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Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.
Investigadores de la instalación de radiación sincrotrón SPring-8 del Instituto de Investigación RIKEN en Japón y sus colaboradores han desarrollado una forma más rápida y sencilla de realizar análisis de segmentación, un proceso importante en la ciencia de materiales.
En el análisis de rayos X, instrumento utilizado para medir el ángulo entre un haz de rayos X incidente y un haz de rayos X difractado. El difractómetro mapea automáticamente la variación de la intensidad de difracción con el ángulo 2θ.
Los investigadores han desarrollado una técnica de imágenes de rayos X que produce imágenes detalladas de organismos con dosis de rayos X mucho más bajas de lo que era posible anteriormente.
El difractómetro de rayos X policristalino, también conocido como difractómetro de polvo, se utiliza generalmente para medir materiales a granel en polvo, metales policristalinos o polímeros.
XRD como medio de análisis cualitativo no es ciego, con la ayuda de software de análisis solo por conveniencia, fundamentalmente hablando, lo más importante es el patrón XRD en sí.
Como nueva tecnología de caracterización de materiales, PDF (función de distribución de pares) es útil en el estudio de la estructura local de materiales cristalinos y amorfos.
La estabilidad estructural de SBA-15 está estrechamente relacionada con el tamaño de sus poros y sus propiedades, y XRD es uno de los métodos eficaces para caracterizar su estructura.
El nombre completo de XRD es difracción de rayos X, que utiliza el fenómeno de difracción de rayos X en el cristal para obtener las características de la señal de rayos X después de la difracción y obtiene el patrón de difracción después del procesamiento.
Para determinar si hay amianto en el talco suele ser una combinación de microscopía polarizada o electrónica y difracción de rayos X, y el análisis cuantitativo del amianto utiliza principalmente el método de difracción de rayos X.