Para comprender los cambios en la estructura cristalina durante los procesos de refrigeración a baja temperatura.

Comprender los cambios en la estructura cristalina de muestras durante el calentamiento a alta temperatura y los cambios en la disolución mutua de diversas sustancias durante el calentamiento a alta temperatura.

El sistema de enfriamiento de nitrógeno líquido de baja temperatura Cryostream (TD-100) utilizado en difractómetros de rayos X de monocristal ofrece una variedad de características, desde un control de temperatura altamente estable y preciso hasta tiempos de enfriamiento rápidos y capacidades de llenado automático integradas. Cada iteración de Cryostream amplía la lista de funciones disponibles. Combina un diseño elegante, enfatizando la confiabilidad, la simplicidad y la facilidad de uso. La última versión del enfriador de gas de baja temperatura y flujo abierto integra el controlador, la bomba y la unidad de aire seco en un módulo de suministro de gas. Esto minimiza el espacio total del sistema, simplifica el cableado y la instalación y mejora la experiencia del usuario.

Los accesorios correspondientes se pueden configurar para difracción de ángulo pequeño, y el rango de ángulo de 0° a 5° se puede utilizar para pruebas de espesor de películas nano multicapa.

Utilizando el método de difracción (transmisión) de rayos X para probar la estructura cristalina única de las fibras. Pruebe la orientación de la muestra basándose en datos como la textura de la fibra y el ancho del medio pico.

Impulsado por un motor paso a paso importado y controlado por un controlador lógico programable (PLC) Siemens importado, no es necesario reemplazar manualmente la muestra. El sistema mide automáticamente las muestras de forma continua y guarda los datos automáticamente. Se pueden cargar seis muestras a la vez para una medición continua.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de ejecución del proyecto de difractómetro monocristalino de rayos X del Proyecto Especial Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Importantes del Ministerio de Ciencia y Tecnología. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientada a las personas y cuenta con un sólido equipo tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y a brindar un sólido soporte y servicios a los usuarios con instituciones eficientes de consultoría técnica y servicio posventa.

Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados más ideales. Con la ayuda de equipos de baja temperatura, se pueden proporcionar condiciones más ventajosas, que pueden permitir que los cristales indeseables obtengan resultados ideales, así como que los cristales ideales obtengan resultados más ideales.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para análisis cuantitativos y cualitativos de fase, análisis de estructura en masa, análisis de estructura de material, análisis de orientación de cristales, determinación de tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de partículas, determinación de cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloques o películas.

Descripción de las características del software: Este programa es un programa de desarrollo propio. Contiene varios métodos cuantitativos desarrollados de forma independiente, de acuerdo con la teoría de difracción, y calculados completamente utilizando la función de análisis de intensidad integrada. Si este programa contiene la función de ajuste, separación y cuantificación de picos de espectro completo, aún se puede cuantificar con precisión bajo diferentes anchos de línea de fase; La función del método de cuantificación de intensidad integrado, que puede eliminar de manera conveniente y automática la interferencia de los picos superpuestos de esta fase y otras fases, y no se ve afectada por los diferentes anchos de línea de cada fase, como Cálculo de archivo PDF completo, combinación de espectro, método de ajuste de espectro completo, cálculo de archivo de tarjeta personalizado, combinación de espectro, método de ajuste de espectro completo, etc. Todos los métodos anteriores utilizan integración. El concepto de intensidad se puede cuantificar mediante un ajuste de espectro completo sin involucrar la estructura y con diferentes anchos de línea de fase. Se pueden excluir picos superpuestos. La interferencia puede reducir o eliminar la influencia de la orientación preferida.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de emprendimiento del proyecto especial de difractómetro de cristal único de rayos X de desarrollo de equipos e instrumentos científicos importantes a nivel nacional del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientado a las personas y cuenta con un sólido equipo científico y tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y brindar un sólido soporte y servicios con instituciones de consultoría técnica y servicio posventa eficientes.

Excelente detector, análisis de difracción de rayos X de muestras policristalinas, ajuste preciso del instrumento, excelente resolución