El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizado en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. Ventajas principales de XAFS: Producto con el flujo luminoso más alto: Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

Utilizando el método de difracción (transmisión) de rayos X para probar la estructura cristalina única de las fibras. Pruebe la orientación de la muestra basándose en datos como la textura de la fibra y el ancho del medio pico.

Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados más ideales. Con la ayuda de equipos de baja temperatura, se pueden proporcionar condiciones más ventajosas, que pueden permitir que los cristales indeseables obtengan resultados ideales, así como que los cristales ideales obtengan resultados más ideales.

θ - Estructura θ, la muestra permanece estacionaria mientras la fuente de radiación y el detector giran; Adopción de transmisión de cojinetes de alta precisión importada, con buena estabilidad; Control de sistema servo con accionamiento vectorial de circuito completamente cerrado y alta precisión. Contiene un microprocesador RISC de 32 bits y un codificador magnético de alta resolución para corrección automática de errores;

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.

El análisis del material de la batería ayuda a comprender y optimizar el rendimiento de la batería, mejorar la seguridad y la vida útil de la batería, reducir costos y promover el desarrollo y la aplicación de nuevos materiales.

La espectroscopia de absorción de rayos X es una técnica espectral para analizar la composición elemental y los estados electrónicos de los materiales mediante el uso de los cambios de señal antes y después de la incidencia de los rayos X de radiación sincrotrón.

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.

Un material cuyas propiedades están dominadas por efectos bidimensionales, las propiedades del material en una escala bidimensional son diferentes de sus propiedades a mayor escala.

Recientemente, un nuevo estudio fusionó con éxito óxidos metálicos con zeolita A y reveló el misterio de este proceso mediante la tecnología XRD y FTIR.

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.