Dandong Tongda lanza su nuevo Analizador de Tensión Residual TD-RSD. Este avanzado instrumento de rayos X garantiza mediciones de alta precisión y eficiencia, además de la conformidad global para mejorar la seguridad y la calidad en los procesos de fabricación a nivel mundial.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF de Dandong Tongda representa la innovación de China en instrumentos analíticos de alta gama de desarrollo propio. Ofrece un análisis preciso, seguro y fiable de la estructura cristalina para la ciencia de materiales y la I+D farmacéutica a nivel mundial.

Los orientadores de cristales de rayos X de Dandong Tongda (precisión de ±30 segundos de arco y capacidad de carga de 30 kg) ofrecen una orientación precisa para cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Con modelos especializados y etapas de muestra, estos sistemas respaldan la investigación y la fabricación de cristales a nivel mundial, lo que les ha valido el reconocimiento internacional para los instrumentos de precisión chinos.

Dandong Tongda, fabricante chino líder, produce orientadores de cristal de rayos X de última generación. Mediante la difracción de rayos X, estos instrumentos permiten la medición precisa del ángulo de corte y el corte direccional de diversos cristales. Modelos clave como el TYX-200 y el TYX-2H8 ofrecen alta precisión (±30″), gran capacidad de muestra, facilidad de uso y detección eficiente. Ampliamente utilizados en los sectores de semiconductores, óptica e investigación, estos instrumentos de primera categoría cuentan con certificación, patentes y se exportan a todo el mundo.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristal de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta la tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que puede lograr un funcionamiento confiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje, la elevación y tiene la función de entrenar automáticamente el tubo de rayos X, lo que extiende efectivamente la vida útil del tubo de rayos X y del instrumento de rayos X.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Utiliza el principio de interacción entre los rayos X y el cristal para determinar la disposición atómica dentro del cristal mediante el análisis del patrón de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristales de rayos X, como instrumento de rayos X, proporciona información valiosa para la investigación en ciencia de materiales y otros campos relacionados. Con el avance continuo de la tecnología y la expansión de las aplicaciones, el analizador de cristales de rayos X seguirá desempeñando un papel importante en la investigación científica y la producción industrial.

El instrumento automático de orientación por rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la estructura cristalina, la orientación y los parámetros de red. Tiene una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales, la geología, la física y la química, especialmente en el estudio de la microestructura y las propiedades de los materiales monocristalinos, policristalinos y de película delgada. A continuación se proporcionará una introducción detallada al principio de funcionamiento, la aplicación y las precauciones operativas del orientador de cristales por rayos X. Con el avance de la tecnología, los dispositivos de instrumentos de orientación de rayos X automáticos continúan mejorando, con una mayor resolución y un funcionamiento más sencillo. Al mismo tiempo, la combinación con otras técnicas analíticas como la microscopía electrónica y el análisis espectroscópico hace que el análisis de la estructura cristalina sea más completo y profundo. Además, los dispositivos analizadores de orientación de rayos X portátiles y de monitoreo en línea se han desarrollado gradualmente, brindando posibilidades de análisis in situ y monitoreo en tiempo real. En resumen, el analizador de orientación por rayos X es una potente herramienta analítica que resulta crucial para comprender y controlar la microestructura de los materiales. Con el continuo desarrollo de la tecnología, su aplicación en diversos campos se hará más extensa y profunda.

El analizador de orientación de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la orientación de los cristales. Se utiliza ampliamente en campos como la ciencia de los materiales, la geología, la física, etc., para estudiar la estructura cristalina, los parámetros reticulares, los defectos de los cristales, etc. El principio de funcionamiento de un analizador de orientación de rayos X es irradiar un haz de rayos X monocromático sobre el cristal en prueba. Cuando los rayos X interactúan con los átomos del cristal, se produce dispersión. Según la ley de Bragg, cuando la longitud de onda de los rayos X es un múltiplo entero del espaciamiento atómico en un cristal, la luz dispersada interferirá y formará una serie de franjas brillantes y oscuras alternas, conocidas como reflexión de Bragg. Al medir los ángulos y las intensidades de estas reflexiones de Bragg, se puede calcular información como la orientación del cristal y los parámetros de la red. El analizador de orientación de rayos X generalmente incluye las siguientes partes principales: 1. Fuente de rayos X: dispositivo que produce rayos X monocromáticos, normalmente utilizando un tubo de rayos X o una fuente de radiación de sincrotrón. 2. Etapa de muestra: una plataforma utilizada para colocar el cristal a probar, que puede ajustar la posición y el ángulo del cristal. 3. Detector: se utiliza para recibir rayos X dispersos y convertirlos en señales eléctricas. Entre los detectores más comunes se encuentran los contadores de centelleo, los contadores proporcionales, etc. 4. Sistema de adquisición y procesamiento de datos: se utiliza para recopilar señales emitidas por detectores y realizar el procesamiento y análisis de datos. Generalmente incluye analizadores multicanal, computadoras y otros equipos. 5. Sistema de control: se utiliza para controlar el movimiento de la fuente de rayos X, la plataforma de muestra y el detector para lograr la medición de cristales en diferentes direcciones. Mediante el uso de un analizador de orientación de rayos X, los investigadores pueden determinar con precisión la orientación y los parámetros de red de los cristales, lo que les permite comprender mejor su estructura y sus propiedades. Esto es de gran importancia para el desarrollo de nuevos materiales, la exploración geológica, el crecimiento de cristales y otros campos.

El accesorio de batería in situ es un componente de los accesorios del difractómetro de rayos X. Los accesorios de batería in situ se utilizan ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen materiales compuestos como carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre e insertos metálicos. Rango de prueba: 0,5-160 grados Celsius Resistencia a la temperatura: 400 ℃ Tamaño de la ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); grosor 0,1 mm (personalizable) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de difractómetros de rayos X, mayorista de analizadores direccionales de rayos X y mayorista de analizadores de cristales de rayos X de la serie X.

El analizador multifuncional de tensiones residuales TDTC-150 integra funciones analíticas esenciales, como el análisis de tensiones residuales de alta precisión, la medición cuantitativa de austenita retenida y el análisis del tamaño de fase/cristalito en un solo dispositivo. Incorpora un sistema de control PLC modular, un diseño ligero y portátil, y un servosistema de alta precisión con detector multicanal para una adquisición de datos eficiente y de alta resolución. El instrumento es compatible con una amplia gama de materiales, como aceros, aleaciones de titanio y compuestos. Dandong Tongda Technology, con su consolidada experiencia en exportación global, ofrece el TDTC-150 para satisfacer la creciente demanda internacional de soluciones fiables y multifuncionales para el ensayo de materiales en los sectores de fabricación avanzada e I+D.

El analizador de tensiones por rayos X TD-Mini de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. utiliza tecnología de difracción de rayos X para ensayos no destructivos. Mide la tensión en metales y plásticos con alta precisión y adaptabilidad a diversas aplicaciones. Destaca por su diseño compacto, funcionamiento intuitivo, alta eficiencia y amplio abanico de usos. Incluye un tubo de rayos X de 60 W con múltiples objetivos y un detector de conteo de fotones de alta velocidad (>1x10⁹ cps).