El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 es un instrumento analítico de alto rendimiento desarrollado y producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. A continuación, se presenta una introducción detallada del instrumento: 1. Estructura y características técnicas del difractómetro monocristalino. (1) Soporte técnico básico La tecnología de medición angular concéntrica de cuatro círculos garantiza que la posición central del instrumento se mantenga constante durante la rotación, mejorando así la integridad y precisión de los datos. Equipado con un detector de píxeles híbrido, combinado con conteo de fotones individuales y tecnología de píxeles híbridos, logra una recopilación de datos con bajo ruido y alto rango dinámico, ideal para análisis de muestras exigentes. El generador de rayos X de alta potencia (3 kW o 5 kW) permite la selección de Cu/Mo y otros materiales objetivo, con un tamaño focal de 1 × 1 mm y una divergencia de 0,5 a 1 mrad, lo que satisface diversos requisitos experimentales. (2) Modularización y optimización operativa Toda la máquina adopta tecnología de control PLC y un diseño modular para conectar y usar los accesorios, lo que reduce el proceso de calibración. La pantalla táctil monitorea el estado del instrumento en tiempo real, y el sistema de adquisición con un solo clic simplifica el proceso de operación. El dispositivo electrónico de enclavamiento de la puerta principal proporciona doble protección, con una fuga de rayos X ≤ 0,12 µSv/h (a máxima potencia). 2. Parámetros técnicos del difractómetro monocristalino (1) Precisión y repetibilidad Precisión de repetibilidad del ángulo 2 θ: 0,0001 ° Ángulo de paso mínimo: 0,0001° Rango de control de temperatura: 100 K ~ 300 K, precisión de control ± 0,3 K. (2) Rendimiento del detector Área sensible: 83,8 × 70,0 mm² Tamaño de píxel: 172 × 172 μm², error de espaciado de píxeles<0.03% Frecuencia de cuadro máxima: 20 Hz, tiempo de lectura de 7 ms, rango de energía de 3,5~18 keV. (3) Otros parámetros clave Voltaje del tubo de rayos X: 10~60 kV (1 kV/paso), corriente 2~50 mA o 2~80 mA. Consumo de nitrógeno líquido: 1,1~2 L/hora (experimento de baja temperatura). 3. Campos de aplicación del difractómetro monocristalino (1) Dirección principal de investigación Análisis de la estructura cristalina: analice la disposición atómica, la longitud del enlace, el ángulo de enlace, la configuración molecular y la densidad de nubes de electrones de materiales monocristalinos. Cristalografía de fármacos: estudia la morfología cristalina de las moléculas de fármacos, evalúa la estabilidad y la actividad biológica. Desarrollo de nuevos materiales: analizar la estructura tridimensional de los compuestos sintetizados para respaldar la optimización del rendimiento del material. Investigación sobre nanomateriales y transición de fase: exploración de las características de los nanocristales y el mecanismo de transición de fase del material. (2) Usuarios típicos Escuela de Ciencia y Tecnología de Materiales de la Universidad de Ciencia y Tecnología de Huazhong, la Universidad de Zhejiang, la Universidad de Ciencia y Tecnología de China y otras universidades. Instituciones de investigación como la Corporación de Ciencia y Tecnología Aeroespacial de China y la Corporación de la Industria de Construcción Naval de China. 4. Servicio posventa del difractómetro monocristalino Ofrecemos repuestos originales, mantenimiento a domicilio, diagnóstico remoto y servicios de actualización de software. Ofrecemos servicios de calibración periódica (de conformidad con las normas internacionales) y capacitación operativa y de aplicación para los usuarios. 5. Accesorios y funciones ampliadas para difractómetro monocristalino (1) Accesorios opcionales Lente de enfoque de película multicapa (divergencia de 0,5 ~ 1 mrad). Dispositivo de baja temperatura (refrigeración con nitrógeno líquido). (2) Dispositivos compatibles Se puede utilizar junto con un espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF), un microscopio electrónico de barrido (SEM), etc. para lograr un análisis de materiales a múltiples escalas. En general, como difractómetro monocristalino de alta gama, el rendimiento del TD-5000 se acerca a los estándares internacionales, lo que lo hace especialmente adecuado para universidades, institutos de investigación y para el desarrollo de materiales de alta gama. Para más información, consulte el sitio web oficial de Dandong Tongda Technology Co., Ltd.

