XRD in situ, también conocido como In situDifracción de rayos X, es una técnica para realizar mediciones de difracción de rayos X durante una estructura o transición de fase. Esta tecnología puede monitorear el cambio dinámico de la estructura del material bajo fuerza externa en tiempo real.

Los modos XRD in situ se dividen en modo de transmisión y modo de reflexión; la diferencia más básica se basa en la fuente de luz de difracción de rayos X proporcionada. Porque la potencia de la fuente de luz proporcionada por el laboratorio.difractómetro de rayos Xgeneralmente es pequeño, solo se puede adoptar el modo de reflexión; Si la fuente de luz generada por el acelerador de radiación sincrotrón tiene una alta energía, se puede utilizar el modo de transmisión.

Modo de transmisión: El modo de transmisión es principalmenteradiografíaentra por un extremo de la celda electrolítica y los rayos X difractados salen por el otro extremo de la celda electrolítica y recibe la señal a través del detector para obtener los datos. 

Modo de reflexión: El modo de reflexión consiste principalmente en rayos X que ingresan desde la ventana de la celda electrolítica, pasan a través de la ventana para alcanzar el material, los rayos X difractados salen por la misma ventana y reciben la señal a través del detector para obtener la datos. El primero del mundo.XRD in situLa celda electrolítica está diseñada utilizando el modo de reflexión.