La difracción de rayos X es un método para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia mediante el fenómeno de difracción de los rayos X en un cristal.

La difracción de rayos X es un método para analizar la estructura o composición de una muestra al iluminarla con un haz de rayos X monocromático.

El análisis del material de la batería ayuda a comprender y optimizar el rendimiento de la batería, mejorar la seguridad y la vida útil de la batería, reducir costos y promover el desarrollo y la aplicación de nuevos materiales.

XRD in situ, también conocida como difracción de rayos X in situ, es una técnica para realizar mediciones de difracción de rayos X durante una estructura o transición de fase. Esta tecnología puede monitorear el cambio dinámico de la estructura del material bajo fuerza externa en tiempo real.

La difracción de rayos X en polvo, como uno de los métodos para el estudio del polimorfismo de fármacos, tiene las ventajas de no destruir muestras y de un funcionamiento sencillo, y es el método principal para el análisis cualitativo y cuantitativo del polimorfismo de fármacos en la actualidad.

Este artículo presenta el conocimiento relacionado sobre el patrón de cristal y el fetiche del cristal.

Para mostrar el buen estilo del vigoroso desarrollo de la Compañía Dandong Tongda, mejorar la amistad y la cohesión, la compañía organizó una actividad de creación de grupos del 30 al 31 de enero de 2024.

La difracción de rayos X en polvo, como uno de los métodos para el estudio del polimorfismo de fármacos, tiene las ventajas de no destruir la muestra y de operar de manera simple.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.