El difractómetro de rayos X de alta potencia TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales pastosos similares. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y de metal. El XRD de sobremesa se utiliza ampliamente en industrias como la industrial, la agrícola, la de defensa nacional, la farmacéutica, la minera, la de seguridad alimentaria, la petrolera, la educativa y la investigación científica. 1. Características principales del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): La carga del nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha mejorado enormemente el rendimiento general del dispositivo, con un tamaño pequeño y peso ligero; Toda la máquina está integrada en el tamaño del escritorio (generalmente ≤ 1m³), ahorrando espacio y adecuada para pequeños laboratorios o entornos de enseñanza; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje puede alcanzar los 1600W; Análisis rápido, capaz de calibrar y probar muestras rápidamente; Mediante el uso de detectores de alto rendimiento (como detectores bidimensionales) y la optimización de la trayectoria óptica, el escaneo de la muestra se puede completar en unos minutos; Control de circuito simple, fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo puede alcanzar 0,0001; Bajo consumo de energía y seguridad, utilizando tubos de rayos X de baja potencia (como ≤ 50W), equipados con protección radiológica múltiple, sin necesidad de salas de blindaje especiales; Fácil de usar, equipado con software de automatización, que admite operación con un solo clic, visualización de datos en tiempo real y comparación de bases de datos estándar (como ICDD PDF). 2. Escenarios de aplicación típicos del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): Identificación rápida de la estructura cristalina y la composición de fases (como metales, cerámicas, polímeros). Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): pruebas en sitios industriales de la pureza cristalina de materias primas o productos terminados (como productos farmacéuticos y materiales de baterías). Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): enseñanza experimental de pregrado, demostración visual del principio de difracción de Bragg. Ciencia de los materiales del difractómetro de rayos X (XRD de sobremesa): análisis de la composición mineral de reliquias culturales o selección preliminar de muestras de campo. 3. Parámetros técnicos del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): Proyecto: rango de parámetros Fuente de rayos X: objetivo de Cu (λ=1,54 Å), objetivo de Mo opcional Voltaje/corriente: 10-50 kV/0,1-2 mA Rango del instrumento de medición de ángulos: 0-90 ° 2θ (algunos modelos se pueden ampliar) Resolución angular: ≤ 0,01 ° Tipo de detector: detector de superficie lineal unidimensional o bidimensional Tamaño de la muestra: Polvo (miligramos), película o bloque 4. Ventajas y limitaciones del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 (XRD de sobremesa): Ventajas: Bajo costo (aproximadamente 1/3-1/2 del XRD grande), fácil mantenimiento. Admite análisis no destructivos y preparación de muestras sencilla (como colocar polvo directamente). limitaciones: La resolución y la sensibilidad son ligeramente inferiores a las de los dispositivos de alta gama y pueden no ser adecuadas para análisis estructurales ultrafinos. Las pruebas en condiciones extremas (como experimentos in situ a alta temperatura y alta presión) normalmente no son factibles.

