El difractómetro de cristal único de rayos-X se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de la nube de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos, y metales, y para analizar la estructura de materiales especiales tales como el hermanamiento, cristales no conmensurados, cuasicristales% 2c etc. Determinar el espacio tridimensional preciso (incluyendo la longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación, y la densidad de electrones de enlace uniforme) del nuevo compuesto Moléculas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; Puede proporcionar información sobre los parámetros de las células cristalinas, grupo espacial% 2c estructura molecular cristalina, enlaces intermoleculares de hidrógeno e interacciones débiles, así como información estructural como la configuración molecular y la conformación. Es ampliamente utilizado en investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía, y ciencia de materiales.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. está comprometida con la investigación, el desarrollo, la producción y la venta de difractómetros de rayos X. Actualmente, la empresa cuenta con difractómetros de rayos X, difractómetros de escritorio de rayos X, difractómetros de cristal único de rayos X, analizadores de cristales de rayos X y otros productos, que se venden tanto a nivel nacional como internacional y han recibido elogios unánimes de la industria.

El uso de un detector de píxeles híbrido puede lograr la mejor calidad de datos y al mismo tiempo garantizar un bajo consumo de energía y una baja refrigeración. Este detector combina las tecnologías clave de recuento de fotones individuales y píxeles híbridos, y se aplica en diversos campos, como la radiación sincrotrón y las fuentes de luz de laboratorio convencionales, eliminando eficazmente la interferencia del ruido de lectura y la corriente oscura. La tecnología de píxeles híbridos puede detectar directamente rayos X, lo que facilita la distinción de señales, y el detector puede proporcionar datos de alta calidad de manera eficiente.

El instrumento de medición de ángulos multifuncional de alta precisión de Tongda Technology no solo puede medir muestras de polvo convencionales, sino también probar muestras líquidas, muestras coloidales, muestras viscosas, polvos sueltos y muestras sólidas grandes.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organiza un evento de formación de equipos cada verano para centrarse en la supervivencia y el desarrollo de los empleados, implementar un cuidado humanista que cuide, aprecie y respete a las personas, y estimule la cohesión, el entusiasmo y la vitalidad de los empleados. Tongda Technology Company es un fabricante profesional de instrumentos de análisis de rayos X. La empresa cuenta actualmente con difractómetros de rayos X de la serie TD, difractómetros de rayos X de cristal único, difractómetros de rayos X de escritorio, analizadores de cristales de rayos X y otros productos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.

Fundada en 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es una empresa nacional de alta tecnología con instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de pruebas no destructivas de rayos X como sus productos líderes.

Las diferentes formas cristalinas del mismo fármaco pueden diferir significativamente en apariencia, solubilidad, punto de fusión, etc., lo que afecta la estabilidad, producción, biodisponibilidad y seguridad del fármaco.

El análisis del material de la batería ayuda a comprender y optimizar el rendimiento de la batería, mejorar la seguridad y la vida útil de la batería, reducir costos y promover el desarrollo y la aplicación de nuevos materiales.

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.

Un material cuyas propiedades están dominadas por efectos bidimensionales, las propiedades del material en una escala bidimensional son diferentes de sus propiedades a mayor escala.