producción nacional con derechos de propiedad intelectual totalmente independientes, rompiendo así la dependencia histórica de instrumentos importados en este campo.
En cuanto a la estructura de talento, la proporción de personal de I+D en la empresa alcanza el 30%, superando significativamente el promedio del sector. Respecto a la propiedad intelectual, la empresa ha acumulado 23 patentes y 7 derechos de autor de software hasta la fecha. Desde la perspectiva de la cartera de productos, ha establecido una matriz integral de instrumentos analíticos de rayos X que abarca los difractómetros de la serie TD, difractómetros de sobremesa, espectrómetros de fluorescencia de rayos X, difractómetros de monocristal, orientadores de cristal y analizadores de cristal.
En cuanto a la integración tecnológica, el difractómetro automático Tongda AI integra profundamente la inteligencia artificial con la robótica. El equipo cuenta con un brazo robótico de alta precisión capaz de manipular automáticamente la toma y el análisis de diversos tipos de muestras, incluyendo polvos, películas delgadas y materiales a granel. Mediante una aplicación móvil, se habilita el control remoto, y el sistema automático de apertura y cierre de puertas mejora significativamente la seguridad y la comodidad durante el funcionamiento. Su arquitectura modular también ofrece una gran flexibilidad para futuras ampliaciones funcionales y actualizaciones de mantenimiento.
