El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales de muestras de polvo, bloques o películas delgadas.

El difractómetro de rayos X, también conocido como difractómetro de cristal de rayos X, abreviado XPD o XRD, es un instrumento para estudiar la microestructura interna de la materia. El difractómetro de rayos X tiene las ventajas de alta precisión, alta estabilidad y operación conveniente.

La difracción de rayos X (XRD) es un método importante para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia. Cuando una sustancia (cristalina o no cristalina) se analiza por difracción, la sustancia se irradia con rayos X para producir diferentes grados de fenómeno de difracción, la composición del material, el tipo de cristal, el modo de enlace intramolecular, la configuración molecular, la conformación y otras características del material determinan el patrón de difracción específico de la sustancia.