SBA-15 es un tamiz molecular mesoporoso a base de silicio con una estructura de poros rectos hexagonales altamente ordenados (p6 mm), el tamaño de los poros puede variar de 5 a 50 nm y la pared de los poros es más gruesa.

La composición del patrón de difracción es principalmente la posición y la intensidad del pico de difracción, y nuestro análisis del patrón XRD se basa en los cambios en la intensidad y la posición para explicar los cambios en el micro y macro del material.

SBA-15 es una especie de tamiz molecular mesoporoso y su síntesis es otra tecnología química importante que ha surgido en los últimos años.

La incidencia rasante significa que los rayos X están expuestos a la película en un ángulo de incidencia muy pequeño (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Como uno de los medios importantes de caracterización de la estructura de materiales, la XRD se utiliza ampliamente en materiales, física, química, medicina y otros campos.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.

XRD como medio de análisis cualitativo no es ciego, con la ayuda de software de análisis solo por conveniencia, fundamentalmente hablando, lo más importante es el patrón XRD en sí.

Como nueva tecnología de caracterización de materiales, PDF (función de distribución de pares) es útil en el estudio de la estructura local de materiales cristalinos y amorfos.

La estabilidad estructural de SBA-15 está estrechamente relacionada con el tamaño de sus poros y sus propiedades, y XRD es uno de los métodos eficaces para caracterizar su estructura.

Para determinar si hay amianto en el talco suele ser una combinación de microscopía polarizada o electrónica y difracción de rayos X, y el análisis cuantitativo del amianto utiliza principalmente el método de difracción de rayos X.