La aplicación de nuevas tecnologías y nuevos productos como 5G, big data e inteligencia artificial generará una enorme demanda en el mercado de semiconductores, y el gasto mundial en equipos de semiconductores ha entrado en un ciclo ascendente.

El difractómetro de rayos X (DRX) se puede dividir en difractómetro de polvo de rayos X y difractómetro de cristal único de rayos X; el principio físico básico de los dos es el mismo.

XRD es un medio de investigación que consiste en la difracción mediante difracción de rayos X de un material para analizar su patrón de difracción para obtener información como la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material.

La difracción de rayos X de incidencia rasante (GI-XRD) es un tipo de técnica de difracción de rayos X, que se diferencia del experimento XRD tradicional, principalmente porque cambia el ángulo de incidencia de los rayos X y la orientación de la muestra.

La difracción de rayos X (XRD) es actualmente un método poderoso para estudiar la estructura cristalina (como el tipo y la distribución de ubicación de átomos o iones y sus grupos, la forma y el tamaño de las células, etc.).

Basado en la Ley de Bragg, la difracción de rayos X (DRX) in situ se puede utilizar para monitorear el cambio de fase y sus parámetros reticulares en el electrodo o en la interfaz electrodo-electrolito en tiempo real durante el ciclo de carga-descarga de un batería.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales de muestras de polvo, bloques o películas delgadas.

El difractómetro de rayos X, también conocido como difractómetro de cristal de rayos X, abreviado XPD o XRD, es un instrumento para estudiar la microestructura interna de la materia. El difractómetro de rayos X tiene las ventajas de alta precisión, alta estabilidad y operación conveniente.

La difracción de rayos X (XRD) es un método importante para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia. Cuando una sustancia (cristalina o no cristalina) se analiza por difracción, la sustancia se irradia con rayos X para producir diferentes grados de fenómeno de difracción, la composición del material, el tipo de cristal, el modo de enlace intramolecular, la configuración molecular, la conformación y otras características del material determinan el patrón de difracción específico de la sustancia.