El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.

El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.

El difractómetro de rayos X de la serie TD hereda su alta estabilidad constante y su tecnología de posicionamiento servoaccionado de bucle cerrado de alta precisión, lo que mejora aún más la precisión. Además de mejorar el rendimiento tradicional, como la trayectoria óptica plug and play con triple protección, el TD-3700 también incorpora tecnología de conteo de fotones híbrido HPC y de eje hueco vertical, lo que lo convierte en un representante de la nueva generación de difractómetros de rayos X y uno de los mejores difractómetros policristalinos de rayos X del mundo.

No solo proporcionamos productos, sino que, como proveedor, prestamos más atención a la conveniencia, eficiencia, precisión y satisfacción que puede brindar al trabajo real de nuestros clientes. Este es nuestro compromiso que siempre hemos mantenido. Como el difractómetro de rayos X más avanzado de producción nacional, el TD-3500 ha beneficiado a organizaciones como universidades, instituciones de investigación y empresas industriales en la identificación y análisis de materiales, recibiendo grandes elogios. Esto también confirma nuestro compromiso con la satisfacción del cliente. Por supuesto, con el rápido ritmo de los tiempos y la competencia, para garantizar mayores expectativas de los clientes, mejoramos continuamente nuestra línea de productos. ¡Nuestro objetivo no es solo ser líderes a nivel nacional, sino también estar a la altura del mundo!

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organiza un evento de formación de equipos cada verano para centrarse en la supervivencia y el desarrollo de los empleados, implementar un cuidado humanista que cuide, aprecie y respete a las personas, y estimule la cohesión, el entusiasmo y la vitalidad de los empleados. Tongda Technology Company es un fabricante profesional de instrumentos de análisis de rayos X. La empresa cuenta actualmente con difractómetros de rayos X de la serie TD, difractómetros de rayos X de cristal único, difractómetros de rayos X de escritorio, analizadores de cristales de rayos X y otros productos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.

El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo o cuantitativo de fases de muestra, análisis de la estructura cristalina, determinación de la cristalinidad, etc. Se pueden instalar varios accesorios funcionales especiales y el software de control y aplicación correspondiente según las necesidades reales para formar un sistema de difracción con funciones especiales. El difractómetro de rayos X es un instrumento analítico de laboratorio con alta precisión.

Fundada en 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es una empresa nacional de alta tecnología con instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de pruebas no destructivas de rayos X como sus productos líderes.

Recientemente, el Ministerio de Ciencia y Tecnología anunció la lista del segundo lote de proyectos clave en el marco del Plan Nacional de Investigación y Desarrollo clave de 2023 "Condiciones de investigación científica básica e investigación y desarrollo de instrumentos y equipos científicos importantes".

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.