El difractómetro monocristalino de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular cristalina, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. Se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales.

Originalmente, Battery Accessory es un dispositivo utilizado para la investigación de sistemas electroquímicos, perteneciente a los accesorios de difractómetro de rayos X, que permite el monitoreo y análisis dinámico y en tiempo real de la batería en condiciones específicas. Se utiliza ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos metálicos incrustados, etc.

El monocromador de cristal curvo de grafito se instala delante del detector de rayos X, que monocromatiza los rayos X que pasan a través de la rendija receptora y solo detecta los accesorios del difractómetro de rayos X característicos K α del espectro de rayos X. Al utilizar este dispositivo, los rayos X continuos, los rayos X característicos K β y los rayos X fluorescentes se pueden eliminar por completo, lo que permite un análisis de difracción de rayos X con una alta relación señal-ruido. Cuando se utilizan tubos de rayos X con objetivo de cobre junto con los monocromadores correspondientes, se pueden eliminar los rayos X fluorescentes generados a partir de muestras a base de Mn, Fe, Co y Ni, lo que los hace adecuados para el análisis de varias muestras.

El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de instrumento que puede medir múltiples parámetros. Es un accesorio de medición para difractómetros de rayos X, que se utiliza principalmente para mejorar la eficiencia de la medición, aumentar las funciones de medición y mejorar el mantenimiento del instrumento. Se utiliza para el análisis y la prueba de diversos materiales en campos como la ingeniería química, la maquinaria, la geología, los minerales, la metalurgia, los materiales de construcción, la cerámica, la petroquímica, los productos farmacéuticos, etc. Los accesorios de medición integrados multifuncionales desempeñan un papel importante en varios campos, proporcionando un fuerte apoyo a la investigación científica y la producción industrial.

Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en los instrumentos de difracción de rayos X, principalmente para medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales. Los accesorios correspondientes se pueden configurar para la difracción de ángulo pequeño, y el rango de ángulo de 0° a 5° se puede utilizar para la prueba de espesor de películas multicapa nanométricas. Al medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales, se han proporcionado herramientas poderosas para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la biología y la química.

El difractómetro de rayos X TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El difractómetro de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. El XRD de sobremesa es un equipo experimental que se utiliza para analizar la estructura cristalina de los materiales. El XRD de sobremesa determina la estructura cristalina, los parámetros de red y la composición de fases del material mediante la emisión de rayos X y la medición del ángulo de difracción y la intensidad después de su interacción con la muestra.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. El difractómetro de rayos X TD-3500 producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, ¡y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas e investigación en varias industrias! Es una poderosa herramienta analítica ampliamente utilizada en campos como la ciencia de los materiales, la química, la física y la geología.

El difractómetro de rayos X TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de polvo de rayos X TD-3700 admite métodos de escaneo de datos de difracción convencionales y de escaneo de datos de transmisión. El difractómetro de rayos X en polvo TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con detectores de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto.

El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El XRD de cristal único se usa ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. La difracción de rayos X de un solo cristal tiene una alta precisión: Precisión de repetibilidad del ángulo 2θ: 0,0001°; Ángulo de paso mínimo: 0,0001°; Rango de control de temperatura: 100 K-300 K Precisión de control: ±0,3 K El instrumento de medición de ángulos de cristal único selecciona cuatro círculos de exploración concéntricos. El XRD de cristal único adopta una configuración de baja temperatura. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y depuración del difractómetro de rayos X monocristalino extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros. En general, el difractómetro de rayos X de cristal único desempeña un papel irreemplazable como instrumento científico importante en la investigación y la aplicación en múltiples disciplinas. Con el avance y la innovación continuos de la tecnología, creemos que en el futuro, el difractómetro de rayos X de cristal único demostrará su valor y potencial únicos en más campos.

El monocromador de cristal curvo de grafito es un importante accesorio de instrumento para el análisis de difracción de rayos X, utilizado principalmente para monocromatizar los rayos X que pasan a través de la rendija receptora, mejorando así la precisión y la relación señal-ruido del análisis. Este monocromador utiliza la estructura específica de los cristales de grafito para reflejar selectivamente los rayos X incidentes, permitiendo que solo los rayos X de longitudes de onda específicas (normalmente rayos X característicos de Kα) pasen a través de ellos mientras filtra otros componentes de rayos X no deseados, como los rayos X continuos, los rayos X característicos de Kβ y los rayos X fluorescentes. Esta reflexión selectiva se basa en la ley de Bragg, que establece que cuando el ángulo entre la luz incidente y el plano del cristal satisface determinadas condiciones, se produce una dispersión coherente, formando picos de difracción. Al utilizar este monocromador, se debe prestar atención a la preparación y colocación de la muestra para garantizar la precisión y la simetría de los picos de difracción. Los monocromadores de cristal curvo de grafito se utilizan ampliamente en campos de investigación de materiales como química, ingeniería química, maquinaria, geología, minerales, metalurgia, materiales de construcción, cerámica, petroquímicos y productos farmacéuticos. En estos campos, se utilizan para el análisis de difracción de rayos X para estudiar las propiedades físicas de los materiales como la estructura cristalina, la transición de fase, el estado de tensión, etc. Los accesorios del difractómetro de rayos X mejoran significativamente la precisión y la confiabilidad del análisis al aumentar la relación pico-fondo y reducir el ruido de fondo.

Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.

Accesorio de batería original, rango de prueba: 0,5-160 grados, resistencia a la temperatura: 400 ℃, tamaño de ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); Espesor 0,1 mm (personalizable). Se utilizan ampliamente como accesorios de difractómetro de rayos X en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos incrustados en metales, etc. El accesorio de batería original se utiliza para fijar toda la platina de muestra de batería original en el instrumento de medición de ángulos del difractómetro de rayos X, sirviendo como conexión y soporte.