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XRD, es la abreviatura de difracción de rayos X. Como persona material, no importa qué material se haga, XRD es el medio de caracterización más básico y más utilizado.
La XRD in situ es una de las técnicas de caracterización avanzadas más populares y desarrolladas para estudiar sistemas de baterías de iones de litio y de sodio en procesos electroquímicos.
La tecnología XRD juega un papel importante en la investigación y el desarrollo de materiales cerámicos. Proporciona una base científica confiable para la síntesis, optimización del proceso de preparación, mejora del rendimiento y popularización de aplicaciones de materiales cerámicos.
Es difícil cuantificar las fases amorfa y cristalina de los materiales cementantes debido a la complejidad de las fases minerales en la mezcla y a los importantes picos superpuestos. Se pueden obtener resultados excelentes mediante el refinamiento Rietveld de la muestra medida utilizando configuraciones de medición estándar.
La difracción de rayos X en polvo, como uno de los métodos para el estudio del polimorfismo de fármacos, tiene las ventajas de no destruir muestras y de un funcionamiento sencillo, y es el método principal para el análisis cualitativo y cuantitativo del polimorfismo de fármacos en la actualidad.
La difracción de rayos X en polvo, como uno de los métodos para el estudio del polimorfismo de fármacos, tiene las ventajas de no destruir la muestra y de operar de manera simple.
SBA-15 es un tamiz molecular mesoporoso a base de silicio con una estructura de poros rectos hexagonales altamente ordenados (p6 mm), el tamaño de los poros puede variar de 5 a 50 nm y la pared de los poros es más gruesa.
La composición del patrón de difracción es principalmente la posición y la intensidad del pico de difracción, y nuestro análisis del patrón XRD se basa en los cambios en la intensidad y la posición para explicar los cambios en el micro y macro del material.
SBA-15 es una especie de tamiz molecular mesoporoso y su síntesis es otra tecnología química importante que ha surgido en los últimos años.
La incidencia rasante significa que los rayos X están expuestos a la película en un ángulo de incidencia muy pequeño (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample
La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.
La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.