ElAccesorios para difractómetros de ángulo pequeñoson  accesorio importantesis utilizado en difractómetros de rayos X.Accesorios para difractómetros de ángulo pequeño permiten realizar mediciones de difracción de rayos X dentro de un rango de ángulos muy pequeño, desde De 0° a 5°, para pruebas de espesor de nanopelículas multicapa. Desempeña un papel importante en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología.

Tipos y características comunes:

Película delgada de luz paralelaaccesory: Esteaccesory Puede generar haces de rayos X paralelos y es adecuado para mediciones de difracción de ángulos pequeños de muestras de película delgada. Puede mejorar la precisión y la resolución de las mediciones, reducir los errores de medición causados ​​por la divergencia del haz y adaptarse mejor a muestras de película delgada de diferentes espesores y propiedades.

Platina de muestra multifuncional: Equipada con accesorios de difracción de ángulo pequeño, la platina de muestra multifuncional puede proporcionar varios entornos de prueba para muestras, como calentamiento, enfriamiento, estiramiento in situ, etc. Esto hace que sea más conveniente estudiar los cambios estructurales de los materiales en diferentes condiciones externas y permite la observación en tiempo real de la respuesta estructural de los materiales durante la temperatura, el estrés y otros cambios.

ElAccesorios para difractómetros de ángulo pequeño Desempeñan un papel importante en múltiples campos, como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología, al lograr una difracción de ángulos pequeños y una medición precisa del espesor de películas multicapa nanométricas, proporcionando a los investigadores una herramienta poderosa para la exploración en profundidad de las microestructuras y propiedades de los materiales.