El difractómetro de rayos X TD-3500 se utiliza principalmente para análisis cualitativos y cuantitativos de fases, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina, determinación de tensiones macroscópicas o microscópicas, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc., de muestras de polvo, bloques o películas. El TD-3500, fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., incorpora un control PLC Siemens importado, lo que le confiere alta precisión, estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil manejo e inteligencia, adaptándose con flexibilidad a pruebas, análisis e investigación en diversas industrias.   El difractómetro de rayos X TD-3500 incorpora un generador de rayos X (generador de estado sólido de alta frecuencia y alto voltaje, generador de frecuencia industrial opcional), con un alto grado de automatización, una tasa de fallos extremadamente baja, una alta capacidad antiinterferencias, una buena estabilidad del sistema y una larga vida útil. El PLC y la interfaz de computadora controlan automáticamente la apertura y el cierre de la compuerta de luz, la subida y bajada de la presión y el caudal del tubo, y permiten el entrenamiento automático de los tubos de rayos X. El estado del instrumento se visualiza en tiempo real mediante una pantalla táctil. El difractómetro de rayos X TD-3500 incorpora una unidad de control de grabación avanzada, un circuito de control PLC, tecnología de control PLC avanzada y una pantalla táctil a color real para lograr la interacción persona-computadora. El hardware del sistema adopta un diseño modular, lo que aumenta considerablemente la capacidad antiinterferencias del sistema y lo hace más estable. Gracias al uso de circuitos de control PLC Siemens importados, de alta precisión y automatización, el sistema puede funcionar de forma estable durante un largo periodo sin fallos. El sistema de difractómetro de rayos X TD-3500 tiene las siguientes ventajas sobre los circuitos de microcontroladores utilizados por otras empresas: Control de circuito simple, fácil de depurar e instalar; Debido a su diseño modular, el mantenimiento del sistema es muy simple y los usuarios pueden repararlo y depurarlo ellos mismos sin la necesidad de que los técnicos del fabricante estén presentes; Adoptando una pantalla táctil de color verdadero avanzada para lograr la interacción hombre-computadora, con funciones de protección completas y una operación muy conveniente, el diseño de animación altamente tridimensional es más humanizado, intuitivo y conveniente para que los operadores usen y juzguen la información de fallas, etc.; Mejorando enormemente la estabilidad de conteo del sistema, mejorando así la estabilidad general de toda la máquina; Debido a la fuerte capacidad de expansión del PLC, puede expandir fácilmente varios accesorios funcionales sin la necesidad de agregar ningún circuito de hardware adicional. Detector del difractómetro de rayos X TD-3500 Detector proporcional (PC) o detector de centelleo (SC). Instrumento de medición de ángulos de alta precisión para difractómetro de rayos X TD-3500 El instrumento de medición de ángulos de la serie TD incorpora una transmisión de rodamientos importada de alta precisión, y el control de movimiento se completa mediante un servosistema de accionamiento vectorial de bucle cerrado de alta precisión. El accionamiento inteligente incluye un microprocesador RISC de 32 bits y un codificador magnético de alta resolución, que corrige automáticamente errores de posición de movimiento extremadamente pequeños, garantizando así una alta precisión y exactitud en los resultados de medición. La reproducibilidad angular puede alcanzar los 0,0001 grados, y los ángulos de paso más pequeños pueden alcanzar los 0,0001 grados. Áreas de aplicación del difractómetro de rayos X TD-3500: Ciencia de los materiales: se utiliza para estudiar información clave como la estructura cristalina, el comportamiento de transición de fase y la textura de los materiales. Análisis químico: se puede utilizar para el análisis cualitativo o cuantitativo de compuestos orgánicos, inorgánicos, poliméricos y otras sustancias. Geología: ayuda a las personas a comprender la formación de depósitos minerales, la evolución de la Tierra y más. Productos biofarmacéuticos: determinar la estructura cristalina de los medicamentos, optimizar las formulaciones de medicamentos y mejorar la eficacia de los medicamentos. El difractómetro de rayos X es una potente herramienta analítica ampliamente utilizada en diversos campos. Al medir con precisión el ángulo y la intensidad de difracción, proporciona información detallada sobre la estructura cristalina y la composición de los materiales.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con diversos detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD, entre otros. Integra un análisis rápido, un funcionamiento sencillo y seguridad para el usuario. La arquitectura modular de hardware y el sistema de software personalizado se combinan a la perfección, lo que reduce al mínimo la tasa de fallos, ofrece un excelente rendimiento antiinterferencias y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el método convencional de escaneo de datos por difracción como el de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que resulta ideal para análisis estructurales y otros campos. El modo de difracción presenta señales de difracción potentes y es más adecuado para la identificación rutinaria de fases en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que