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Noticias

Requisitos de preparación de muestras XRD

XRD puede medir muestras a granel y en polvo, y tiene diferentes requisitos para diferentes tamaños y propiedades de muestras.

2023/09/24
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Gracias por reunirse, cálidos compañeros: cena del personal de tecnología de Dandong Tongda

En agosto de 2023, bajo el liderazgo de la empresa, la gran familia de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. en la provincia de Liaoning celebró una cena al aire libre en vísperas de fin de mes.

2023/09/23
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Pronóstico: Para 2025, el mercado mundial de XRD alcanzará los 841,58 millones de dólares

El difractómetro de rayos X (DRX) mundial se ha desarrollado de manera constante en los últimos años y China es un mercado con grandes perspectivas de desarrollo.

2023/09/22
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Aplicación de XRD en la industria petrolera

Tomando como ejemplo el escalamiento de la deposición, este artículo presenta cómo utilizar el difractómetro de rayos X para el análisis cuantitativo y de fase cualitativa.

2023/09/21
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Aplicación de la tecnología XRD en la industria de semiconductores.

La aplicación de nuevas tecnologías y nuevos productos como 5G, big data e inteligencia artificial generará una enorme demanda en el mercado de semiconductores, y el gasto mundial en equipos de semiconductores ha entrado en un ciclo ascendente.

2023/09/20
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Servicio de productos Dandong Tongda Technology Co., Ltd.: capacitación sobre productos

La anterior introducción detallada y completa del servicio de preventa, venta y posventa de la empresa, hoy se presenta el contenido relacionado con la capacitación sobre productos de nuestra empresa.

2023/09/19
LEER MáS
Instrumento de cristalografía de polímeros de alta presión.

En los últimos años, ha habido un interés creciente en la medición de muestras biológicas de alta presión. Esto se refleja en el desarrollo de nuevas técnicas de medición de presión diferentes a las implementadas por DAC. Una de ellas es la técnica de congelar cristales bajo presión.

2023/09/17
LEER MáS
Mediciones de difracción de rayos X de alta resolución (HR-XRD) de semiconductores compuestos

XRD de alta resolución (HR-XRD) es un método común para medir la composición y el espesor de semiconductores compuestos como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.

2023/09/16
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La diferencia entre XRD monocristalino y XRD en polvo

El difractómetro de rayos X (DRX) se puede dividir en difractómetro de polvo de rayos X y difractómetro de cristal único de rayos X; el principio físico básico de los dos es el mismo.

2023/09/15
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Análisis de fluorescencia de rayos X de reflexión total.

La fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) es una técnica de análisis de elementos superficiales comúnmente utilizada para analizar partículas, residuos e impurezas en superficies lisas.

2023/09/14
LEER MáS
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