El portamuestras giratorio de un difractómetro de rayos X es un componente clave para el ajuste y la fijación precisos de la posición de la muestra. Esta puede rotar dentro de su propio plano, lo cual facilita la corrección de errores causados ​​por granos gruesos. Para muestras con textura y cristalografía, el portamuestras giratorio garantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción y elimina la necesidad de una orientación preferente. Principio de funcionamiento del portamuestras giratorio: Cuando el difractómetro de rayos X está en funcionamiento, los rayos X de alta energía generados por la fuente se irradian sobre la muestra fijada en la platina giratoria. Debido a la estructura cristalina y los parámetros reticulares específicos de la muestra, los rayos X experimentan fenómenos de dispersión, absorción y difracción al interactuar con ella, donde los fenómenos de difracción ocurren según los requisitos de la ecuación de Bragg. El portamuestras giratorio puede girar en ángulos más pequeños según la configuración, lo que permite que la muestra reciba radiación de rayos X en diferentes ángulos y, por lo tanto, obtenga patrones de difracción en diferentes ángulos. De esta manera, el detector puede medir la intensidad de los rayos X tras la difracción de la muestra y convertirla en una señal eléctrica que se transmite al ordenador para el procesamiento de datos. La función principal del portamuestras giratorio es: Método de rotación: eje β (plano de muestra) Velocidad de rotación: 1~60 RPM Ancho de paso pequeño: 0,1º Modo de funcionamiento: Rotación a velocidad constante para escaneo de muestras (paso, continuo) Ventajas del portamuestras giratorio: El portamuestras giratorio puede mejorar la precisión de los datos de difracción: En muestras con formas irregulares de polvo o partículas, la orientación preferida tiende a aparecer durante la preparación convencional de muestras de polvo, lo que provoca desviaciones en la distribución de la intensidad de difracción y afecta la precisión del análisis de los resultados. La rotación de la platina de muestra permite mover la muestra con una forma específica en un espacio adecuado, eliminando así la influencia de la orientación preferida y mejorando así la precisión de los datos de difracción. El portamuestras giratorio se adapta a diversas necesidades de prueba: se adapta a diferentes tipos de instrumentos de medición de ángulos de difracción de rayos X, como instrumentos de medición de ángulos verticales y equipos de difracción de polvo compactos de bajo consumo, entre otros, lo que facilita su aplicación en diversas pruebas. Además, el portamuestras giratorio puede satisfacer los requisitos de diversas muestras y condiciones de prueba mediante el ajuste de parámetros como la velocidad y la dirección. El portamuestras giratorio puede ampliar las capacidades analíticas del instrumento: constantemente se desarrollan y aplican nuevos tipos de etapas de muestra giratorias, como algunas etapas de muestra para análisis de difracción de rayos X electroquímicos in situ, que pueden monitorear y analizar los cambios de materiales en diferentes entornos o condiciones en tiempo real, ampliando las capacidades de análisis de los equipos de difracción de rayos X. En resumen, el portamuestras giratorio en el difractómetro de rayos X es crucial para obtener con precisión información sobre la estructura cristalina de las sustancias. El portamuestras giratorio no solo puede mejorar la precisión de los datos de difracción, sino que también se adapta a diversas necesidades de prueba y amplía las capacidades analíticas del instrumento.

En el difractómetro de rayos X, los accesorios de medición integrados multifuncionales son un componente crucial que mejora considerablemente la funcionalidad y la flexibilidad del instrumento. Se utilizan para el análisis de películas en placas, bloques y sustratos, y permiten realizar pruebas como la detección de fase cristalina, la orientación, la textura, la tensión y la estructura en el plano de películas delgadas. Descripción básica de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Definición: Es un término general para una serie de dispositivos o módulos adicionales utilizados en el difractómetro de rayos X para ampliar las funciones del instrumento, mejorar la precisión y la eficiencia de la medición. Propósito: Estos accesorios tienen como objetivo permitir que el difractómetro de rayos X satisfaga una gama más amplia de necesidades experimentales y proporcione información más completa y precisa sobre la estructura del material. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación en el plano de la muestra). Características técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Alta precisión: generalmente utilizan tecnología de detección avanzada y sistemas de control para garantizar una alta precisión y repetibilidad de las mediciones. Automatización: muchos accesorios admiten operaciones automatizadas y pueden integrarse perfectamente con el host del difractómetro de rayos X para lograr una medición con un solo clic. Diseño modular: facilita a los usuarios seleccionar y combinar diferentes módulos de accesorios según sus necesidades reales. Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Ampliamente utilizado en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química, la biología y la geología; Evaluación de estructuras de conjuntos metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Los accesorios de medición multifuncionales integrados en el difractómetro de rayos X son clave para mejorar el rendimiento del instrumento. No solo mejoran su funcionalidad, sino que también mejoran la precisión y la eficiencia de la medición, proporcionando a los investigadores métodos de análisis de materiales más completos y profundos. Con el continuo avance tecnológico, estos accesorios seguirán desempeñando un papel importante en el fomento de la investigación científica en campos relacionados para lograr nuevos avances.

Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en difractómetros de rayos X. Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño permiten realizar mediciones de difracción de rayos X dentro de un rango de ángulos muy pequeño, de 0° a 5°, para pruebas de espesor de nanopelículas multicapa. Desempeñan un papel importante en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología. Tipos y características comunes: Accesorio de película delgada de luz paralela: este accesorio puede generar haces de rayos X paralelos y es adecuado para mediciones de difracción de ángulos pequeños de muestras de película delgada. Puede mejorar la precisión y la resolución de las mediciones, reducir los errores de medición causados ​​por la divergencia del haz y adaptarse mejor a muestras de película delgada de diferentes espesores y propiedades. Platina de muestra multifuncional: Equipada con accesorios de difracción de ángulo pequeño, la platina de muestra multifuncional puede proporcionar varios entornos de prueba para muestras, como calentamiento, enfriamiento, estiramiento in situ, etc. Esto hace que sea más conveniente estudiar los cambios estructurales de los materiales en diferentes condiciones externas y permite la observación en tiempo real de la respuesta estructural de los materiales durante la temperatura, el estrés y otros cambios. Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño juegan un papel importante en múltiples campos, como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología, al lograr una difracción de ángulo pequeño y una medición precisa del espesor de película nanométrica multicapa, proporcionando a los investigadores una herramienta poderosa para la exploración en profundidad de las microestructuras y propiedades de los materiales.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, y la carga de este detector ha mejorado enormemente el rendimiento general de la máquina. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza el principio de difracción de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de sobremesa se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 está equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. El difractómetro de rayos X TD-3700 integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X TD-3700 puede aumentar la intensidad del cálculo de difracción en decenas de veces o más, obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto, y también admite el escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio.

El difractómetro monocristal de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro monocristal de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de rayos X de cristal único es un producto de alta tecnología en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales del Ministerio de Ciencia y Tecnología, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de rayos X de cristal único en China.

El difractómetro de rayos X de polvo se utiliza principalmente para el análisis cuantitativo y cualitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un difractómetro de rayos X multifuncional y de alto rendimiento fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Las principales características son detectores de alto rendimiento, diversos métodos de escaneo, operación conveniente y segura, rendimiento estable y confiable. Para obtener detalles específicos, consulte el sitio web de Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

El difractómetro de rayos X monocristalino TD-5000 es un instrumento de alto rendimiento desarrollado por Dandong Tongda Technology. Aprobado en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Clave de China, cubre una necesidad nacional crucial en este campo. Su función principal es determinar la estructura espacial tridimensional y la distribución de la densidad electrónica de sustancias cristalinas, incluyendo compuestos inorgánicos, compuestos orgánicos y complejos metálicos, a la vez que analiza las estructuras de materiales especiales como cristales maclados, estructuras moduladas inconmensurablemente y cuasicristales. Mide con precisión la estructura espacial tridimensional de nuevos compuestos cristalinos (incluyendo longitudes de enlace, ángulos de enlace, configuración, conformación y densidad electrónica de enlace) y la disposición real de las moléculas dentro de la red cristalina. El sistema proporciona información estructural completa, como parámetros de la celda unitaria, grupo espacial, estructura molecular, enlaces de hidrógeno intermoleculares e interacciones débiles, y configuración/conformación molecular. Se utiliza ampliamente para la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. Tecnología central: una revolución dual en precisión e inteligencia (1) El «ojo mecánico» con posicionamiento a nivel atómico Difractómetro concéntrico de cuatro círculos: supera las limitaciones de desplazamiento mecánico tradicionales, manteniendo un centro de rotación constante para garantizar que los errores de coordenadas del punto de difracción permanezcan por debajo del nivel nanométrico. Detector PILATUS: Combina tecnología de conteo de fotones individuales con píxeles ultrafinos de 172 μm. Alcanza velocidades de fotogramas de hasta 20 Hz, con una capacidad de supresión de ruido tres veces superior a la de los detectores CCD convencionales. (2) Flujo de trabajo de circuito cerrado totalmente inteligente Control PLC de un solo toque: automatiza todo el proceso desde el posicionamiento del cristal hasta la adquisición de datos, reduciendo el tiempo de operación manual en un 90%. Sistema de mejora criogénica: cuenta con un control de temperatura de precisión de ±0,3 K (100 K–300 K), que aumenta la intensidad de la señal para cristales de difracción débil en un 50 % con un consumo de nitrógeno líquido de solo 1,1–2 L/h. (3) Doble garantía: seguridad y capacidad de expansión Bloqueo de puerta de plomo + protección contra fugas (≤0,12 µSv/h), que supera los estándares de seguridad nacionales. Óptica de enfoque multicapa opcional (objetivo dual Mo/Cu), que permite un análisis a gran escala desde productos farmacéuticos de moléculas pequeñas hasta minerales con celdas unitarias grandes. La llegada del difractómetro monocristalino de rayos X TD-5000 significa más que un avance instrumental: marca la era en la que los equipos de investigación científica de alta gama de China alcanzan oficialmente la precisión autónoma. Hasta 2025, este sistema ha prestado servicio a más de 30 instituciones líderes en campos como la química, la ciencia de los materiales y la industria aeroespacial. A medida que los cristales revelan los secretos de la vida bajo la mirada inquisitiva de instrumentos desarrollados nacionalmente, el ojo científico chino, que discierne la esencia de la materia, brilla ahora con una claridad deslumbrante.

El difractómetro de rayos X de alta potencia TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. Se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. Producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

El difractómetro de rayos X de alta resolución de la serie TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje.