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XRD de alta resolución (HR-XRD) es un método común para medir la composición y el espesor de semiconductores compuestos como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.
El difractómetro de rayos X (DRX) se puede dividir en difractómetro de polvo de rayos X y difractómetro de cristal único de rayos X; el principio físico básico de los dos es el mismo.
La fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) es una técnica de análisis de elementos superficiales comúnmente utilizada para analizar partículas, residuos e impurezas en superficies lisas.
XRD es un medio de investigación que consiste en la difracción mediante difracción de rayos X de un material para analizar su patrón de difracción para obtener información como la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material.
La difracción de rayos X de incidencia rasante (GI-XRD) es un tipo de técnica de difracción de rayos X, que se diferencia del experimento XRD tradicional, principalmente porque cambia el ángulo de incidencia de los rayos X y la orientación de la muestra.
En los últimos años se ha prestado amplia atención a la técnica de dispersión de rayos X de macromoléculas biológicas en ángulo pequeño. Este artículo presentará principalmente los avances relevantes de la combinación de ángulo pequeño biológico y otras técnicas en los últimos años.
Es necesario reducir la tensión residual dañina y predecir la tendencia de distribución y el valor de la tensión residual. En este artículo se presenta el método de prueba no destructivo de prueba de tensión residual.
Las pruebas no destructivas se basan en el desarrollo de la ciencia y la tecnología modernas. Con el desarrollo de la industria moderna, la aplicación de ensayos no destructivos es cada vez más popular.
La difracción de rayos X (XRD) es actualmente un método poderoso para estudiar la estructura cristalina (como el tipo y la distribución de ubicación de átomos o iones y sus grupos, la forma y el tamaño de las células, etc.).
La cristalografía de rayos X es una técnica utilizada para determinar la estructura atómica y molecular de un cristal, donde la estructura cristalina hace que el haz de rayos X incidente se difracte en muchas direcciones específicas.