El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El XRD de sobremesa utiliza el principio del difractómetro de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. La carga de un nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha dado lugar a una mejora significativa en el rendimiento de la difracción de rayos X de sobremesa. Los equipos XRD de sobremesa tienen un volumen pequeño y son ligeros; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alto voltaje de Benchtop XRD puede alcanzar los 1600 vatios; El XRD de sobremesa puede calibrar y probar muestras rápidamente; El control del circuito XRD de sobremesa es simple y fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo XRD de sobremesa puede alcanzar 0,0001.

La difracción de rayos X es un método para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia mediante el fenómeno de difracción de los rayos X en un cristal.

La técnica de difracción de rayos X se utiliza a menudo para detectar la calidad del cristal de las obleas y las obleas epitaxiales.

La detección cualitativa XRD es conveniente, rápida y con menos interferencias. Con la continua innovación de los medios técnicos, la tecnología de difracción de rayos X tiene una perspectiva de aplicación más amplia en el campo del análisis de materiales.

Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.

De acuerdo con los cambios de posición e intensidad de los picos de difracción de XRD in situ, se pueden inferir los intermedios generados durante el ciclo y el mecanismo de reacción se puede derivar aún más a partir de estos intermedios.

Recientemente, un nuevo estudio fusionó con éxito óxidos metálicos con zeolita A y reveló el misterio de este proceso mediante la tecnología XRD y FTIR.

XRD, es la abreviatura de difracción de rayos X. Como persona material, no importa qué material se haga, XRD es el medio de caracterización más básico y más utilizado.

La XRD in situ es una de las técnicas de caracterización avanzadas más populares y desarrolladas para estudiar sistemas de baterías de iones de litio y de sodio en procesos electroquímicos.

La tecnología XRD juega un papel importante en la investigación y el desarrollo de materiales cerámicos. Proporciona una base científica confiable para la síntesis, optimización del proceso de preparación, mejora del rendimiento y popularización de aplicaciones de materiales cerámicos.

Es difícil cuantificar las fases amorfa y cristalina de los materiales cementantes debido a la complejidad de las fases minerales en la mezcla y a los importantes picos superpuestos. Se pueden obtener resultados excelentes mediante el refinamiento Rietveld de la muestra medida utilizando configuraciones de medición estándar.

La difracción de rayos X en polvo, como uno de los métodos para el estudio del polimorfismo de fármacos, tiene las ventajas de no destruir muestras y de un funcionamiento sencillo, y es el método principal para el análisis cualitativo y cuantitativo del polimorfismo de fármacos en la actualidad.