El espacio tridimensional de los átomos está organizado en un orden de largo alcance, y la unidad más pequeña de disposición repetida se llama celda, que se puede dividir en 7 tipos de sistemas cristalinos, 14 tipos de redes y 230 tipos de grupos espaciales. según la ley de arreglos.

El difractómetro monocristalino de rayos X Dandong Tongda TD-5000 ganó el "Premio 3i de instrumento y detección ACCSI2023 - Premio anual al nuevo producto destacado de la industria de instrumentos científicos 2022".

Los cristales, aunque admirados durante mucho tiempo por su regularidad y simetría, no se estudiaron científicamente hasta el siglo XVII. Echemos un vistazo a la historia temprana de la cristalografía.

Utilizando el principio de difracción de rayos X, el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales se determina de forma precisa y rápida, y la máquina de corte está equipada para el corte direccional de dichos cristales.

La tecnología de difracción de rayos X se utiliza ampliamente en la investigación de baterías de iones de litio. XRD es un método convencional para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases en materiales.

¡El Festival del Medio Otoño, la celebración del festival! ¡Dandong Tongda Technology Co., Ltd. para que todos los empleados emitan los beneficios del Festival del Medio Otoño!

El difractómetro de rayos X (DRX) mundial se ha desarrollado de manera constante en los últimos años y China es un mercado con grandes perspectivas de desarrollo.

La aplicación de nuevas tecnologías y nuevos productos como 5G, big data e inteligencia artificial generará una enorme demanda en el mercado de semiconductores, y el gasto mundial en equipos de semiconductores ha entrado en un ciclo ascendente.

En los últimos años, ha habido un interés creciente en la medición de muestras biológicas de alta presión. Esto se refleja en el desarrollo de nuevas técnicas de medición de presión diferentes a las implementadas por DAC. Una de ellas es la técnica de congelar cristales bajo presión.

XRD de alta resolución (HR-XRD) es un método común para medir la composición y el espesor de semiconductores compuestos como SiGe, AlGaAs, InGaAs, etc.