La composición del patrón de difracción es principalmente la posición y la intensidad del pico de difracción, y nuestro análisis del patrón XRD se basa en los cambios en la intensidad y la posición para explicar los cambios en el micro y macro del material.

SBA-15 es una especie de tamiz molecular mesoporoso y su síntesis es otra tecnología química importante que ha surgido en los últimos años.

Hoy en día, la tecnología de imágenes de rayos X ha formado un sistema de tecnología de pruebas no destructivas de rayos X relativamente completo. También se están innovando nuevas tecnologías de detección, utilizando la tecnología de detección en línea por rayos X.

La incidencia rasante significa que los rayos X están expuestos a la película en un ángulo de incidencia muy pequeño (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.

Las pruebas no destructivas de CT industrial son el juicio de defectos internos, defectos estructurales, física y composición del producto en el estado original y el rendimiento de la pieza de trabajo sin destruir ni cambiar las materias primas.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.

Como uno de los medios importantes de caracterización de la estructura de materiales, la XRD se utiliza ampliamente en materiales, física, química, medicina y otros campos.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.