El accesorio de alta temperatura de un difractómetro es un dispositivo adicional que permite realizar análisis de difracción de rayos X en muestras a alta temperatura. Este dispositivo permite comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de diversas sustancias durante dicho calentamiento. Principio de funcionamiento del accesorio de alta temperatura: Mediante métodos como calentamiento por resistencia, calentamiento por inducción o calentamiento por radiación, la muestra se calienta dentro de un rango de temperatura establecido. Al mismo tiempo, está equipado con sensores de temperatura de alta precisión y sistemas de control para monitorear y ajustar la temperatura de la muestra en tiempo real, garantizando la estabilidad y precisión de la temperatura. La precisión del control de temperatura puede alcanzar ±0,5 °C o incluso más. Para mantener la estabilidad de la muestra a altas temperaturas y evitar que reaccione con el oxígeno del aire, los accesorios de alta temperatura suelen requerir un sistema de protección de atmósfera. Las atmósferas comunes incluyen gases inertes como argón, nitrógeno, etc. El sistema de control de atmósfera puede controlar con precisión el caudal y la presión de la atmósfera, proporcionando un entorno experimental estable para la muestra. Las funciones principales del accesorio de alta temperatura son: El monitoreo en tiempo real de la transición de fase de la muestra, las reacciones químicas, los cambios en la estructura cristalina y otros procesos se puede realizar en entornos de alta temperatura para obtener información sobre la estructura y las propiedades de las sustancias a diferentes temperaturas. Mediante el análisis de la posición, la intensidad y la forma de los picos de difracción, se pueden obtener los parámetros de la celda cristalina, la estructura cristalina, la composición de la fase y otra información de la muestra, y se puede medir con precisión el contenido de cada componente. Estudie la velocidad, el mecanismo y el comportamiento de difusión de las reacciones químicas. Por ejemplo, observe los cambios estructurales de los catalizadores durante las reacciones a alta temperatura, comprenda la formación y desaparición de sus centros activos y optimice su rendimiento. Área de aplicación del accesorio de alta temperatura: Se utiliza para estudiar la transición de fase, la evolución de la estructura cristalina y los cambios de rendimiento de materiales superconductores de alta temperatura, aleaciones metálicas, materiales cerámicos, etc., a diferentes temperaturas, lo que proporciona una base para el diseño y la preparación de materiales. El seguimiento de los cambios en las sustancias durante las reacciones químicas, como el estudio de los cambios estructurales de los catalizadores y la evolución de los centros activos en reacciones catalíticas de alta temperatura, puede contribuir al desarrollo de catalizadores eficientes. Estudia las propiedades físicas de las sustancias a altas temperaturas, como el magnetismo, la estructura electrónica y su relación con la temperatura, y explora nuevos fenómenos y leyes físicas. Parámetros técnicos del accesorio de alta temperatura: Ajuste de temperatura: Entorno de gas inerte desde temperatura ambiente hasta 1200 ℃ Entorno de vacío: alta temperatura de 1600 ℃ Precisión del control de temperatura: ± 0,5 ℃ Material de la ventana: Película de poliéster Método de enfriamiento: enfriamiento por circulación de agua desionizada En resumen, el accesorio de alta temperatura en el difractómetro es una herramienta de prueba importante que puede realizar análisis de difracción de rayos X en muestras en condiciones de alta temperatura, lo que proporciona un fuerte respaldo para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la ingeniería química y la física.

El accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico que se utiliza para mejorar la intensidad de la señal de películas delgadas y reducir la influencia de las señales del sustrato en los resultados de la medición. Generalmente se utiliza en experimentos o instrumentos ópticos, principalmente para generar haces paralelos o realizar mediciones ópticas en muestras de película delgada. Al aumentar la longitud de la rejilla, se puede lograr un control y filtrado de la luz más precisos. Cuando la luz pasa a través de ella, la placa de rejilla puede filtrar más líneas dispersas, lo que hace que la luz transmitida sea más pura y más concentrada, reduciendo así la interferencia de la luz dispersa en la señal de la película delgada y mejorando la intensidad de la señal de la propia película delgada, mejorando la precisión y confiabilidad de la medición. 1. Función principal del accesorio de medición de película óptica paralela Mejora de la precisión de la medición: en la detección y el análisis relacionados con películas delgadas, como la medición del espesor de películas delgadas, la determinación de la constante óptica, etc., los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir eficazmente la influencia de las señales del sustrato, haciendo que los resultados de la medición sean más cercanos a las características reales de la película delgada, mejorando así la precisión y exactitud de la medición. Mejora de la intensidad de la señal: ayuda a aumentar la intensidad de la señal luminosa reflejada o transmitida por la película fina, lo que es particularmente importante para algunas muestras de película fina con señales más débiles. La señal mejorada puede ser recibida y reconocida con mayor claridad por el detector, lo que reduce el límite de detección y mejora la sensibilidad del instrumento para detectar muestras de película fina. Mejora de la calidad de la imagen: en algunas aplicaciones que requieren la observación de imágenes de películas delgadas, como la observación de la morfología de la superficie de películas delgadas bajo un microscopio, los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir el ruido de fondo y la borrosidad causada por la luz dispersa, lo que hace que la imagen de la película delgada sea más clara, tenga mayor contraste y sea más fácil observar y analizar la estructura detallada de la película delgada. 2. Componentes principales del accesorio de medición de película óptica paralela Fuente de luz: normalmente se utilizan láseres, LED u otras fuentes de luz monocromáticas. Lente colimadora: convierte los haces de luz divergentes en luz paralela. Soporte de muestra: se utiliza para colocar muestras de película, generalmente ajustable en posición y ángulo. Detector: se utiliza para recibir señales de luz transmitidas o reflejadas para medición y análisis. 3. Campos de aplicación del accesorio de medición de película óptica paralela Investigación óptica: se utiliza para estudiar las propiedades ópticas de películas delgadas, como interferencia, difracción, etc. Ciencia de los materiales: se utiliza para medir el espesor y el índice de refracción de películas delgadas y evaluar las propiedades del material. Pruebas industriales: se utilizan para el control de calidad y las pruebas en la producción de películas. 4. Instrucciones para el accesorio de medición de película óptica paralela Ajuste la fuente de luz: asegúrese de que la fuente de luz sea estable y el haz sea uniforme. Haz colimado: ajusta el haz de luz a través de una lente colimadora para hacerlo paralelo. Colocar la muestra: Coloque la muestra de película en la platina de muestra, ajuste la posición y el ángulo. Medición y análisis: Utilice detectores para recibir señales de luz, registrar datos y realizar análisis. 5. Precauciones Estabilidad de la fuente de luz: asegúrese de la estabilidad de la fuente de luz para evitar errores de medición. Limpieza de componentes ópticos: Mantenga los componentes ópticos limpios para evitar que el polvo y las manchas afecten los resultados de la medición. Preparación de la muestra: Asegúrese de que la muestra de película sea uniforme y libre de defectos para obtener resultados de medición precisos. En resumen, el accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico importante que juega un papel crucial en múltiples campos y es de gran importancia en la promoción de la investigación científica y el progreso tecnológico en campos relacionados.

El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro de rayos X es un componente clave utilizado para el análisis de difracción de rayos X en entornos de baja temperatura. El accesorio de temperatura media y baja se usa ampliamente en trabajos de investigación y desarrollo en ciencia de materiales, física, química y otros campos, especialmente adecuado para escenarios que requieren análisis estructural de materiales en diferentes condiciones de temperatura. Para comprender los cambios en la estructura cristalina durante el proceso de refrigeración a baja temperatura, los siguientes son los parámetros técnicos del accesorio de temperatura media y baja: Entorno de vacío: 196 ~ 500 ℃ Precisión del control de temperatura: ± 0,5 ℃ Método de refrigeración: nitrógeno líquido (consumo inferior a 4L/h) Material de la ventana: Película de poliéster. Método de enfriamiento: enfriamiento por circulación de agua desionizada. En resumen, el accesorio de temperatura media y baja del difractómetro de rayos X es un componente importante del equipo que puede brindar un fuerte apoyo para la investigación científica y el análisis de materiales. El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro es una de las herramientas importantes en el campo del análisis de la estructura de los materiales, con amplias perspectivas de aplicación y un valor de investigación significativo. El accesorio de temperatura media y baja del difractómetro es un componente clave para garantizar el funcionamiento normal y la medición precisa del instrumento en condiciones de baja temperatura. Su diseño y rendimiento afectan directamente la precisión y confiabilidad de los resultados experimentales. Al seleccionar y aplicar el accesorio de temperatura media y baja, se deben considerar completamente los requisitos experimentales, las características de la muestra, así como los parámetros técnicos y las características de rendimiento de los accesorios para garantizar los mejores resultados experimentales.

Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en difractómetros de rayos X. Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño permiten realizar mediciones de difracción de rayos X dentro de un rango de ángulos muy pequeño, de 0° a 5°, para pruebas de espesor de nanopelículas multicapa. Desempeñan un papel importante en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología. Tipos y características comunes: Accesorio de película delgada de luz paralela: este accesorio puede generar haces de rayos X paralelos y es adecuado para mediciones de difracción de ángulos pequeños de muestras de película delgada. Puede mejorar la precisión y la resolución de las mediciones, reducir los errores de medición causados ​​por la divergencia del haz y adaptarse mejor a muestras de película delgada de diferentes espesores y propiedades. Platina de muestra multifuncional: Equipada con accesorios de difracción de ángulo pequeño, la platina de muestra multifuncional puede proporcionar varios entornos de prueba para muestras, como calentamiento, enfriamiento, estiramiento in situ, etc. Esto hace que sea más conveniente estudiar los cambios estructurales de los materiales en diferentes condiciones externas y permite la observación en tiempo real de la respuesta estructural de los materiales durante la temperatura, el estrés y otros cambios. Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño juegan un papel importante en múltiples campos, como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología, al lograr una difracción de ángulo pequeño y una medición precisa del espesor de película nanométrica multicapa, proporcionando a los investigadores una herramienta poderosa para la exploración en profundidad de las microestructuras y propiedades de los materiales.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la cristalinidad de la fibra y el ancho de medio pico. Un componente especializado que se utiliza para analizar materiales de fibra como textiles, fibras poliméricas, fibras biológicas, etc. Se utiliza comúnmente para estudiar la estructura cristalina, la orientación y la disposición molecular de las fibras. Funciones principales de los accesorios de fibra: 1. Fijación de la muestra de fibra: Los accesorios de fibra se utilizan para fijar la muestra de fibra, asegurando su posición y estabilidad de dirección en el haz de rayos X. 2. Análisis de la orientación de las fibras: ajustando la posición y el ángulo de la muestra, se estudia la orientación de los cristales y la disposición molecular de las fibras. 3. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS): algunos accesorios de fibra admiten SAXS para analizar la estructura a nanoescala de las fibras. Tipos comunes de accesorios de fibra: 1. Dispositivo de estiramiento de fibra: puede aplicar tensión a las fibras durante el análisis XRD para estudiar cambios estructurales bajo estrés. 2. Platina de muestra giratoria: permite que las muestras de fibra giren, lo que facilita la recopilación de datos de difracción desde diferentes ángulos. 3. Accesorios de control de temperatura: se utilizan para analizar materiales de fibra a temperaturas específicas y estudiar el efecto de la temperatura en la estructura. Campos de aplicación de los accesorios de fibra: 1. Ciencia de los materiales: estudia la estructura cristalina y las propiedades mecánicas de fibras sintéticas como el nailon y el poliéster. 2. Biomateriales: Analizar la estructura de fibras naturales como el colágeno y la celulosa. 3. Textiles: Evaluar la orientación y cristalinidad de las fibras textiles. Pasos para utilizar accesorios de fibra: 1. Preparación de la muestra: Fije la muestra de fibra en el accesorio. 2. Ajustar parámetros: configure la fuente de rayos X, el detector y las posiciones de la muestra. 3. Recopilación de datos: Recopilar patrones de difracción. 4. Análisis de datos: Utilizar software para analizar datos de difracción y obtener información estructural. Asuntos que requieren atención: -Alineación de la muestra: asegúrese de que la muestra esté alineada con precisión con el haz de rayos X. -Optimización de parámetros: Optimice la energía de los rayos X, el tiempo de exposición, etc. en función de las características de la muestra. -Calidad de los datos: garantizar patrones de difracción claros y evitar interferencias de ruido. Nuestra empresa ofrece capacitación en sitio sobre el uso de instrumentos y conocimientos relacionados con la industria, así como el uso y mantenimiento posterior del software de análisis y servicios completos de mantenimiento de máquinas.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la textura de la fibra y el ancho de medio pico.

El accesorio de temperatura media y baja está diseñado para comprender los cambios en la estructura cristalina durante el proceso de refrigeración a baja temperatura.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Los accesorios de alta temperatura están diseñados para comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de varias sustancias durante el calentamiento a alta temperatura.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Originalmente, Battery Accessory es un dispositivo utilizado para la investigación de sistemas electroquímicos, perteneciente a los accesorios de difractómetro de rayos X, que permite el monitoreo y análisis dinámico y en tiempo real de la batería en condiciones específicas. Se utiliza ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos metálicos incrustados, etc.