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El analizador de cristales de rayos X es un tipo de instrumento analítico grande para estudiar la microestructura interna de sustancias, utilizado principalmente en la orientación de un solo cristal, detección de defectos, determinación de tensión residual, dislocación de un solo cristal, etc.
Este procedimiento es un procedimiento de desarrollo propio. Contiene una variedad de funciones de análisis cuantitativo desarrolladas por nosotros mismos, que están de acuerdo con la teoría de la difracción y se calculan por intensidad integral.
Los rayos X son un tipo de radiación electromagnética de longitud de onda corta, entre los rayos ultravioleta y gamma, que fue desarrollado por el físico alemán WK Fue descubierto por Roentgen en 1895, por lo que también se le llama rayos Roentgen.
El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructuras de materiales, análisis de orientación de cristales de muestras de polvo, bloques o películas delgadas.
Las características y ventajas de los productos de la serie de difractómetros de rayos X de Dandong Tongda Technology Company.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. como una empresa pionera en la industria nacional, desde su creación con un equipo profesional, espíritu profesional para ofrecer a los clientes productos avanzados y servicios de calidad.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. enfatiza el concepto de servicio al cliente de "las necesidades del cliente como punto de partida" y fortalece el sistema de servicio al cliente. Nuestros servicios, desde la planificación, el diseño hasta la implementación, brindan servicios sistemáticos, razonables y efectivos de extremo a extremo para ayudar a los usuarios a dominar nuevos productos, nuevas tecnologías y mejorar integralmente el valor de uso real de los productos.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. no solo ha logrado grandes logros en el rendimiento y la configuración de la máquina, sino también un completo sistema de servicio posventa para brindar a los usuarios una experiencia perfecta.
Desde sus inicios, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ha puesto el valor de los empleados en la filosofía de la empresa. No son trabajadores opcionales, son socios, amigos, es lograr el desarrollo continuo de la empresa y el crecimiento de los principales contribuyentes, se puede decir que este punto es una experiencia real en Tongda.
El difractómetro de rayos X, también conocido como difractómetro de cristal de rayos X, abreviado XPD o XRD, es un instrumento para estudiar la microestructura interna de la materia. El difractómetro de rayos X tiene las ventajas de alta precisión, alta estabilidad y operación conveniente.
La difracción de rayos X (XRD) es un método importante para estudiar la fase y la estructura cristalina de una sustancia. Cuando una sustancia (cristalina o no cristalina) se analiza por difracción, la sustancia se irradia con rayos X para producir diferentes grados de fenómeno de difracción, la composición del material, el tipo de cristal, el modo de enlace intramolecular, la configuración molecular, la conformación y otras características del material determinan el patrón de difracción específico de la sustancia.