La cristalografía de rayos X es una técnica utilizada para determinar la estructura atómica y molecular de un cristal, donde la estructura cristalina hace que el haz de rayos X incidente se difracte en muchas direcciones específicas.

Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética muy utilizada en el campo médico e industrial. Aunque la mayoría de los rayos X se producen artificialmente, también existen algunos fenómenos en la naturaleza que producen rayos X.

Basado en la Ley de Bragg, la difracción de rayos X (DRX) in situ se puede utilizar para monitorear el cambio de fase y sus parámetros reticulares en el electrodo o en la interfaz electrodo-electrolito en tiempo real durante el ciclo de carga-descarga de un batería.

La prueba de rayos X es un método de prueba no destructivo que no daña el objeto en sí y se ha utilizado ampliamente en pruebas de materiales (QC), análisis de fallas (FA), control de calidad (QC), garantía de calidad y confiabilidad (QA/ Control de calidad), investigación y desarrollo (I+D) y otros campos.

A continuación se comparten tres detectores de un solo punto: contador proporcional, contador de centelleo y detector de estado sólido semiconductor.

El analizador de cristales de rayos X es un tipo de instrumento analítico grande para estudiar la microestructura interna de sustancias, utilizado principalmente en la orientación de un solo cristal, detección de defectos, determinación de tensión residual, dislocación de un solo cristal, etc.

Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.

Los instrumentos XRF utilizan rayos X para "excitar" un material con el fin de caracterizar su composición identificando elementos en la muestra (análisis cualitativo) o determinando la resistencia de un elemento en la muestra (análisis cuantitativo).

La difracción de rayos X es el medio más efectivo y más utilizado, y la difracción de rayos X es el primer método utilizado por los humanos para estudiar la microestructura de la materia.

Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética de longitud de onda corta, entre los rayos ultravioleta y gamma, que fue desarrollado por el físico alemán WK Fue descubierto por Roentgen en 1895, por lo que también se le llama rayos Roentgen.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales de muestras de polvo, bloques o películas delgadas.