Analizador de orientación de rayos X

Introducción al analizador de orientación de rayos X: 

El instrumento automático de orientación por rayos X utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser y cristales semiconductores). Compatible con la máquina de corte, permite el corte direccional de dichos cristales.Instrumento automático de orientación por rayos XEs un instrumento indispensable para el procesamiento de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal.Instrumento automático de orientación por rayos XSe utiliza ampliamente en la investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos.

Ventajas del analizador de orientación de rayos X:

Tabla de muestra del analizador de orientación de rayos X TA:

Diseñado según el cristal de barra redonda, la platina de muestra cuenta con una pista de carga con capacidad de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (aumentable a 8 pulgadas) y un dispositivo de succión de vacío. Este tipo de goniómetro mide la superficie de referencia de un cristal en forma de varilla y también mide la superficie de una oblea.

Tabla de muestra del analizador de orientación de rayos X TB: 

Diseñada según el cristal de barra redonda, la platina de muestra cuenta con una pista de carga y un riel de soporte en forma de V. Puede medir lingotes con un peso de 1 a 30 kg, un diámetro de 2 a 6 pulgadas (aumentable a 8 pulgadas) y una longitud de 500 mm. Un dispositivo de succión de vacío está conectado a la platina de muestra. Este tipo de goniómetro mide la cara final del cristal de barra y también la superficie de la oblea.

Tabla de muestra del analizador de orientación de rayos X TC:

Se utiliza principalmente para la detección de la superficie de referencia circular exterior de obleas individuales, como silicio y zafiro. La posición del receptor de rayos X en el disco de succión adopta un diseño abierto, lo que soluciona el problema del bloqueo de rayos X y la desalineación del disco de succión, y cumple con diversas especificaciones. Con la detección del borde de referencia, la bomba de succión de la platina de muestra puede succionar la oblea de 2 a 8 pulgadas para una detección más precisa.

Tabla de muestra del analizador de orientación de rayos X TD:

Se utiliza principalmente para la medición multipunto de obleas como silicio y zafiro. La oblea puede rotarse manualmente en la platina de muestra (0°, 90°, 180°, 270°, etc.) para satisfacer las necesidades de medición específicas de los clientes.

 Tongda cuenta con un sólido equipo de I+D para brindar soluciones técnicas integrales para aplicaciones de difracción de rayos X.

EnDandong TongdaCreemos que la transparencia empieza con los detalles. Por eso, nuestro sitio web oficial ofrece especificaciones técnicas completas, desde dimensiones y peso hasta la composición del material, para que comprenda a fondo las capacidades de nuestros equipos.

Más allá de las especificaciones, las certificaciones son un testimonio de la calidad y la seguridad. Nos enorgullece contar con la certificación ISO 9001: Sistema de Gestión de Calidad (ver más abajo), lo que demuestra nuestro compromiso con los estándares internacionales en todo el proceso, desde la I+D hasta la producción. También trabajamos activamente para cumplir con las normas CE y RoHS, para que pueda elegir Tongda con total tranquilidad.