Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. lanza su difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, con escaneo de modo dual y detección de alta velocidad, lo que aumenta considerablemente la eficiencia. Ofrece soluciones rápidas y precisas para el análisis de materiales en los sectores químico, petrolero, energético y electrónico, con mayor seguridad y un funcionamiento intuitivo.

El difractómetro de rayos X monocristal TD-5000 de Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. ofrece una precisión excepcional (0,0001°), eficiencia y seguridad. Equipado con un goniómetro kappa de cuatro círculos y un detector PILATUS, permite un análisis preciso de la estructura cristalina en 3D para la ciencia de los materiales, la industria farmacéutica y la geología, demostrando la innovación en instrumentos de alta gama de China.

El difractómetro de rayos X TD-3500 ofrece una precisión excepcional con una repetibilidad de 0,0001° y un control PLC avanzado. Este versátil instrumento realiza análisis de materiales exhaustivos en polvos, películas y muestras a granel, garantizando la máxima seguridad gracias a sus mecanismos de doble protección. Adoptado por laboratorios internacionales, establece nuevos estándares en rendimiento analítico y fiabilidad para aplicaciones de investigación globales.

El difractómetro de rayos X TD-3500 de Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. proporciona análisis precisos de materiales para diversas industrias. Su goniómetro de alta precisión y su control PLC patentado garantizan resultados fiables y un manejo intuitivo, ofreciendo una solución versátil para clientes de todo el mundo.

El difractómetro de rayos X de alta potencia TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. Se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases, el análisis de la estructura cristalina, el análisis de la estructura del material, el análisis de la orientación de los cristales, la determinación de la tensión macroscópica o microscópica, la determinación del tamaño del grano, la determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas. Producido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adopta el control PLC de Siemens importado, lo que hace que el difractómetro de rayos X TD-3500 tenga las características de alta precisión, alta precisión, buena estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, fácil operación e inteligencia, y puede adaptarse de manera flexible al análisis de pruebas y la investigación en varias industrias.

El difractómetro de rayos X de alta resolución de la serie TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. Integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje.

El difractómetro monocristalino de rayos X TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular cristalina, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. Se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales.

Originalmente, Battery Accessory es un dispositivo utilizado para la investigación de sistemas electroquímicos, perteneciente a los accesorios de difractómetro de rayos X, que permite el monitoreo y análisis dinámico y en tiempo real de la batería en condiciones específicas. Se utiliza ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos metálicos incrustados, etc.

El monocromador de cristal curvo de grafito se instala delante del detector de rayos X, que monocromatiza los rayos X que pasan a través de la rendija receptora y solo detecta los accesorios del difractómetro de rayos X característicos K α del espectro de rayos X. Al utilizar este dispositivo, los rayos X continuos, los rayos X característicos K β y los rayos X fluorescentes se pueden eliminar por completo, lo que permite un análisis de difracción de rayos X con una alta relación señal-ruido. Cuando se utilizan tubos de rayos X con objetivo de cobre junto con los monocromadores correspondientes, se pueden eliminar los rayos X fluorescentes generados a partir de muestras a base de Mn, Fe, Co y Ni, lo que los hace adecuados para el análisis de varias muestras.

El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de instrumento que puede medir múltiples parámetros. Es un accesorio de medición para difractómetros de rayos X, que se utiliza principalmente para mejorar la eficiencia de la medición, aumentar las funciones de medición y mejorar el mantenimiento del instrumento. Se utiliza para el análisis y la prueba de diversos materiales en campos como la ingeniería química, la maquinaria, la geología, los minerales, la metalurgia, los materiales de construcción, la cerámica, la petroquímica, los productos farmacéuticos, etc. Los accesorios de medición integrados multifuncionales desempeñan un papel importante en varios campos, proporcionando un fuerte apoyo a la investigación científica y la producción industrial.

Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en los instrumentos de difracción de rayos X, principalmente para medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales. Los accesorios correspondientes se pueden configurar para la difracción de ángulo pequeño, y el rango de ángulo de 0° a 5° se puede utilizar para la prueba de espesor de películas multicapa nanométricas. Al medir los parámetros a escala nanométrica de los materiales, se han proporcionado herramientas poderosas para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la biología y la química.