Los polímeros comúnmente se sintetizan como fibras, láminas y otras formas sólidas. Sus propiedades se ven muy afectadas por sus parámetros estructurales, como la cristalinidad, la estructura cristalina y la orientación, y pueden estudiarse mediante XRD.

La difracción de rayos X se divide en dos tipos de difracción de monocristal y difracción de polvo, el monocristal se utiliza principalmente para la determinación del peso molecular y la estructura cristalina, el polvo se utiliza principalmente para la identificación y pureza de sustancias cristalinas.

GIWAXS es ​​una técnica para caracterizar la microestructura interna de muestras de películas delgadas. El tamaño de estructura correspondiente está entre 10 nm y 1 um, por lo que se usa ampliamente para caracterizar la cristalización dentro de células solares de película delgada.

HRXRD es un poderoso método de prueba no destructivo, y sus objetos de investigación son principalmente materiales monocristalinos, materiales de película delgada epitaxiales monocristalinos y diversas heteroestructuras semiconductoras de baja dimensión.

El fenómeno policristalino de los fármacos se refiere a la formación de diferentes estados cristalinos de una molécula compuesta en estado sólido debido a la diferente disposición de los cristales y métodos de llenado. ​

En el proceso de desarrollo de fármacos, las propiedades y la estructura de los polvos de cristales de fármacos desempeñan un papel crucial en su eficacia y seguridad, y la aplicación de la tecnología de difracción de rayos X (DRX) nos proporciona una herramienta poderosa.

El difractómetro de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de interacción entre rayos X y sustancias para obtener información como la estructura cristalina y la constante de red de sustancias midiendo el ángulo de difracción y la intensidad de los rayos X en las sustancias.

Los métodos de caracterización de catalizadores monoatómicos de cobre se utilizan a menudo para determinar su estructura y propiedades, y a continuación se presentan varios métodos de caracterización comunes.

Mediante la difracción de rayos X del material y el análisis de su patrón de difracción se obtiene información como la composición del material, la estructura o morfología de los átomos o moléculas internas.

En este artículo, analizamos brevemente uno (en realidad dos) defectos cristalinos, una falla y una falla de capa en estas tres estructuras cristalinas. Otras estructuras cristalinas también tienen fallas y fallas de capas.

La tecnología de rayos X desempeña un papel vital en la investigación médica y científica, y los avances recientes en la tecnología de rayos X están permitiendo haces e imágenes más brillantes y potentes de sistemas cada vez más complejos en condiciones del mundo real.