resulta adecuado para la adquisición de datos en casos donde el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple los requisitos del método de difracción para la preparación de muestras. El detector de matriz utiliza plenamente la tecnología de conteo de fotones mixtos, sin ruido, con una rápida adquisición de datos y una velocidad diez veces superior a la de los detectores de centelleo. Ofrece una excelente resolución energética y puede eliminar eficazmente los efectos de fluorescencia. Los detectores multicanal ofrecen tiempos de lectura más rápidos y una mejor relación señal-ruido. Un sistema de control del detector con puerta electrónica y disparo externo completa eficazmente la sincronización del sistema. El principio de funcionamiento del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Al aprovechar la fluctuación de los rayos X, al irradiarlos sobre un cristal, los átomos o iones del cristal actúan como centros de dispersión, dispersando los rayos X en todas direcciones. Debido a la regularidad de la disposición atómica en los cristales, estas ondas dispersas interfieren y se refuerzan mutuamente en ciertas direcciones, formando difracción. Midiendo el ángulo y la intensidad de difracción, se puede obtener información estructural del cristal. Las principales características del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 son: (1) Fácil de operar, sistema de recolección con un solo clic; (2) Diseño modular, accesorios de instrumento plug and play, sin necesidad de calibración; (3) Monitoreo en línea en tiempo real mediante pantalla táctil para mostrar el estado del instrumento; (4) Dispositivo de enclavamiento de puerta con cable electrónico, doble protección, que garantiza la seguridad del usuario; (5) Generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, con un rendimiento estable y confiable; (6) Unidad de control de grabación avanzada con fuerte capacidad antiinterferencia. La alta precisión del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 permite un análisis de alta precisión de la estructura cristalina de los materiales, como la determinación precisa de constantes reticulares, parámetros celulares, etc. La precisión de la medición del ángulo puede alcanzar ±0,0001°. La alta resolución del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 puede distinguir claramente los picos de difracción adyacentes, analizar con precisión la información de difracción de diferentes planos cristalinos para estructuras cristalinas complejas y revelar las características de microestructura de los materiales. La naturaleza no destructiva del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: no dañará la muestra durante el proceso de prueba y la muestra puede mantenerse en su estado original para múltiples pruebas, lo que es particularmente importante para muestras preciosas o difíciles de obtener. Análisis rápido del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Los difractómetros de rayos X de alta resolución modernos tienen capacidades de detección rápida y pueden completar las pruebas de muestras en un corto período de tiempo, lo que mejora la eficiencia del trabajo. 3. Áreas de aplicación del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Materiales semiconductores: se utilizan para detectar la calidad cristalina de materiales semiconductores monocristalinos y películas delgadas epitaxiales, analizar desajustes de red, defectos y otra información, lo que ayuda a optimizar el rendimiento de los dispositivos semiconductores. Materiales superconductores: estudiar la estructura cristalina y el proceso de transición de fase de los materiales superconductores para proporcionar una base para optimizar las propiedades superconductoras. Nanomateriales: Analizar el tamaño del grano, la estructura cristalina, la deformación microscópica, etc. de los nanomateriales ayuda a los investigadores a comprender mejor sus propiedades y aplicaciones. Otros campos: También se utiliza ampliamente en la investigación y el control de calidad de materiales metálicos, cerámicos, poliméricos, biomateriales y otros campos. El difractómetro de rayos X de alta resolución es un instrumento analítico de alta precisión, alta resolución, no destructivo y rápido, con importantes aplicaciones en diversos campos.

1. Función del difractómetro monocristalino: El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes electrónicas de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad electrónica de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, los enlaces de hidrógeno intermoleculares y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de monocristal de rayos X es un producto de alta tecnología financiado por el Proyecto de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales Nacionales del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de monocristal en China. 2. Características del difractómetro monocristalino: Toda la máquina adopta tecnología de control de controlador lógico programable (PLC); Fácil de operar, sistema de recolección de un clic; Diseño modular, accesorios plug and play, sin necesidad de calibración; Monitoreo en línea en tiempo real a través de pantalla táctil, mostrando el estado del instrumento; Generador de rayos X de alta potencia con un rendimiento estable y confiable; Dispositivo de enclavamiento de puerta de plomo electrónico, doble protección. 