En este artículo, se prepararon una serie de materiales de carbono duro con estructura ajustable utilizando quitosano como fuente de carbono, y se analizó la relación entre la evolución de la estructura del carbono duro y las propiedades de almacenamiento de sodio.

Mediante la difracción de rayos X del material y el análisis de su patrón de difracción se obtiene información como la composición del material, la estructura o morfología de los átomos o moléculas internas.

Muchos materiales a través de laminación, extrusión y otros procesos de deformación, o incluso si no se deforman, los granos en el policristal muestran una distribución más o menos estadísticamente desigual, esta estructura organizativa se llama textura.

El precursor del material ternario es un compuesto de bajo costo de metal de valencia variable, que se oxidará en el aire, y cuanto mayor sea la temperatura de secado, más grave será el grado de oxidación y la elección general del secado en atmósfera de aire.

Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, la XRD se utiliza ampliamente en muchos campos como materiales, química, cerámica, metalurgia y minerales.

Los principales indicadores de los materiales poliméricos incluyen el tipo de polímero o su cristalinidad. Los polímeros también exhiben una microestructura diferente, que también puede afectar las propiedades mecánicas de los materiales poliméricos.

Un indicador importante de XRD es que hay una muy buena fuente de luz de rayos X. La denominada buena fuente de luz de rayos X suele referirse a alta intensidad, alto paralelismo y alta pureza. Este artículo presentará una de las tecnologías centrales del neoconfucianismo, el camino óptico CBO.

La tecnología de difracción de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación de baterías de iones de litio. XRD es un método convencional para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases en materiales.

XRD puede medir muestras a granel y en polvo, y tiene diferentes requisitos para diferentes tamaños y propiedades de muestras.

El difractómetro de rayos X (DRX) mundial se ha desarrollado de manera constante en los últimos años y China es un mercado con grandes perspectivas de desarrollo.

Tomando como ejemplo el escalamiento de la deposición, este artículo presenta cómo utilizar el difractómetro de rayos X para el análisis cuantitativo y de fase cualitativa.