El analizador de orientación de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la orientación de los cristales. Se utiliza ampliamente en campos como la ciencia de los materiales, la geología, la física, etc., para estudiar la estructura cristalina, los parámetros reticulares, los defectos de los cristales, etc. El principio de funcionamiento de un analizador de orientación de rayos X es irradiar un haz de rayos X monocromático sobre el cristal en prueba. Cuando los rayos X interactúan con los átomos del cristal, se produce dispersión. Según la ley de Bragg, cuando la longitud de onda de los rayos X es un múltiplo entero del espaciamiento atómico en un cristal, la luz dispersada interferirá y formará una serie de franjas brillantes y oscuras alternas, conocidas como reflexión de Bragg. Al medir los ángulos y las intensidades de estas reflexiones de Bragg, se puede calcular información como la orientación del cristal y los parámetros de la red. El analizador de orientación de rayos X generalmente incluye las siguientes partes principales: 1. Fuente de rayos X: dispositivo que produce rayos X monocromáticos, normalmente utilizando un tubo de rayos X o una fuente de radiación de sincrotrón. 2. Etapa de muestra: una plataforma utilizada para colocar el cristal a probar, que puede ajustar la posición y el ángulo del cristal. 3. Detector: se utiliza para recibir rayos X dispersos y convertirlos en señales eléctricas. Entre los detectores más comunes se encuentran los contadores de centelleo, los contadores proporcionales, etc. 4. Sistema de adquisición y procesamiento de datos: se utiliza para recopilar señales emitidas por detectores y realizar el procesamiento y análisis de datos. Generalmente incluye analizadores multicanal, computadoras y otros equipos. 5. Sistema de control: se utiliza para controlar el movimiento de la fuente de rayos X, la plataforma de muestra y el detector para lograr la medición de cristales en diferentes direcciones. Mediante el uso de un analizador de orientación de rayos X, los investigadores pueden determinar con precisión la orientación y los parámetros de red de los cristales, lo que les permite comprender mejor su estructura y sus propiedades. Esto es de gran importancia para el desarrollo de nuevos materiales, la exploración geológica, el crecimiento de cristales y otros campos.

El accesorio de batería in situ es un componente de los accesorios del difractómetro de rayos X. Los accesorios de batería in situ se utilizan ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen materiales compuestos como carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre e insertos metálicos. Rango de prueba: 0,5-160 grados Celsius Resistencia a la temperatura: 400 ℃ Tamaño de la ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); grosor 0,1 mm (personalizable) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de difractómetros de rayos X, mayorista de analizadores direccionales de rayos X y mayorista de analizadores de cristales de rayos X de la serie X.

El analizador multifuncional de tensiones residuales TDTC-150 integra funciones analíticas esenciales, como el análisis de tensiones residuales de alta precisión, la medición cuantitativa de austenita retenida y el análisis del tamaño de fase/cristalito en un solo dispositivo. Incorpora un sistema de control PLC modular, un diseño ligero y portátil, y un servosistema de alta precisión con detector multicanal para una adquisición de datos eficiente y de alta resolución. El instrumento es compatible con una amplia gama de materiales, como aceros, aleaciones de titanio y compuestos. Dandong Tongda Technology, con su consolidada experiencia en exportación global, ofrece el TDTC-150 para satisfacer la creciente demanda internacional de soluciones fiables y multifuncionales para el ensayo de materiales en los sectores de fabricación avanzada e I+D.

El analizador de tensiones por rayos X TD-Mini de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. utiliza tecnología de difracción de rayos X para ensayos no destructivos. Mide la tensión en metales y plásticos con alta precisión y adaptabilidad a diversas aplicaciones. Destaca por su diseño compacto, funcionamiento intuitivo, alta eficiencia y amplio abanico de usos. Incluye un tubo de rayos X de 60 W con múltiples objetivos y un detector de conteo de fotones de alta velocidad (>1x10⁹ cps).

El analizador de tensiones residuales por difracción de rayos X TD-RSD integra múltiples geometrías de difracción y tecnologías de detección de alta precisión. Permite un análisis preciso de las tensiones residuales en metales, cerámicas y materiales compuestos, con una potencia de 3 kW, una repetibilidad de ±7 MPa y un funcionamiento automatizado para aplicaciones industriales y de investigación.

TDTC-150: Analizador de tensiones por rayos X portátil para uso en laboratorio y en campo. Mide rápidamente la tensión residual y la austenita retenida, y analiza la estructura y las fases de las aleaciones. Sus características principales incluyen alta precisión, análisis multimodal y adquisición de datos eficiente para diversos materiales.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de ejecución del proyecto de difractómetro monocristalino de rayos X del Proyecto Especial Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Importantes del Ministerio de Ciencia y Tecnología. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientada a las personas y cuenta con un sólido equipo tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y a brindar un sólido soporte y servicios a los usuarios con instituciones eficientes de consultoría técnica y servicio posventa.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de emprendimiento del proyecto especial de difractómetro de cristal único de rayos X de desarrollo de equipos e instrumentos científicos importantes a nivel nacional del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientado a las personas y cuenta con un sólido equipo científico y tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y brindar un sólido soporte y servicios con instituciones de consultoría técnica y servicio posventa eficientes.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. está comprometida con la investigación, el desarrollo, la producción y la venta de difractómetros de rayos X. Actualmente, la empresa cuenta con difractómetros de rayos X, difractómetros de escritorio de rayos X, difractómetros de cristal único de rayos X, analizadores de cristales de rayos X y otros productos, que se venden tanto a nivel nacional como internacional y han recibido elogios unánimes de la industria.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organiza un evento de formación de equipos cada verano para centrarse en la supervivencia y el desarrollo de los empleados, implementar un cuidado humanista que cuide, aprecie y respete a las personas, y estimule la cohesión, el entusiasmo y la vitalidad de los empleados. Tongda Technology Company es un fabricante profesional de instrumentos de análisis de rayos X. La empresa cuenta actualmente con difractómetros de rayos X de la serie TD, difractómetros de rayos X de cristal único, difractómetros de rayos X de escritorio, analizadores de cristales de rayos X y otros productos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.