3. Precisión del difractómetro de monocristal: Precisión de repetibilidad del ángulo 2 θ: 0,0001 °; Ángulo de paso mínimo: 0,0001 ° Rango de control de temperatura: 100 K-300 K; Precisión de control: ± 0,3 K 4. Instrumento de medición de ángulos utilizado en el difractómetro monocristalino: El uso de la técnica de cuatro círculos concéntricos garantiza que el centro del instrumento de medición de ángulos permanezca inalterado independientemente de cualquier rotación, lo que permite obtener datos con la máxima precisión y una mayor integridad. Los cuatro círculos concéntricos son un requisito indispensable para el escaneo con difractómetros monocristalinos convencionales. 5. Detector bidimensional de alta velocidad utilizado en difractómetros monocristalinos de rayos X: El detector combina las tecnologías clave de conteo de fotones individuales y tecnología de píxeles mixtos para lograr la mejor calidad de datos, a la vez que garantiza un bajo consumo de energía y una refrigeración reducida. Se aplica en diversos campos, como la radiación sincrotrón y las fuentes de luz de laboratorio convencionales, eliminando eficazmente la interferencia del ruido de lectura y la corriente oscura. La tecnología de píxeles mixtos permite detectar rayos X directamente, facilitando la distinción de la señal y proporcionando datos de alta calidad de forma eficiente. 6. Equipos de baja temperatura utilizados en difractómetros monocristalinos de rayos X: Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados óptimos. Con la ayuda de estos equipos, se pueden crear condiciones más ventajosas que permitan que los cristales indeseables obtengan resultados óptimos, así como que los cristales ideales los obtengan. Rango de control de temperatura: 100 K ~ 300 K; Precisión de control: ± 0,3 K; Consumo de nitrógeno líquido: 1,1 ~ 2 litros/hora; 7. Accesorio opcional, lente de enfoque de película multicapa: Potencia del tubo de rayos X: 30 W o 50 W, etc. Divergencia: 0,5 ~ 1 mrad; Material del objetivo del tubo de rayos X: objetivo de Mo/Cu; punto focal: 0,5~2 mm.

El portamuestras giratorio de un difractómetro de rayos X es un componente clave para el ajuste y la fijación precisos de la posición de la muestra. Esta puede rotar dentro de su propio plano, lo cual facilita la corrección de errores causados ​​por granos gruesos. Para muestras con textura y cristalografía, el portamuestras giratorio garantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción y elimina la necesidad de una orientación preferente. Principio de funcionamiento del portamuestras giratorio: Cuando el difractómetro de rayos X está en funcionamiento, los rayos X de alta energía generados por la fuente se irradian sobre la muestra fijada en la platina giratoria. Debido a la estructura cristalina y los parámetros reticulares específicos de la muestra, los rayos X experimentan fenómenos de dispersión, absorción y difracción al interactuar con ella, donde los fenómenos de difracción ocurren según los requisitos de la ecuación de Bragg. El portamuestras giratorio puede girar en ángulos más pequeños según la configuración, lo que permite que la muestra reciba radiación de rayos X en diferentes ángulos y, por lo tanto, obtenga patrones de difracción en diferentes ángulos. De esta manera, el detector puede medir la intensidad de los rayos X tras la difracción de la muestra y convertirla en una señal eléctrica que se transmite al ordenador para el procesamiento de datos. La función principal del portamuestras giratorio es: Método de rotación: eje β (plano de muestra) Velocidad de rotación: 1~60 RPM Ancho de paso pequeño: 0,1º Modo de funcionamiento: Rotación a velocidad constante para escaneo de muestras (paso, continuo) Ventajas del portamuestras giratorio: El portamuestras giratorio puede mejorar la precisión de los datos de difracción: En muestras con formas irregulares de polvo o partículas, la orientación preferida tiende a aparecer durante la preparación convencional de muestras de polvo, lo que provoca desviaciones en la distribución de la intensidad de difracción y afecta la precisión del análisis de los resultados. La rotación de la platina de muestra permite mover la muestra con una forma específica en un espacio adecuado, eliminando así la influencia de la orientación preferida y mejorando así la precisión de los datos de difracción. El portamuestras giratorio se adapta a diversas necesidades de prueba: se adapta a diferentes tipos de instrumentos de medición de ángulos de difracción de rayos X, como instrumentos de medición de ángulos verticales y equipos de difracción de polvo compactos de bajo consumo, entre otros, lo que facilita su aplicación en diversas pruebas. Además, el portamuestras giratorio puede satisfacer los requisitos de diversas muestras y condiciones de prueba mediante el ajuste de parámetros como la velocidad y la dirección. El portamuestras giratorio puede ampliar las capacidades analíticas del instrumento: constantemente se desarrollan y aplican nuevos tipos de etapas de muestra giratorias, como algunas etapas de muestra para análisis de difracción de rayos X electroquímicos in situ, que pueden monitorear y analizar los cambios de materiales en diferentes entornos o condiciones en tiempo real, ampliando las capacidades de análisis de los equipos de difracción de rayos X. En resumen, el portamuestras giratorio en el difractómetro de rayos X es crucial para obtener con precisión información sobre la estructura cristalina de las sustancias. El portamuestras giratorio no solo puede mejorar la precisión de los datos de difracción, sino que también se adapta a diversas necesidades de prueba y amplía las capacidades analíticas del instrumento.

