El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, y la carga de este detector ha mejorado enormemente el rendimiento general de la máquina. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza el principio de difracción de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de sobremesa se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X de alta potencia TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El principio de difracción de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. Se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares de tipo pastoso. El difractómetro de rayos X se puede utilizar para análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. El XRD de sobremesa es un equipo experimental que se utiliza para analizar la estructura cristalina de los materiales. El XRD de sobremesa determina la estructura cristalina, los parámetros de red y la composición de fases del material mediante la emisión de rayos X y la medición del ángulo de difracción y la intensidad después de su interacción con la muestra.

El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El XRD de sobremesa utiliza el principio del difractómetro de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. La carga de un nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha dado lugar a una mejora significativa en el rendimiento de la difracción de rayos X de sobremesa. Los equipos XRD de sobremesa tienen un volumen pequeño y son ligeros; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alto voltaje de Benchtop XRD puede alcanzar los 1600 vatios; El XRD de sobremesa puede calibrar y probar muestras rápidamente; El control del circuito XRD de sobremesa es simple y fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo XRD de sobremesa puede alcanzar 0,0001.

La difracción de rayos X es un método para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia mediante el fenómeno de difracción de los rayos X en un cristal.

La técnica de difracción de rayos X se utiliza a menudo para detectar la calidad del cristal de las obleas y las obleas epitaxiales.

La detección cualitativa XRD es conveniente, rápida y con menos interferencias. Con la continua innovación de los medios técnicos, la tecnología de difracción de rayos X tiene una perspectiva de aplicación más amplia en el campo del análisis de materiales.

Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.

De acuerdo con los cambios de posición e intensidad de los picos de difracción de XRD in situ, se pueden inferir los intermedios generados durante el ciclo y el mecanismo de reacción se puede derivar aún más a partir de estos intermedios.

Recientemente, un nuevo estudio fusionó con éxito óxidos metálicos con zeolita A y reveló el misterio de este proceso mediante la tecnología XRD y FTIR.

XRD, es la abreviatura de difracción de rayos X. Como persona material, no importa qué material se haga, XRD es el medio de caracterización más básico y más utilizado.

La XRD in situ es una de las técnicas de caracterización avanzadas más populares y desarrolladas para estudiar sistemas de baterías de iones de litio y de sodio en procesos electroquímicos.