El difractómetro de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de interacción entre rayos X y sustancias para obtener información como la estructura cristalina y la constante de red de sustancias midiendo el ángulo de difracción y la intensidad de los rayos X en las sustancias.

Los métodos de caracterización de catalizadores monoatómicos de cobre se utilizan a menudo para determinar su estructura y propiedades, y a continuación se presentan varios métodos de caracterización comunes.

El aglutinante es un compuesto polimérico que se utiliza en la fabricación de electrodos para adherir la sustancia activa al fluido colector. La función principal es unir y mantener las sustancias activas.

En este artículo, se prepararon una serie de materiales de carbono duro con estructura ajustable utilizando quitosano como fuente de carbono, y se analizó la relación entre la evolución de la estructura del carbono duro y las propiedades de almacenamiento de sodio.

Muchos materiales a través de laminación, extrusión y otros procesos de deformación, o incluso si no se deforman, los granos en el policristal muestran una distribución más o menos estadísticamente desigual, esta estructura organizativa se llama textura.

El método de ayudar a la tensión interna sin energía adicional propuesto en este artículo proporciona una nueva estrategia económica y conveniente para mejorar la dinámica de reacción de la batería.

La tecnología de difracción de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación de baterías de iones de litio. XRD es un método convencional para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases en materiales.

La aplicación de nuevas tecnologías y nuevos productos como 5G, big data e inteligencia artificial generará una enorme demanda en el mercado de semiconductores, y el gasto mundial en equipos de semiconductores ha entrado en un ciclo ascendente.

El difractómetro de rayos X (DRX) se puede dividir en difractómetro de polvo de rayos X y difractómetro de cristal único de rayos X; el principio físico básico de los dos es el mismo.

XRD es un medio de investigación que consiste en la difracción mediante difracción de rayos X de un material para analizar su patrón de difracción para obtener información como la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material.

La difracción de rayos X de incidencia rasante (GI-XRD) es un tipo de técnica de difracción de rayos X, que se diferencia del experimento XRD tradicional, principalmente porque cambia el ángulo de incidencia de los rayos X y la orientación de la muestra.

La difracción de rayos X (XRD) es actualmente un método poderoso para estudiar la estructura cristalina (como el tipo y la distribución de ubicación de átomos o iones y sus grupos, la forma y el tamaño de las células, etc.).