El accesorio de medición integrado multifuncional es Se utiliza para analizar películas en placas, bloques y sustratos, y puede realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas.

Características funcionales deaccesorios de medición integrados multifuncionales：

Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión;

Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación;

Prueba de película delgada (rotación de muestras en el plano)

Áreas de aplicación deaccesorios de medición integrados multifuncionales：

Evaluación de estructuras de ensamblajes metálicos tales como placas laminadas;

Evaluación de la orientación cerámica;

Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada;

Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.);

Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.);

Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas;

Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.);

Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes.

Especificaciones técnicas paraaccesorios de medición integrados multifuncionales：

Distancia mínima de paso del eje alfa (inclinación): 0,001 °/paso, rango dinámico: - 45°-90°      

Paso mínimo del eje β (rotación): 0,001°/paso, rango dinámico: 0° -360°

Distancia mínima de paso en el eje z: 0,001 °/paso, rango dinámico: 0-10 mm

Tamaño de la muestra: diámetro máximo de 100 mm, espesor ajustable.