Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en los instrumentos de difracción de rayos X, principalmente para medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales. Los accesorios correspondientes se pueden configurar para la difracción de ángulo pequeño, y el rango de ángulo de 0° a 5° se puede utilizar para la prueba de espesor de películas multicapa nanométricas. Al medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales, se han proporcionado herramientas poderosas para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la biología y la química.

El difractómetro de rayos X TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El difractómetro de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. El XRD de sobremesa es un equipo experimental que se utiliza para analizar la estructura cristalina de los materiales. El XRD de sobremesa determina la estructura cristalina, los parámetros de red y la composición de fases del material mediante la emisión de rayos X y la medición del ángulo de difracción y la intensidad después de su interacción con la muestra.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, ¡y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas e investigación en varias industrias! Es una poderosa herramienta analítica ampliamente utilizada en campos como la ciencia de los materiales, la química, la física y la geología.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de polvo de rayos X TD-3700 admite métodos de escaneo de datos de difracción convencionales y de escaneo de datos de transmisión. El difractómetro de rayos X en polvo TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con detectores de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto.

El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El XRD de cristal único se usa ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. La difracción de rayos X de un solo cristal tiene una alta precisión: Precisión de repetibilidad del ángulo 2θ: 0,0001°; Ángulo de paso mínimo: 0,0001°; Rango de control de temperatura: 100 K-300 K Precisión de control: ±0,3 K El instrumento de medición de ángulos de cristal único selecciona cuatro círculos de exploración concéntricos. El XRD de cristal único adopta una configuración de baja temperatura. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y depuración del difractómetro de rayos X monocristalino extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros. En general, el difractómetro de rayos X de cristal único desempeña un papel irreemplazable como instrumento científico importante en la investigación y la aplicación en múltiples disciplinas. Con el avance y la innovación continuos de la tecnología, creemos que en el futuro, el difractómetro de rayos X de cristal único demostrará su valor y potencial únicos en más campos.

El monocromador de cristal curvo de grafito es un importante accesorio de instrumento para el análisis de difracción de rayos X, utilizado principalmente para monocromatizar los rayos X que pasan a través de la rendija receptora, mejorando así la precisión y la relación señal-ruido del análisis. Este monocromador utiliza la estructura específica de los cristales de grafito para reflejar selectivamente los rayos X incidentes, permitiendo que solo los rayos X de longitudes de onda específicas (normalmente rayos X característicos de Kα) pasen a través de ellos mientras filtra otros componentes de rayos X no deseados, como los rayos X continuos, los rayos X característicos de Kβ y los rayos X fluorescentes. Esta reflexión selectiva se basa en la ley de Bragg, que establece que cuando el ángulo entre la luz incidente y el plano del cristal satisface determinadas condiciones, se produce una dispersión coherente, formando picos de difracción. Al utilizar este monocromador, se debe prestar atención a la preparación y colocación de la muestra para garantizar la precisión y la simetría de los picos de difracción. Los monocromadores de cristal curvo de grafito se utilizan ampliamente en campos de investigación de materiales como química, ingeniería química, maquinaria, geología, minerales, metalurgia, materiales de construcción, cerámica, petroquímicos y productos farmacéuticos. En estos campos, se utilizan para el análisis de difracción de rayos X para estudiar las propiedades físicas de los materiales como la estructura cristalina, la transición de fase, el estado de tensión, etc. Los accesorios del difractómetro de rayos X mejoran significativamente la precisión y la confiabilidad del análisis al aumentar la relación pico-fondo y reducir el ruido de fondo.

Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.

Accesorio de batería original, rango de prueba: 0,5-160 grados, resistencia a la temperatura: 400 ℃, tamaño de ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); Espesor 0,1 mm (personalizable). Se utilizan ampliamente como accesorios de difractómetro de rayos X en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos incrustados en metales, etc. El accesorio de batería original se utiliza para fijar toda la platina de muestra de batería original en el instrumento de medición de ángulos del difractómetro de rayos X, sirviendo como conexión y soporte.

Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son dispositivos especiales que se utilizan en experimentos de difracción de rayos X (DRX), principalmente para medir picos de difracción en el rango de ángulo bajo para estudiar la microestructura y las propiedades de los materiales. Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son dispositivos especializados para difractómetros de rayos X que permiten mediciones de difracción precisas dentro de un rango de ángulo 2θ inferior (normalmente de 0° a 5° o menos). Esta tecnología es de gran importancia para estudiar nanoestructuras, materiales mesoporosos, películas multicapa y otros materiales. Al configurar los accesorios correspondientes para difractómetros de ángulo pequeño, se puede medir con precisión el espesor de las nanopelículas multicapa. En general, los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son un componente indispensable e importante de los difractómetros de rayos X, con amplias perspectivas de aplicación en la ciencia de los materiales, la química, la física y otros campos.

El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. La XRD de cristal único se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro monocristalino adopta la técnica de concentricidad de cuatro círculos para garantizar que el centro del instrumento de medición de ángulos permanezca inalterado independientemente de la rotación, logrando así el objetivo de obtener los datos más precisos y una mayor integridad. La concentricidad de cuatro círculos es una condición necesaria para el escaneo monocristalino convencional. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y la depuración del difractómetro de rayos X de cristal único extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros.

El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El XRD de sobremesa utiliza el principio del difractómetro de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. La carga de un nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha dado lugar a una mejora significativa en el rendimiento de la difracción de rayos X de sobremesa. Los equipos XRD de sobremesa tienen un volumen pequeño y son ligeros; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alto voltaje de Benchtop XRD puede alcanzar los 1600 vatios; El XRD de sobremesa puede calibrar y probar muestras rápidamente; El control del circuito XRD de sobremesa es simple y fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo XRD de sobremesa puede alcanzar 0,0001.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con un detector de matriz de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el escaneo de datos de difracción convencional como los métodos de escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que es adecuado para la adquisición de datos en casos en los que el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple con los requisitos del método de difracción para la preparación de la muestra.