El patrón de difracción de rayos X sirve como base más fiable para determinar patrones policristalinos, y el patrón de difracción de rayos X se considera frecuentemente como la "huella digital" de patrones cristalinos.

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.

Como materia prima indispensable en el ámbito de la construcción, el cemento asume un papel vital durante todo el proceso constructivo. Existen numerosos tipos de cemento Portland. Debido a su excelente desempeño, el cemento Portland se utiliza ampliamente.

La difracción de rayos X es una técnica de ensayo no destructiva de materiales rápida, precisa y eficiente. Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, se usa ampliamente en muchos campos como la biología, la medicina, la cerámica, etc.

El difractómetro de rayos X es un tipo de instrumento para analizar la estructura cristalina, la composición de fases y la orientación cristalina de una sustancia mediante la interacción de los rayos X con la materia.

Las propiedades de los materiales suelen estar determinadas por su composición de fases, y la XRD se utiliza ampliamente como uno de los principales medios de análisis de fases.

El grado de grafitización se refiere a qué tan cerca se parece la estructura cristalina del material de grafito al grafito perfecto después de reorganizar la estructura amorfa del carbono.

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Un difractómetro de tensión de rayos X es un instrumento ampliamente utilizado en el campo de la ciencia e ingeniería de materiales para medir la distribución de tensión interna de los materiales.