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Difractómetro1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de usar, práctico y eficiente.Más- Difracción de rayos X de monocristal1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.Más
- Analizador de cristales de rayos X en serie1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.Más
- Difractómetro de polvo1. Tipo de detector: Detector de matriz o detector SDD; 2. Cálculo de control automático del PLC, conversión del modo de integración, el PLC realiza automáticamente PHA, corrección de tiempo muerto 3. Tipo de medición de muestra: muestra de polvo, muestras líquidas, muestras en estado fundido, muestras viscosas, polvos sueltos, muestras sólidas a granel 4. Disponible con una variedad de accesorios de difractómetro. 5. Potencia máxima de salida de polvo: 3 kWMás
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Portamuestras giratorio
- Tongda
- Liaoning, China
- 1-2 meses
- 100 unidades por año
Portamuestras giratorio
En el análisis de difracción de rayos X (DRX) para campos como la ciencia de los materiales, el análisis geológico y la I+D farmacéutica, la orientación cristalina y la uniformidad del grano de una muestra impactan directamente en la precisión y la reproducibilidad de los datos. Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ha diseñado un Platina de muestras con rotación de alta precisión Diseñado específicamente para difractómetros de rayos X. Gracias a su exclusiva tecnología de rotación en el plano, corrige eficazmente los errores de medición causados por granos gruesos, textura o hábito cristalino en las muestras, lo que ayuda a los usuarios a obtener resultados de difracción más auténticos y fiables.
Principio técnico fundamental: Rotación en el plano, estadística de precisión
La función principal de esta plataforma de muestreo es hacer que la muestra gire de forma continua y constante dentro de su propio plano.
Eliminación de errores de grano grueso: Cuando una muestra contiene una pequeña cantidad de granos gruesos, las pruebas estáticas pueden dar como resultado patrones de difracción no estadísticamente representativos. Al rotar continuamente la muestra bajo el haz de rayos X, la plataforma giratoria asegura que el haz irradie una mayor cantidad de granos con diferentes orientaciones. homogeneiza la señal de difracción, transformando puntos discretos en anillos de difracción suaves y continuos, y reduciendo significativamente los errores de intensidad causados por granos gruesos.
Alteración de la orientación preferida (textura): Para muestras que se han desarrollado textura (es decir, orientación preferida de los granos) durante el procesamiento o crecimiento, o muestras con características específicas hábitos de cristalLas pruebas de rotación aseguran que todos los planos cristalinos posibles tengan la misma oportunidad de difractar. Esto rompe el predominio de la orientación fija en la intensidad de difracción, lo que produce datos de intensidad que reflejan verdaderamente la composición de fase y garantiza excelente reproducibilidad de los resultados de la medición.
Parámetros y funciones clave de rendimiento
Modo de rotación: Rotación del eje β (plano propio de la muestra).
Velocidad de rotación: Ajustable desde 1 ~ 60 RPM (revoluciones por minuto), satisfaciendo las necesidades de diferentes escenarios de prueba.
Modos de funcionamiento: Soportes rotación continua a velocidad constante para exploraciones de rutina y modo paso a paso para mediciones más precisas.
Control de alta precisión: Características ancho de paso mínimo de 0,1°, asegurando un posicionamiento rotacional preciso.
Amplia gama de escenarios de aplicación
Esta plataforma giratoria para muestras es la opción ideal para las siguientes aplicaciones:
Preparación de muestras y pretratamiento para análisis de textura de materiales metálicos.
Análisis de muestras a granel o en polvo que sufren de problemas de grano grueso.
Análisis de muestras con fuerte orientación preferidatales como placas laminadas, recubrimientos y cristales laminares.
Análisis de fase cuantitativo que requiere una altísima calidad reproducibilidad de la intensidad de difracción.
Soporte giratorio para muestras (Etapa de muestra para difracción de rayos X)
Especificaciones del soporte giratorio para muestras:
| Modo de rotación | Eje β (plano de la muestra) |
| Velocidad de rotación | 1~60 RPM |
| Ancho mínimo de paso | 0,1° |
| Modo de funcionamiento | Rotación a velocidad constante para el escaneo de muestras (paso continuo) |
Soporte giratorio para muestras (Etapa de muestra para difracción de rayos X)
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. se dedica a proporcionar instrumentos y accesorios de análisis de rayos X de alto rendimiento para la investigación científica y las pruebas industriales. Esta plataforma giratoria para muestras ejemplifica la sólida capacidad de la empresa en diseño mecánico de precisión y su profundo conocimiento de las necesidades experimentales.
Para obtener información más detallada sobre el producto, los precios y el servicio posventa, no dude en ponerse en contacto con nosotros directamente.