En el difractómetro de rayos X, los accesorios de medición integrados multifuncionales son un componente crucial que mejora considerablemente la funcionalidad y la flexibilidad del instrumento. Se utilizan para el análisis de películas en placas, bloques y sustratos, y permiten realizar pruebas como la detección de fase cristalina, la orientación, la textura, la tensión y la estructura en el plano de películas delgadas. Descripción básica de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Definición: Es un término general para una serie de dispositivos o módulos adicionales utilizados en el difractómetro de rayos X para ampliar las funciones del instrumento, mejorar la precisión y la eficiencia de la medición. Propósito: Estos accesorios tienen como objetivo permitir que el difractómetro de rayos X satisfaga una gama más amplia de necesidades experimentales y proporcione información más completa y precisa sobre la estructura del material. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación en el plano de la muestra). Características técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Alta precisión: generalmente utilizan tecnología de detección avanzada y sistemas de control para garantizar una alta precisión y repetibilidad de las mediciones. Automatización: muchos accesorios admiten operaciones automatizadas y pueden integrarse perfectamente con el host del difractómetro de rayos X para lograr una medición con un solo clic. Diseño modular: facilita a los usuarios seleccionar y combinar diferentes módulos de accesorios según sus necesidades reales. Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Ampliamente utilizado en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química, la biología y la geología; Evaluación de estructuras de conjuntos metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Los accesorios de medición multifuncionales integrados en el difractómetro de rayos X son clave para mejorar el rendimiento del instrumento. No solo mejoran su funcionalidad, sino que también mejoran la precisión y la eficiencia de la medición, proporcionando a los investigadores métodos de análisis de materiales más completos y profundos. Con el continuo avance tecnológico, estos accesorios seguirán desempeñando un papel importante en el fomento de la investigación científica en campos relacionados para lograr nuevos avances.

Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en difractómetros de rayos X. Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño permiten realizar mediciones de difracción de rayos X dentro de un rango de ángulos muy pequeño, de 0° a 5°, para pruebas de espesor de nanopelículas multicapa. Desempeñan un papel importante en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología. Tipos y características comunes: Accesorio de película delgada de luz paralela: este accesorio puede generar haces de rayos X paralelos y es adecuado para mediciones de difracción de ángulos pequeños de muestras de película delgada. Puede mejorar la precisión y la resolución de las mediciones, reducir los errores de medición causados ​​por la divergencia del haz y adaptarse mejor a muestras de película delgada de diferentes espesores y propiedades. Platina de muestra multifuncional: Equipada con accesorios de difracción de ángulo pequeño, la platina de muestra multifuncional puede proporcionar varios entornos de prueba para muestras, como calentamiento, enfriamiento, estiramiento in situ, etc. Esto hace que sea más conveniente estudiar los cambios estructurales de los materiales en diferentes condiciones externas y permite la observación en tiempo real de la respuesta estructural de los materiales durante la temperatura, el estrés y otros cambios. Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño juegan un papel importante en múltiples campos, como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología, al lograr una difracción de ángulo pequeño y una medición precisa del espesor de película nanométrica multicapa, proporcionando a los investigadores una herramienta poderosa para la exploración en profundidad de las microestructuras y propiedades de los materiales.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, y la carga de este detector ha mejorado enormemente el rendimiento general de la máquina. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza el principio de difracción de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de sobremesa se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 está equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. El difractómetro de rayos X TD-3700 integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X TD-3700 puede aumentar la intensidad del cálculo de difracción en decenas de veces o más, obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto, y también admite el escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio.

El difractómetro monocristal de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro monocristal de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de rayos X de cristal único es un producto de alta tecnología en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales del Ministerio de Ciencia y Tecnología, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de rayos X de cristal único en China.

El difractómetro de rayos X de polvo se utiliza principalmente para el análisis cuantitativo y cualitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.