La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.

Cuando un haz de rayos X extremadamente delgado pasa a través de un material con una densidad electrónica desigual de tamaño nanométrico, los rayos X se dispersarán en una pequeña región angular cerca de la dirección del haz original; este fenómeno se llama ángulo X pequeño. -dispersión de rayos.

La dispersión de rayos X de ángulo pequeño es la dispersión difusa de electrones en rayos X en el rango de ángulo pequeño cerca del haz original. La dispersión de ángulo pequeño ocurre en todos los materiales con una densidad de electrones no uniforme en la escala nanométrica.

La difracción de rayos X de ángulo pequeño (SAXD) se utiliza principalmente para determinar el espaciado de caras de cristales muy grandes o la estructura de películas delgadas.

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El uso de rayos X para estudiar la estructura de los cristales principalmente a través del fenómeno de difracción de rayos X en el cristal.

La técnica de difracción de rayos X es un método analítico que se utiliza para estudiar la estructura de una sustancia. Determina la estructura de un cristal midiendo el ángulo de difracción de rayos X en el cristal.

XRD in situ, también conocida como difracción de rayos X in situ, es una técnica para realizar mediciones de difracción de rayos X durante una estructura o transición de fase. Esta tecnología puede monitorear el cambio dinámico de la estructura del material bajo fuerza externa en tiempo real.

La XRD in situ es una de las técnicas de caracterización avanzadas más populares y desarrolladas para estudiar sistemas de baterías de iones de litio y de sodio en procesos electroquímicos.