XRD in situ, también conocida como difracción de rayos X in situ, es una técnica para realizar mediciones de difracción de rayos X durante una estructura o transición de fase. Esta tecnología puede monitorear el cambio dinámico de la estructura del material bajo fuerza externa en tiempo real.

La difracción de rayos X en polvo, como uno de los métodos para el estudio del polimorfismo de fármacos, tiene las ventajas de no destruir muestras y de un funcionamiento sencillo, y es el método principal para el análisis cualitativo y cuantitativo del polimorfismo de fármacos en la actualidad.

Este artículo presenta el conocimiento relacionado sobre el patrón de cristal y el fetiche del cristal.

Para mostrar el buen estilo del vigoroso desarrollo de la Compañía Dandong Tongda, mejorar la amistad y la cohesión, la compañía organizó una actividad de creación de grupos del 30 al 31 de enero de 2024.

La difracción de rayos X en polvo, como uno de los métodos para el estudio del polimorfismo de fármacos, tiene las ventajas de no destruir la muestra y de operar de manera simple.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.

Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.

En el análisis de rayos X, instrumento utilizado para medir el ángulo entre un haz de rayos X incidente y un haz de rayos X difractado. El difractómetro mapea automáticamente la variación de la intensidad de difracción con el ángulo 2θ.

El difractómetro de rayos X policristalino, también conocido como difractómetro de polvo, se utiliza generalmente para medir materiales a granel en polvo, metales policristalinos o polímeros.

La estabilidad estructural de SBA-15 está estrechamente relacionada con el tamaño de sus poros y sus propiedades, y XRD es uno de los métodos eficaces para caracterizar su estructura.