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La difracción de rayos X es una técnica de ensayo no destructiva de materiales rápida, precisa y eficiente. Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, se usa ampliamente en muchos campos como la biología, la medicina, la cerámica, etc.
El difractómetro de rayos X es un tipo de instrumento para analizar la estructura cristalina, la composición de fases y la orientación cristalina de una sustancia mediante la interacción de los rayos X con la materia.
Las propiedades de los materiales suelen estar determinadas por su composición de fases, y la XRD se utiliza ampliamente como uno de los principales medios de análisis de fases.
El grado de grafitización se refiere a qué tan cerca se parece la estructura cristalina del material de grafito al grafito perfecto después de reorganizar la estructura amorfa del carbono.
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Un difractómetro de tensión de rayos X es un instrumento ampliamente utilizado en el campo de la ciencia e ingeniería de materiales para medir la distribución de tensión interna de los materiales.
Un equipo de investigación del Instituto Hefei de Ciencias Físicas de la Academia de Ciencias de China realizó recientemente un estudio que propone un método novedoso para mejorar la detección de rayos X mediante la incorporación de cristales peritécticos de CsPb2Br5 desfasados en materiales de bloques de CsPbBr3.
XRD es el sistema de difractómetro de rayos X más avanzado del mundo actual, con un diseño preciso y funciones completas, y puede adaptarse de manera flexible a diversas determinaciones de microestructuras, como el polvo.