La incidencia rasante significa que los rayos X están expuestos a la película en un ángulo de incidencia muy pequeño (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.

Las pruebas no destructivas de CT industrial son el juicio de defectos internos, defectos estructurales, física y composición del producto en el estado original y el rendimiento de la pieza de trabajo sin destruir ni cambiar las materias primas.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.

Como uno de los medios importantes de caracterización de la estructura de materiales, la XRD se utiliza ampliamente en materiales, física, química, medicina y otros campos.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.

Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.

Investigadores de la instalación de radiación sincrotrón SPring-8 del Instituto de Investigación RIKEN en Japón y sus colaboradores han desarrollado una forma más rápida y sencilla de realizar análisis de segmentación, un proceso importante en la ciencia de materiales.

En el análisis de rayos X, instrumento utilizado para medir el ángulo entre un haz de rayos X incidente y un haz de rayos X difractado. El difractómetro mapea automáticamente la variación de la intensidad de difracción con el ángulo 2θ.